W przemyśle motoryzacyjnym tłoczki stosowane w zaworach elektromagnetycznych automatycznych skrzyń biegów muszą pasować do otworów z dokładnością rzędu kilku mikrometrów, aby zapobiec drganiom prowadzącym do zacinania się lub przekoszenia elementów.
Aby spełnić te bardzo ścisłe tolerancje, powłoka na tłoczkach musi być nakładana bardzo równomiernie, co wymaga dokładnej kontroli jakości.
W produkcji elementów dla przemysłu motoryzacyjnego i maszynowego konieczne jest zachowanie bardzo wąskich tolerancji, aby zapewnić prawidłowe działanie komponentów.
Dlatego coraz częściej stosuje się powłoki chemiczne, takie jak niklowanie bezprądowe (NiP), które umożliwiają bardzo równomierne nakładanie warstwy. Powłoka narasta bardziej jednorodnie i ma mniejsze różnice grubości niż powłoki galwaniczne, które mają tendencję do nadmiernego odkładania się na krawędziach i narożach.
W tym przykładzie stalowe tłoczki zaworów elektromagnetycznych są pokrywane warstwą NiP o grubości około 60–70 µm, zawierającą co najmniej 10% fosforu.
Następnie elementy są szlifowane do dokładnego wymiaru – końcowa grubość powłoki wynosi około 50 µm i musi mieścić się w tolerancji ±4 µm.
Powłoka ta jest niemagnetyczna i może być mierzona metodą indukcji magnetycznej przy użyciu miernika DUALSCOPE® DMP 40 oraz sondy D-F, zarówno podczas kontroli wejściowej, jak i po szlifowaniu.
| Próbka | Grubość powłoki | Odchylenie standardowe |
| Tłoczek przed szlifowaniem | 67 µm | Ø 3 µm* |
| Tłoczek po obróbce końcowej | 50 µm | Ø 0,3 µm* |
Kontrola zmienności systemu pomiarowego (powtarzane pomiary w jednym punkcie): 0,03 µm
* 10 pomiarów wykonanych w różnych punktach na próbce
Miernik DUALSCOPE® DMP 40 oraz sonda D-F są stosowane razem ze statywem V12 BASE, który umożliwia powtarzalne ustawienie sondy i zachowanie stałego kąta pomiaru.
Pozwala to ograniczyć wpływ operatora i uzyskać bardzo powtarzalne wyniki, co pokazano w tabeli 1: odchylenie standardowe pomiarów po szlifowaniu wynosi średnio tylko 0,3 µm, a zmienność całego systemu pomiarowego wynosi zaledwie 0,03 µm, co jest wartością pomijalną.
Dzięki temu system pomiarowy spełnia wymagania nawet dla bardzo wąskich tolerancji.
Miernik DUALSCOPE® DMP 40 w połączeniu z sondą D-F oraz statywem V12 BASE stanowi niezawodny system kontroli, który umożliwia precyzyjny i dokładny pomiar powłok NiP na elementach stalowych.
Pozwala to kontrolować jakość i dotrzymywać bardzo wąskich tolerancji, a tym samym unikać potencjalnie kosztownych reklamacji.