06 października , Gliwice
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Dyfraktometry rentgenowskie XRD, analiza faz i naprężeń
Wysokorozdzielczy dyfraktometr XRD - Explorer GNR
Oferta
Systemy pomiarowe
Dyfraktometry rentgenowskie XRD, analiza faz i naprężeń
Wysokorozdzielczy dyfraktometr XRD - Explorer GNR
Zapytaj o ofertę
Wielofunkcyjny dyfraktometr o wysokiej rozdzielczości, który dzięki modułowej konstrukcji i wielu opcjach konfiguracyjnych, oferuje wręcz nieograniczoną ilość aplikacji. Użytkownik z łatwością może przełączać się pomiędzy różnymi geometriami bez czasochłonnego dostrajania. Możliwe jest stosowanie detektorów różnego typu, również SDD do badań EDXRF oraz TXRF, opcjonalna komora termiczna umożliwia badanie w szerokim zakresie temperatur a zmieniarki próbek umożliwiają automatyzację pracy.
Bezprzekładniowe silniki momentowe sterowane enkoderami zapewniają ultra-precyzyjne pozycjonowanie i stabilność przez cały okres eksploatacji instrumentu. Deklarowana dokładność kątowa układu sięga ±0,01° w całym zakresie 2θ, a&
Liniowe detektory DECTRIS 1D (HPC) oferują bezszumowy pomiar, wysoką intensywność i rejestrację szerokiego zakresu kątowego „w minutach zamiast godzin”, a SDD zapewniają czułą spektrometrię (EDXRF/TXRF). Detektory DECTRIS mogą pracow
Jeden instrument obsługuje wiele aplikacji – ułatwia planowanie i ogranicza liczbę urządzeń.
Przyspiesza raportowanie wyników – skraca czas pracy.
Zmniejsza ryzyko błędów i przestojów – ułatwia codzienną pracę.
Broszura produktowa
Od identyfikacji i ilościowego oznaczania faz (XRPD), przez obliczenia krystaliczności i mikroodkształceń, po analizę naprężeń, tekstury oraz cienkich warstw (XRR, GID). Dostępne są także badania nie-ambientowe i monitorowanie przemian fazowych.
Tak - dzięki modułowości i Plug&Scan przełączanie optyki odbywa się szybko i bez dodatkowej rekalibracji.
System współpracuje z DECTRIS 1D (HPC) oraz SDD; DECTRIS oferuje bezszumowe, szybkie pomiary szerokiego zakresu kątowego, SDD – wysokorozdzielczą spektrometrię XRF (EDXRF/TXRF).
Goniometr w geometrii Theta/Theta napędzają bezpośrednie silniki momentowe z enkoderami optycznymi, zapewniając dokładność ±0,01° i minimalny krok 0,0001°.
Tak, konfiguracja XRR pozwala charakteryzować warstwy 1–200 nm z dokładnością do ±1%, a GID poprawia stosunek sygnału warstwa/podłoże.
Dostępne są komory temperatury/higrometrii i atmosfery (od –190°C do 2300°C w zależności od zestawu) oraz geometrie odbiciowe i transmisyjne, z automatyczną kompensacją wysokości próbki.
Obudowa promieniowania z podwójnymi obwodami bezpieczeństwa, blokadą drzwi i poziomem promieniowania poniżej 1 mSv/rok chroni operatora podczas pracy.
Tak – modułowa architektura pozwala zacząć od konfiguracji podstawowej i rozbudowywać ją w czasie o kolejne akcesoria, stoliki i detektory.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
