PHASCOPE®PMP10

Zaawansowany miernik grubości powłok

Producent: HELMUT FISCHER

Przenośny PHASCOPE® PMP10 został zaprojektowany z myślą o przemyśle galwanicznym i elektronicznym (produkcja płytek PCB). W urządzeniu zastosowano metodę fazo-czułą prądów wirowych (ISO 21 968), umożliwiając tym samym pomiary powłok metalicznych na różnych podłożach. Ponadto specjalnie zaprojektowane sondy umożliwiają pomiary grubości powłok miedzianych w otworach płytek PCB, pomiar niklu na stali czy grubości powłoki cynkowej na elementach o dużej chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

Zaawansowany miernik grubości powłok PHASCOPE®PMP10

+ 03

Opis produktu

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja zdalna

Ręczne urządzenie do niszczących pomiarów grubości powłok przewodzących prąd na różncyh podłożach, również na małych detalach i powierzchniach chropowatych. Przenośny PHASCOPE® PMP10 został zaprojektowany z myślą o przemyśle galwanicznym i elektronicznym (produkcja płytek PCB). W urządzeniu zastosowano metodę fazo-czułą prądów wirowych (ISO 21 968), umożliwiając tym samym pomiary powłok metalicznych na różnych podłożach. Ponadto specjalnie zaprojektowane sondy umożliwiają pomiary grubości powłok miedzianych w otworach płytek PCB, pomiar niklu na stali czy grubości powłoki cynkowej na elementach o dużej chropowatości.

Cechy produktu:

ręczne urządzenie do szybkich i precyzyjnych pomiarów grubości powłok zgodnie z fazoczułą metodą prądów wirowych DIN EN 21968
interfejs do przesyłania danych do komputera
wyświetlanie danych statystycznych takich jak wartość średnia, odchylenie standardowe, min, max, zakres
pamięć dla 100 aplikacji pomiarowych z możliwością podziału na bloki
współpraca z oprogramowaniem FISCHER DataCenter
zasilanie akumulatorowe

Zastosowania:

powłoki z cynku, miedzi, aluminium na stali i żeliwie (sonda ESD20Zn - chropowate powierzchnie)
powłoki cynkowe na małych stalowych detalach (sonda ESD2.4 - pomiary na małych powierzchniach)
powłoki z niklu galwanicznego na stali i żeliwie (sonda ESD20Ni, 60 KHz lub 240 kHz)

pomiar-grubosci-cynku-na-wkretach-phascopepmp

pomiar-grubosci-miedzi-w-otworach-plytek

Oprogramowanie

Oprogramowanie FISCHER DataCenter

Oprogramowanie przeznaczone do wszystkich mierników firmy FISCHER wyposażonych w port komunikacyjny. Rozszerza ono znacząco możliwości urządzeń o dodatkowe funkcje raportowania i archiwizacji danych pomiarowych. Oprogramowanie dostarczane bezpłatnie wraz z urządzeniami firmy FISCHER.

Szczegóły

Specyfikacja

Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Ni, ESD20Zn, ESD2.4

Sonda:

Aplikacja:

grubość powłoki niklu galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą

grubość powłoki cynku galwanicznego na stali, nawet przez powłokę lakierniczą

pomiar grubości cynku na małych powierzchniach

Częstotliwość:

60 kHz I 240 kHz

240 kHz

1,25 MHz

Zakres pomiarowy:

2-100 μm I 1-50 μm

2-200 μm

1-150 μm

Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą:

do 200 μm

do 400 μm

do 250 μm

Rodzaje sond pomiarowych: ESD20Cu, ESL080B, ESL080V

Sonda:

Aplikacja:

grubość powłoki miedzianej na powierzchni płytek PCB, nawet pod powłoką lakierniczą

grubość powłoki miedzianej w otworach płytek obwodów drukowanych. Odpowiednie dla otworów o średnicy od 0,8 do 2 mm i grubości płytki od 0,5 do 8 mm. Dla sondy ESL080V dostępne pierścienie regulujące głębokość pomiaru

Częstotliwość:

60 kHz I 240 kHz

240 kHz

Zakres pomiarowy:

do 270 μm I do 100 μm

2-100 μm

Pomiar przez powłokę nieprzewodzącą:

do 300 μm

do 200 μm

do 400 μm

Do pobrania

Broszura informacyjna PHASCOPE PMP10 Pobierz

Pomiar grubości miedzi w otworach płytek PCB Pobierz

Cynkowane elementy złączne Pobierz

Pomiar grubośći powłoki z natryskiwanego termicznie aluminium TSA Pobierz

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Główny kucharz • 2025-04-12

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Specjalista ds. Rozwoju • 2025-04-23

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Joanna Doe

Apple • 2025-04-14

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Martyna Mniszek

Google • 2025-04-29