06 października , Gliwice
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie XRF z technologią AI FISIQ® X
Oferta
Systemy pomiarowe
Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
Oprogramowanie XRF z technologią AI FISIQ® X
FISIQ X to najnowsze oprogramowanie do pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej na spektrometrach XRF FISCHERSCOPE XDAL i XDV, oparte na nowym silniku algorytmicznym i technologii AI.
FISIQ X jest przeznaczone do zaawansowanej kontroli grubości powłok i analizy składu materiałowego na spektrometrach XRF FISCHERSCOPE XDAL i XDV, łącząc sterowanie urządzeniem z prowadzeniem operatora krok po kroku przez cały proces pomiaru.
Oprogramowanie wykorzystuje interfejs oparty na procesach – osobne ścieżki kalibracji, pomiaru, analizy i raportowania – dzięki czemu operator zawsze wie, jaki jest kolejny krok. Nowy silnik algorytmiczny zapewnia wysoką stabilność, dokładność i powtarzalność nawet przy złożonych zadaniach pomiarowych, jednocześnie znacząco skracając czas obliczeń.
FISIQ X korzysta z nowoczesnego interfejsu, w którym użytkownik przechodzi przez kolejne kroki procesu – kalibrację, pomiar, analizę i raportowanie – według jasno zdefiniowanego przebiegu.
Operator nie „szuka” funkcji po menu, tylko wykonuje kolejne kroki w logicznej kolejności.
FISIQ X korzysta z nowoczesnego interfejsu, w którym użytkownik przechodzi przez kolejne kroki procesu – kalibrację, pomiar, analizę i raportowanie – według jasno zdefiniowanego przebiegu.
Operator nie „szuka” funkcji po menu, tylko wykonuje kolejne kroki w logicznej kolejności.
Nowy silnik obliczeniowy FISIQ X zapewnia bardzo dobrą stabilność i powtarzalność przy jednoczesnym skróceniu czasu obliczeń nawet do 6× dla grubości powłok i 13× dla analiz materiałowych względem WinFTM 6 (dla typowych aplikacji referencyjnych).
Skraca się czas od wciśnięcia „Start” do gotowego wyniku, co szczególnie w seryjnej kontroli jakości przekłada się na realny wzrost przepustowości.
Nowy silnik obliczeniowy FISIQ X zapewnia bardzo dobrą stabilność i powtarzalność przy jednoczesnym skróceniu czasu obliczeń nawet do 6× dla grubości powłok i 13× dla analiz materiałowych względem WinFTM 6 (dla typowych aplikacji referencyjnych).
Skraca się czas od wciśnięcia „Start” do gotowego wyniku, co szczególnie w seryjnej kontroli jakości przekłada się na realny wzrost przepustowości.
AI-wspierany tryb widma pozwala wygodnie analizować i porównywać widma oraz wykonywać szybką analizę wsadową wielu próbek.
Przy złożonych stopach lub analizie śladowej nie trzeba ręcznie „przeglądać” widm w poszukiwaniu różnic – oprogramowanie pomaga wskazać istotne elementy i różnice między próbkami.
AI-wspierany tryb widma pozwala wygodnie analizować i porównywać widma oraz wykonywać szybką analizę wsadową wielu próbek.
Przy złożonych stopach lub analizie śladowej nie trzeba ręcznie „przeglądać” widm w poszukiwaniu różnic – oprogramowanie pomaga wskazać istotne elementy i różnice między próbkami.
FISIQ X oferuje prosty, prowadzony proces kalibracji oraz bibliotekę wzorców i kalibracji opartą o certyfikowane standardy FISCHER.
Kalibracje nie są „tajemną wiedzą” pojedynczej osoby – procedura jest jasno opisana w oprogramowaniu, a użyte wzorce są rejestrowane i łatwe do odtworzenia.
FISIQ X oferuje prosty, prowadzony proces kalibracji oraz bibliotekę wzorców i kalibracji opartą o certyfikowane standardy FISCHER.
Kalibracje nie są „tajemną wiedzą” pojedynczej osoby – procedura jest jasno opisana w oprogramowaniu, a użyte wzorce są rejestrowane i łatwe do odtworzenia.
Proces raportowania pozwala w kilku krokach wybrać wyniki, dobrać szablon raportu i automatycznie wygenerować plik PDF.
Nie trzeba ręcznie przenosić danych do arkusza czy edytora – raport powstaje bezpośrednio w FISIQ X według wcześniej przygotowanych szablonów.
Proces raportowania pozwala w kilku krokach wybrać wyniki, dobrać szablon raportu i automatycznie wygenerować plik PDF.
Nie trzeba ręcznie przenosić danych do arkusza czy edytora – raport powstaje bezpośrednio w FISIQ X według wcześniej przygotowanych szablonów.
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.
Zapytaj o produkt
