Helmut Fischer

• Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
• Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami i wyświetlaczem chronionym przez Gorilla Glass.
• Mierniki posiadają komunikację USB, Bluetooth, pamięć 2500 kalibracji oraz sygnalizację wibracyjną i świetlną.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach.

• Jeden pomiar, dwa wyniki: grubość lakieru i cynku liczona równocześnie i pokazywana osobno na ekranie.
• Trzy metody w jednym przyrządzie ISO 2178, ISO 2360, ISO 21968.
  
• Automatyczne rozpoznawanie podłoża.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz w jednym pomiarze mieć grubość cynku oraz farby.

• Ekonomiczny miernik do profesjonalnych pomiarów grubości powłok.
• Zintegrowana sonda pozwalają na łatwą obsługę jedną ręką w warunkach przemysłowych.
• Sprawdzona, wytrzymała konstrukcja do wieloletniej pracy w terenie i warunkach produkcyjnych.

• Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i materiału podłoża.
• Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami oraz wyświetlacz chroniony przez Gorilla Glass.
• Interfejs USB do przesyłania danych do komputera oraz współpraca z oprogramowaniem FISCHER TactileSuite.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na powtarzalnych seriach wyrobów.

• Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
• Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i wykrywanie materiału podłoża.
• Intuicyjny dotykowy wyświetlacz i menu znane z systemu Windows.
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach.

• Kompaktowy i elastyczny system pomiarowy z możliwością archiwizacji i analizy danych.
• Intuicyjna obsługa z dużym dotykowym wyświetlaczem LCD i systemem Windows CE.
• Możliwość pomiarów wielokanałowych i zastosowanie różnych metod pomiarowych.
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz jednoczesnego pomiaru z wielu sond.

• Precyzyjne pomiary grubości powłok metodą prądów wirowych zgodnie z normą ISO 21968.
• Możliwość pomiarów na małych detalach i powierzchniach chropowatych, dzięki specjalnie zaprojektowanym sondom.
• Powłoki z cynku, miedzi, aluminium, niklu galwanicznego na stali i żeliwie.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów trudnych aplikacji w których inne metody zawodzą.

• Metoda kulometryczna zgodna z normą DIN EN ISO 2177.
• Możliwość pomiaru powłok metalicznych na różnych podłożach, w tym powłok wielowarstwowych.
• Duży wyświetlacz graficzny LCD ułatwiający obsługę i odczyt wyników.

Kiedy wybrać:
Gdy dopuszczasz możliwość uszkodzenia próbki podczas grubości powłoki.

• Możliwość jednoczesnego pomiaru przez cztery sondy.
• Zdalne sterowanie jednostką pomiarową i komunikacja przez RS-232, PROFIBUS lub PROFINET.
• Obsługa różnych metod pomiaru grubości powłok.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzować pomiar grubości powłok.

• Technologia terahertz umożliwiająca jednoczesny pomiar do 7 warstw.
• Precyzyjny pomiar bezstykowy z błędem < 1μm.
• Wbudowany skaner 3D zapewniający dokładne pozycjonowanie i szybki pomiar w kilka sekund.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzowanych pomiarów wielowarstwowych grubości powłok.

• Pomiary zawartości ferrytu zgodnie z normą ISO 17655 oraz “Basler Standard”.
• Zakresy pomiarowe od 0,1 do 80% Fe lub 0,1 do 120 FN.
• Nowoczesne oprogramowanie FISIQ® T oraz interfejs USB i Bluetooth do przesyłania danych.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy zawartości ferrytu w spoinach.

• Szybkie i proste pomiary przewodności stopów metali niemagnetycznych zgodnie z normami DIN EN 2004-1 i ASTM E 1004.
• Automatyczna temperaturowa kompensacja przewodności dzięki zintegrowanemu czujnikowi temperatury.
• Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą do 0,5 mm grubości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz badać konduktywność aluminium, stopów miedzi i innych metali kolorowych.

• Dokładne pomiary powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).
• Pomiary powłok galwanicznych w tym wielowarstwowych.
• Programowalny stolik XY – wygoda i powtarzalność pomiarów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.

Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
• Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
• Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.

Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.

• Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
• Badanie składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.

• Nieniszczące pomiary powłok jedno i wielowarstwowych.
• Szybkie pomiary również na dużych próbkach (5–30 s).
• Ręczny stolik XY – precyzyjny wybór miejsca pomiaru.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.

• Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
• Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
• Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.

• Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
• Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
• Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.

• Bardzo szybkie pomiary grubości powłok na małych detalach w elektronice.
• Możliwość analizowania struktur o wielkości od 20 μm.
• Zautomatyzowane pomiary dzięki programowalnemu stolikowi XY, zwiększona precyzja i efektywność.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.

• Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
• Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.

• Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
• Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
• Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.

• Nieniszcząca analiza złota i metali szlachetnych.
• Precyzyjny pomiar powłok złota i rodu.
• Szybkie wyniki (20–100 s) i intuicyjna obsługa.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.

• Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
• Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
• Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Stały kolimator i nieruchomy stolik pomiarowy.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Przeznaczony do analizy kąpieli galwanicznych metodą XRF.
• Zawiera dwa zbiorniczki z ekranem molibdenowym.
• W zestawie rolka folii okrywającej o długości 15 m.

• Przeznaczony do analizy kąpieli galwanicznych metodą XRF.
• Wyposażony w zewnętrzny ekran molibdenowy.
• Umożliwia pomiar zarówno od góry, jak i od dołu.

• Kompatybilna ze wszystkimi analizatorami rentgenowskimi firmy Fischer.
• Przeznaczona do zastosowań w analizie XRF.
• Długość rolki: 15 metrów.

• Umożliwiają precyzyjną kalibrację mierników przed każdym pomiarem.
• Stosowane w różnych środowiskach: laboratoriach, produkcji i galwanizerniach.
• Szeroki wybór materiałów, grubości i rozmiarów do różnych metod pomiarowych.

• Oprogramowanie do sterowania spektrometrami FISCHERSCOPE X-RAY i analizy wyników pomiarów XRF
• Automatyzacja pomiarów seryjnych, regulacja parametrów XRF, pomiar DCM i rozbudowana statystyka SPC z Cp/Cpk
• Konfigurowalne raporty, dokumentacja kalibracji i obsługa metod kalibracyjnych oraz parametrów fundamentalnych

Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania.

• Oprogramowanie PC do zarządzania danymi z mierników FISCHER, raportowania i archiwizacji pomiarów
• Zaawansowana statystyka procesu oraz wykresy (granice tolerancji, histogram, siatka prawdopodobieństwa, FDD)
• Tworzenie planów inspekcyjnych i eksport wyników do Excela przy polskojęzycznym interfejsie

Kiedy wybrać:
Gdy chcesz standaryzować raportowanie i analizę statystyczną wyników z mierników FISCHER w całej organizacji.

• Oprogramowanie PC dedykowane do mierników FISCHER serii DMP, dostarczane bezpłatnie z urządzeniami
• Automatyczna synchronizacja, backup i praca offline na danych pomiarowych
• Tworzenie raportów i eksport wyników do CSV, TXT, Excela i PDF

Kiedy wybrać:
Gdy używasz mierników FISCHER DMP i potrzebujesz prostego narzędzia do archiwizacji, analizy i raportowania.

• Nowej generacji oprogramowanie XRF z technologią AI, dedykowane spektrometrom FISCHERSCOPE XDAL i XDV
• Interfejs oparty na workflow z prowadzeniem użytkownika przez kalibrację, pomiar, analizę i raportowanie
• Ulepszony silnik obliczeniowy, szybsze analizy oraz tryb widma z obsługą AI do wygodnej pracy na widmach i seriach próbek

Kiedy wybrać:
Gdy korzystasz z serii XDAL lub XDV i chcesz uprościć obsługę XRF, zwiększając szybkość i powtarzalność pomiarów.