Dyfraktometry rentgenowskie XRD to nieniszczące systemy do badania materiałów krystalicznych. Umożliwiają identyfikację i ilościowe oznaczanie faz w proszkach i litych próbkach, pomiar naprężeń resztkowych metodą dyfrakcyjną, oznaczanie austenitu szczątkowego w stalach, ocenę krystaliczności i wielkości krystalitów, analizę tekstury oraz badania cienkich warstw w technikach XRR, GIXRD i HRXRD. Oferujemy konfiguracje proszkowe do pracy rutynowej oraz platformy modułowe łączące proszek i thin film. Dobieramy źródła Cu Co lub Cr, geometrię Bragg Brentano lub wiązkę równoległą, detektory 1D lub 2D, stoliki i przystawki do temperatury i wilgotności. Dostępna jest automatyzacja podawania próbek i integracja z LIMS. Rozwiązania sprawdzają się w hutnictwie i obróbce cieplnej, lotnictwie i motoryzacji, farmacji, budownictwie, polimerach oraz przy kontroli powłok PVD i CVD. Zapewniamy dobór konfiguracji, instalację, szkolenia i wsparcie w analizie Rietvelda.
Pomagamy w doborze układu, uruchamiamy sprzęt i szkolimy z analizy danych Rietvelda i metod ilościowych. Oferujemy serwis w Polsce oraz zdalne wsparcie aplikacyjne.