28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie CT phoenix datos|x
Phoenix datos|x to zaawansowane, intuicyjne oprogramowanie do zastosowania przy procesie tomografii komputerowej, służące do akwizycji i rekonstrukcji danych. Oprogramowanie zawiera różne moduły optymalizacji procesu skanowania i wykorzystuje zaawansowane algorytmy zapewniające szybką rekonstrukcję danych.
Minimalizuje czas pracy operatora i wpływ czynnika ludzkiego, zapewniając powtarzalne wyniki CT, gotowe do dalszej analizy uszkodzeń lub wymiarowania części.
Ten sam pakiet oprogramowania obsługuje szybkie skanowanie produkcyjne, w pełni zautomatyzowaną kontrolę partii oraz zadania metrologii CT, co upraszcza architekturę systemu i podnosi przepustowość.
phoenix datos|x automatyzuje akwizycję, rekonstrukcję i przetwarzanie objętościowe, tak aby cały proces CT mógł być realizowany jako powtarzalna sekwencja.
Operator nie musi nadzorować każdego etapu skanowania – system sam przechodzi przez kolejne kroki, od projekcji po gotową objętość 3D.
W trybie produkcyjnym cały proces skanowania i oceny można uruchomić jednym przyciskiem one-button|CT z intuicyjnego interfejsu.
Pozwala to korzystać z tomografii CT bez konieczności angażowania zaawansowanych specjalistów przy każdej serii – operator linii otrzymuje prostą procedurę start/stop.
datos|x monitoruje wydajność systemu CT zgodnie z wytycznymi ASTM E1695, rejestrując kluczowe parametry pracy tomografu.
Użytkownik ma możliwość śledzenia stabilności systemu w czasie, co jest istotne przy pracy w reżimie metrologicznym i audytach jakości.
Oprogramowanie współpracuje z opcjonalnym pakietem metrology|edition, umożliwiając wysokoprecyzyjne pomiary 3D zgodne z wytycznymi VDI 2630 dla metrologii CT.
Dzięki metrology|edition system CT może być wykorzystany nie tylko do analizy defektów, ale również do wymiarowania części i raportów FAI zgodnych z wymaganiami OEM.
phoenix datos|x oferuje przyspieszoną rekonstrukcję objętościową, nawet do kilkunastu razy szybszą w porównaniu z wcześniejszymi generacjami oprogramowania.
Krótki czas rekonstrukcji przekłada się bezpośrednio na większą liczbę detali skanowanych w jednostce czasu, co jest kluczowe przy zastosowaniach inline lub near-line.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz uniwersalnego systemu do skanowania lekkich metali oraz tworzyw sztucznych.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania małych próbek z najwyższą możliwą rozdzielczością.
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania dużych elementów lub wykonanych z gęstych materiałów.
