28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie WinFTM do spektrometrów XRF FISCHER
WinFTM to oprogramowanie do sterowania spektrometrami XRF FISCHERSCOPE i analizy wyników, przeznaczone do pomiaru grubości powłok oraz składu materiału, zarówno w trybie kalibracyjnym, jak i z wykorzystaniem metody parametrów fundamentalnych.
WinFTM jest przeznaczone do współpracy ze spektrometrami FISCHERSCOPE X-RAY, wykorzystywanymi w kontroli dostaw, kontroli międzyoperacyjnej oraz laboratoriach badawczych. W jednym środowisku obsługuje konfigurację pomiaru, akwizycję danych, analizę grubości powłok i składu, a także dokumentowanie wyników.
WinFTM umożliwia zautomatyzowane pomiary seryjne, z pełną kontrolą parametrów pomiarowych XRF, takich jak napięcie i natężenie lampy, filtry i kolimatory. Oprogramowanie rozpoznaje materiał podłoża, obsługuje pomiar przy kontrolowanej odległości DCM (Distance Controlled Measurement) oraz pozwala prowadzić pomiary grubości powłok i analizę składu w oparciu o kalibracje lub bezkalibracyjnie, także dla układów wielowarstwowych.
WinFTM umożliwia zautomatyzowane pomiary seryjne, sterując spektrometrem XRF według zdefiniowanych planów pomiarowych.
Przy seryjnej kontroli powłok operator nie musi każdorazowo ustawiać parametrów i punktów pomiarowych.
Oprogramowanie pozwala regulować napięcie i natężenie lampy, dobierać filtry i kolimatory oraz wykonywać pomiary przy kontrolowanej odległości DCM.
Masz pełną kontrolę nad warunkami pomiaru i możesz zoptymalizować ustawienia pod konkretne zadanie – cienkie powłoki, małe pola, duże elementy.
WinFTM oferuje rozbudowaną analizę statystyczną, w tym wykresy SPC, Cp/Cpk, histogramy i siatki prawdopodobieństwa.
Widzisz nie tylko pojedyncze wyniki, ale także trendy i rozrzuty procesu w czasie. Pozwala to szybko wychwycić dryf grubości powłoki lub zmianę składu, zanim przekroczą tolerancje.
WinFTM prowadzi dokumentację kalibracji, ustawień oraz metod pomiarowych, obsługując zarówno pomiary kalibracyjne, jak i w oparciu o parametry fundamentalne.
Masz pełną historię tego, jak były wykonywane pomiary – jakie wzorce, jaka metoda, jakie ustawienia instrumentu.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
