WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
search
koszyk
koszyk
search
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Oprogramowanie kontrolno-pomiarowe
  5. > Oprogramowanie XRF z technologią AI FISIQ® X

Dedykowane oprogramowanie FISIQ X

FISIQ X jest przeznaczone do zaawansowanej kontroli grubości powłok i analizy składu materiałowego na spektrometrach XRF FISCHERSCOPE XDAL i XDV, łącząc sterowanie urządzeniem z prowadzeniem operatora krok po kroku przez cały proces pomiaru.

Dostajesz jedno, spójne środowisko do pracy – od kalibracji przez pomiar i ocenę wyników aż po raport PDF – które wspiera zarówno doświadczonych użytkowników, jak i osoby zaczynające pracę z XRF.
Dostajesz jedno, spójne środowisko do pracy – od kalibracji przez pomiar i ocenę wyników aż po raport PDF – które wspiera zarówno doświadczonych użytkowników, jak i osoby zaczynające pracę z XRF.
Cały proces XRF – od przygotowania wzorców po gotowy raport – jest uporządkowany i częściowo zautomatyzowany, więc mniej zależy od indywidualnych nawyków operatora.

Możliwości FISIQ X

Oprogramowanie wykorzystuje interfejs oparty na procesach – osobne ścieżki kalibracji, pomiaru, analizy i raportowania – dzięki czemu operator zawsze wie, jaki jest kolejny krok. Nowy silnik algorytmiczny zapewnia wysoką stabilność, dokładność i powtarzalność nawet przy złożonych zadaniach pomiarowych, jednocześnie znacząco skracając czas obliczeń.

Cały proces XRF – od przygotowania wzorców po gotowy raport – jest uporządkowany i częściowo zautomatyzowany, więc mniej zależy od indywidualnych nawyków operatora.

Najważniejsze funkcje:

  • Pierwsze oprogramowanie XRF z technologią AI, zaprojektowane specjalnie do pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej.
  • Nowoczesny interfejs użytkownika z centralnie wyświetlanymi najważniejszymi funkcjami i informacjami.
  • „Smart workflows” procesy prowadzące przez kolejne etapy pracy: kalibrację, pomiar, analizę wyników i raportowanie.
  • Ulepszony silnik algorytmiczny zapewniający bardzo dobrą stabilność, dokładność i powtarzalność także przy trudnych zadaniach.
  • Znacznie szybsze obliczenia – do ok. 6× krótszy czas dla pomiaru grubości powłok i do ok. 13× dla analiz materiałowych w porównaniu z WinFTM 6 (dane dla przykładowych aplikacji Au/Pd/Ni/CuFe oraz warstwa złota z 9 pierwiastkami).
  • Tryb widma wspierany przez AI, umożliwiający wygodną analizę i porównanie widm oraz szybką analizę wsadową próbek.
  • Prowadzony, prosty przebieg kalibracji oraz biblioteka wzorców ułatwiająca zarządzanie wzorcami kalibracyjnymi FISCHER z certyfikatami DAkkS.
  • Śledzalne wyniki pomiarów dzięki jasnej procedurze kalibracji i dokumentowaniu użytych wzorców.
  • Programy pomiarowe, które prowadzą mniej doświadczonych użytkowników przez proces pomiaru i redukują wpływ operatora na wynik.
  • Dostępność dla urządzeń FISCHERSCOPE XDAL i XDV, z możliwością wykorzystania pełnego potencjału nowych generacji tych spektrometrów.

Możliwości

  • Interfejs oparty na workflow

    FISIQ X korzysta z nowoczesnego interfejsu, w którym użytkownik przechodzi przez kolejne kroki procesu – kalibrację, pomiar, analizę i raportowanie – według jasno zdefiniowanego przebiegu.

    Operator nie „szuka” funkcji po menu, tylko wykonuje kolejne kroki w logicznej kolejności.

    Szczegóły
  • Szybsze obliczenia i stabilny silnik algorytmiczny

    Nowy silnik obliczeniowy FISIQ X zapewnia bardzo dobrą stabilność i powtarzalność przy jednoczesnym skróceniu czasu obliczeń nawet do 6× dla grubości powłok i 13× dla analiz materiałowych względem WinFTM 6 (dla typowych aplikacji referencyjnych).

    Skraca się czas od wciśnięcia „Start” do gotowego wyniku, co szczególnie w seryjnej kontroli jakości przekłada się na realny wzrost przepustowości.

    Szczegóły
  • Tryb widma wspierany przez AI

    AI-wspierany tryb widma pozwala wygodnie analizować i porównywać widma oraz wykonywać szybką analizę wsadową wielu próbek.

    Przy złożonych stopach lub analizie śladowej nie trzeba ręcznie „przeglądać” widm w poszukiwaniu różnic – oprogramowanie pomaga wskazać istotne elementy i różnice między próbkami.

    Szczegóły
  • Prowadzony proces kalibracji i biblioteka wzorców

    FISIQ X oferuje prosty, prowadzony proces kalibracji oraz bibliotekę wzorców i kalibracji opartą o certyfikowane standardy FISCHER.

    Kalibracje nie są „tajemną wiedzą” pojedynczej osoby – procedura jest jasno opisana w oprogramowaniu, a użyte wzorce są rejestrowane i łatwe do odtworzenia.

    Szczegóły
  • Raportowanie jednym kliknięciem

    Proces raportowania pozwala w kilku krokach wybrać wyniki, dobrać szablon raportu i automatycznie wygenerować plik PDF.

    Nie trzeba ręcznie przenosić danych do arkusza czy edytora – raport powstaje bezpośrednio w FISIQ X według wcześniej przygotowanych szablonów.

    Szczegóły

Formularz oprogramowanie

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.