JENOPTIK

• Wysoka dokładność pomiarów optycznych – szybki pomiar średnic, długości i gwintów.
• Zakres do 1200 mm długości i 230 mm średnicy – idealne dla małych i średnich wałków.
• Pomiary statyczne i dynamiczne – bicie, walcowość, współosiowość.

Kiedy wybrać:
Gdy mierzysz wałki toczone i szlifowane o długości do 1200 mm i średnicy do 230 mm.

• Kompaktowa konstrukcja – szybka kontrola elementów toczonych na produkcji.
• Dokładność dopasowana do typowych zastosowań warsztatowych.
• Stworzony do pracy w środowisku produkcyjnym. 

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania do pomiaru wałków toczonych o mniejszych wymiarach.

• Obsługa elementów o masie do 120 kg, długości do 1300 mm i średnicy do 320 mm.
• Optyczny system pomiarowy z kompensacją temperaturową.
• Szybki i kompleksowy pomiar – statyczny i dynamiczny, nawet w przypadku bardzo dużych elementów.

Kiedy wybrać:
Gdy kontrolujesz duże i ciężkie wałki wymagające precyzyjnej metrologii w środowisku produkcyjnym.

• Przemysłowy komputer dedykowany do zastosowań w automatycznych stacjach pomiarowych
• Aluminiowa obudowa z chłodzeniem pasywnym zapewnia stabilną pracę w trudnych warunkach produkcyjnych.
• Pełna komunikacja po PLC z systemami zewnętrznymi

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz przemysłowego terminala pomiarowego do pracy w trudnych warunkach.

• Rozwiązania „szyte na miarę” względem wymagań użytkownika
• Stacje pomiarowe manualne, półautomatyczne oraz automatyczne
• Rozwiązania dla każdej branży (automotive, lotnictwo itd.)

Kiedy wybrać:
Gdy standardowe przyrządy nie wystarczają i potrzebne jest dedykowane rozwiązanie.

• Skanowanie wszelkiego rodzaju obiektów w zakresie od kilku do kilkuset milimetrów
• Skanowanie bez konieczności stosowania punktów referencyjnych
• Zautomatyzowana akwizycja danych oraz inspekcja wymiarowa
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz automatycznej kontroli jakości w seryjnej produkcji części o skomplikowanej geometrii i niewielkich wymiarach.

• Oprogramowanie do optycznej kontroli powierzchni dla wszystkich systemów IPS, z jednolitym interfejsem
• Pełna analiza powierzchni i wad z wykorzystaniem zaawansowanych algorytmów i stref kontrolnych
• Zastosowanie w systemach manualnych i automatycznych oraz integracja z systemem kontroli procesu

Kiedy wybrać:
Gdy chcesz zautomatyzować kontrolę powierzchni w systemach IPS i oceniać wady z jednego, spójnego środowiska.

• Oprogramowanie do obsługi przenośnych przyrządów chropowatości Waveline w trybie on-line i off-line
• Obsługa pełnego zestawu parametrów chropowatości, falistości i profilu pierwotnego zgodnie z ISO 21920 oraz innymi normami międzynarodowymi
• Tworzenie planów pomiaru, raportowanie, archiwizacja oraz opcjonalny eksport danych do qs-STAT i analiza falistości wg VDA 2007

Kiedy wybrać:
Gdy używasz przenośnych przyrządów Waveline i chcesz wygodnie sterować pomiarem oraz analizować profile.

• Graficzne oprogramowanie do pomiaru kształtu z prostym programowaniem CNC i trybem teach-in
• Automatyczne bazowanie detalu, analiza profilu z Fouriera i widoki 3D zgodne z normami
• Wygodne zarządzanie planami pomiarów i automatyczne raporty, także w języku polskim

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzować pomiary kształtu na systemach Formline i ujednolicić ocenę wyników.

• Intuicyjne oprogramowanie sterujące dla systemów Opticline z kreatorami planów pomiarowych i obsługą „drag & drop” na konturze detalu
• Pełna analiza cech geometrycznych wałków i odchyłek kształtu/położenia z szybką wizualizacją wyników w czasie rzeczywistym
• Elastyczne raportowanie oraz integracja z korekcją procesu obróbki i systemami jakości

Kiedy wybrać:
Do systemów Opticline i potrzebujesz oprogramowania umożliwiającego tworzenie planów.

• Oprogramowanie Windows zoptymalizowane do pomiarów wałów korbowych i rozrządu
• Szybki kreator planów pomiarowych i automatyczne generowanie programów CNC
• Przejrzysta ocena wyników i powielanie charakterystyk przy tworzeniu programów

Kiedy wybrać:
Gdy mierzysz wały korbowe lub rozrządu i chcesz skrócić czas przygotowania oraz ujednolicić ocenę wyników.

• Oprogramowanie do pomiaru chropowatości i konturu z ujednoliconym interfejsem i interaktywną analizą profilu
• Ponad 100 parametrów P, R i W zgodnych z DIN/ISO/JIS oraz obsługa nowej normy ISO 21920
• Praca w środowisku Windows z polskim interfejsem oraz komunikacją z Wordem i Excelem

Kiedy wybrać:
Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty.