28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
Miernik grubości powłok - COULOSCOPE CMS2 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy dopuszczasz możliwość uszkodzenia próbki podczas grubości powłoki.
Zapytaj o ofertę
COULOSCOPE® CMS2 oraz CMS2 STEP to urządzenia korzystające z metody kulometrycznej (DIN EN ISO 2177) do precyzyjnego pomiaru grubości metalicznych powłok, również wielowarstwowych. Systemy są szczególnie przydatne w kontroli jakości oraz produkcji powłok galwanicznych. Urządzenie oferuje ponad 100 gotowych aplikacji pomiarowych i różne prędkości rozpuszczania, co pozwala dostosować proces do rodzaju powłoki.
Dzięki bezpośredniej metodzie elektrochemicznej użytkownik otrzymuje wiarygodne, referencyjne wyniki niezależne od kształtu elementu czy wpływu innych powłok. To ułatwia utrzymanie stabilnej jakości produkcji i szybkie wykrywanie odchyleń.
Metoda polega na roztwarzaniu powłoki przy kontrolowanym przepływie prądu na znanej powierzchni. Pozwala to na jednoznaczne określenie grubości warstw. System obsługuje także powłoki wielowarstwowe i skomplikowane układy galwaniczne, takie jak Cr/Ni/Cu. Użytkownik otrzymuje wynik, który może być traktowany jako wartość referencyjna.
Wersja STEP umożliwia jednoczesny pomiar grubości i potencjałów pomiędzy powłokami niklu (np. Ni wysokofosforowy, półbłyszczący, błyszczący). Dzięki temu możliwa jest ocena jakości i zgodności procesu, nie tylko samej grubości. Lepsza kontrola nad procesami niklowania i szybkie wykrywanie błędów w strukturze powłok.
Urządzenie posiada ok. 100 wbudowanych aplikacji pomiarowych dla najpopularniejszych powłok, m.in. Ni, Cr, Cu, Zn oraz kombinacji wielowarstwowych. Szybkie uruchomienie pomiarów bez konieczności tworzenia aplikacji od zera.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz standaryzować raportowanie i analizę statystyczną wyników z mierników FISCHER w całej organizacji.
Urządzenia są przeznaczone do pomiaru grubości metalicznych powłok, głównie w procesach galwanicznych. CMS2 STEP znajduje zastosowanie tam, gdzie trzeba ocenić strukturę wielowarstwowego układu powłok niklowych.
Tak – proces polega na kontrolowanym rozpuszczeniu powłoki na niewielkiej powierzchni. Miejsce pomiarowe jest małe, dlatego w większości procesów nie wpływa to na dalsze wykorzystanie detalu.
COULOSCOPE jest rozwiązaniem preferowanym przy pomiarze grubych powłok Ni/Cu (>35 µm) oraz układów w których obecność innych warstw uniemożliwia pomiar XRF
Jest też często używany jako metoda referencyjna do kalibracji aplikacji XRF.
System mierzy między innymi: Ni, Cu, Cr, Zn, Ag oraz kombinacje wielowarstwowe, w tym charakterystyczne układy przemysłowe jak Cr/Ni/Cu/ABS. Można pracować na różnych podłożach, również niemetalicznych.
Nie. System ma wbudowane aplikacje, automatyczne podpowiedzi i intuicyjne menu. Operator może szybko rozpocząć pomiar, a bardziej zaawansowane funkcje są dostępne w miarę potrzeby.
Broszura informacyjna COULOSCOPE CMS2 STEP
Badnie grubości cyny na płytkach PCB
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzować pomiar grubości powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
