Oprogramowanie WinFTM do spektrometrów XRF FISCHER

• Nieniszcząca analiza złota i metali szlachetnych.
• Precyzyjny pomiar powłok złota i rodu.
• Szybkie wyniki (20–100 s) i intuicyjna obsługa.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.

• Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
• Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
• Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.

• Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
• Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.

• Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
• Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
• Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.

Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.

• Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
• Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
• Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.

• Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
• Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
• Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.

• Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
• Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
• Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Nieniszczące pomiary powłok jedno i wielowarstwowych.
• Szybkie pomiary również na dużych próbkach (5–30 s).
• Ręczny stolik XY – precyzyjny wybór miejsca pomiaru.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.

• Bardzo szybkie pomiary grubości powłok na małych detalach w elektronice.
• Możliwość analizowania struktur o wielkości od 20 μm.
• Zautomatyzowane pomiary dzięki programowalnemu stolikowi XY, zwiększona precyzja i efektywność.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.

• Dokładne pomiary powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).
• Pomiary powłok galwanicznych w tym wielowarstwowych.
• Programowalny stolik XY – wygoda i powtarzalność pomiarów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.

Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.