WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
search
koszyk
koszyk
search
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Mierniki grubości powłok
  5. > TERASCOPE® – automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej w technologii terahercowej

TERASCOPE®– automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej

  • Technologia terahertz umożliwiająca jednoczesny pomiar do 7 warstw.
  • Precyzyjny pomiar bezstykowy z błędem < 1μm.
  • Wbudowany skaner 3D zapewniający dokładne pozycjonowanie i szybki pomiar w kilka sekund.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zautomatyzowanych pomiarów wielowarstwowych grubości powłok.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży

Jesteś zainteresowany produktem?

TERASCOPE® – automatyczny system pomiaru grubości powłok i analizy materiałowej w technologii terahercowej

Opis

TERASCOPE® to przemysłowy system pomiarowy wykorzystujący fale terahercowe do bezkontaktowego i nieniszczącego pomiaru grubości organicznych powłok wielowarstwowych oraz analizy właściwości materiałów. Dzięki wysokiej przepustowości do 6 THz i unikalnej technologii Clean-Trace zapewnia stabilne, powtarzalne wyniki nawet w wymagających warunkach produkcyjnych. System integruje się z liniami automatyki i pracuje w trybie inline lub offline.

Dzięki szybkim pomiarom i dużej precyzji TERASCOPE® pozwala ograniczyć błędy jakościowe, zmniejszyć zużycie materiałów i skrócić czas kontroli. Zyskujesz pełną kontrolę nad procesem i wiarygodne dane niezbędne do optymalizacji produkcji.

Technologia

  • Terahertz Measurement Technology

    Impulsy fal terahercowych przenikają przez powłoki, odbijając się na ich granicach. Na tej podstawie TERASCOPE® tworzy widmo, z którego określa grubość każdej warstwy. Metoda jest całkowicie bezkontaktowa i nie wymaga przygotowania powierzchni. Dokładny pomiar nawet złożonych, wielowarstwowych systemów bez ingerencji w materiał.

  • Clean-Trace®

    Patented Clean-Trace utrzymuje stałe warunki pomiaru poprzez ciągłe przepłukiwanie głowicy suchym, oczyszczonym powietrzem. Minimalizuje to wpływ wilgoci i cząstek, które mogłyby zaburzać odbiór fal terahercowych. Pewne, powtarzalne wyniki w środowisku produkcyjnym.

  • FISIQ® Z – oprogramowanie analityczne

    FISIQ® Z przetwarza sygnał terahercowy w czasie rzeczywistym, wizualizując grubości warstw i kluczowe parametry materiałowe. Zapewnia i integrację z PLC przez TCP/IP lub PROFINET. Łatwe monitorowanie procesu i szybkie wykrywanie odchyleń jakościowych.

  • 3D Scanner

    Zintegrowany skaner 3D umożliwia precyzyjne pozycjonowanie głowicy względem krzywizn i złożonych kształtów. System na bieżąco analizuje geometrię elementu i koryguje ustawienie podczas pomiaru. Korzyść: Wiarygodne wyniki również na elementach zakrzywionych i nieregularnych.

Zautomatyzowany pomiar wielowarstwowych powłok z użyciem głowicy TERASCOPE

Pomiar wielowarstwowych powłok

TERASCOPE® umożliwia pomiar do 7 warstw o grubościach od 10 μm do kilku milimetrów, niezależnie od rodzaju podłoża. Sprawdza się przy farbach, lakierach, tworzywach, kompozytach, ceramice czy materiałach o specjalnych właściwościach. Dzięki terahercowemu widmu częstotliwości precyzyjnie rozróżnia poszczególne warstwy.
Jeden system obsługuje zarówno proste, jak i bardzo złożone systemy powłokowe.
Głowica TERASCOPE do automatycznych pomiarów grubości powłok (technologia terahercowa)

Wysoka prędkość i odporność na drgania

Dzięki próbkowaniu 1.6 kHz system rejestruje sygnał szybciej niż jakiekolwiek wibracje, co przekłada się na stabilność pomiarów w środowisku produkcyjnym. Przy czasie pomiaru około 1 sekundy możliwe jest wykonywanie kontroli inline bez spowalniania procesu. 
Dokładne wyniki nawet w dynamicznych liniach produkcyjnych.
Głowica TERASCOPE zamontowana na robocie do zautomatyzowanych pomiarów powłok

Łatwa integracja z automatyką

System komunikuje się przez TCP/IP lub PROFINET, a głowica może być montowana na robotach, belkach lub systemach mapowania. Dostępne moduły takie jak skaner 3D pozwalają dopasować instalację do specyficznych wymagań procesu.
Szybka adaptacja systemu do istniejącej infrastruktury bez kosztownej przebudowy.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Wzorcowanie i utrzymanie dokładności

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Jakie materiały można mierzyć za pomocą TERASCOPE®?

System mierzy wszystkie organiczne i dielektryczne warstwy, takie jak lakiery, farby, kompozyty, tworzywa, ceramika czy powłoki specjalne. Może pracować na dowolnym podłożu, w tym metalowym, szklanym i kompozytowym.

Czy technologia terahercowa jest bezpieczna?

Tak. Fale THz mają niską energię fotonów i nie są promieniowaniem jonizującym. System nie wymaga żadnych środków ochrony radiologicznej ani specjalnych stref bezpieczeństwa.

Jak wygląda integracja z linią produkcyjną?

System można podłączyć do PLC przez TCP/IP lub PROFINET, a głowicę zamontować na robotach, suwnicach, komorach próżniowych lub systemach przesuwu. Fischer zapewnia wsparcie koncepcyjne i wdrożeniowe.

Czy urządzenie wymaga kalibracji?

Tak, system korzysta ze stacji referencyjnej do automatycznej referencji intensywności i częstotliwości. Proces odbywa się w tle i nie wymaga zatrzymywania produkcji.

Czy TERASCOPE® może pracować na niestabilnych lub zakrzywionych powierzchniach?

Tak. Opcjonalny skaner 3D dopasowuje położenie głowicy do geometrii elementu i zapewnia powtarzalne wyniki nawet na skomplikowanych kształtach.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Pliki do pobrania