TERASCOPE® to przemysłowy system pomiarowy wykorzystujący fale terahercowe do bezkontaktowego i nieniszczącego pomiaru grubości organicznych powłok wielowarstwowych oraz analizy właściwości materiałów. Dzięki wysokiej przepustowości do 6 THz i unikalnej technologii Clean-Trace zapewnia stabilne, powtarzalne wyniki nawet w wymagających warunkach produkcyjnych. System integruje się z liniami automatyki i pracuje w trybie inline lub offline.
Dzięki szybkim pomiarom i dużej precyzji TERASCOPE® pozwala ograniczyć błędy jakościowe, zmniejszyć zużycie materiałów i skrócić czas kontroli. Zyskujesz pełną kontrolę nad procesem i wiarygodne dane niezbędne do optymalizacji produkcji.
-
Terahertz Measurement Technology
Impulsy fal terahercowych przenikają przez powłoki, odbijając się na ich granicach. Na tej podstawie TERASCOPE® tworzy widmo, z którego określa grubość każdej warstwy. Metoda jest całkowicie bezkontaktowa i nie wymaga przygotowania powierzchni. Dokładny pomiar nawet złożonych, wielowarstwowych systemów bez ingerencji w materiał.
-
Clean-Trace®
Patented Clean-Trace utrzymuje stałe warunki pomiaru poprzez ciągłe przepłukiwanie głowicy suchym, oczyszczonym powietrzem. Minimalizuje to wpływ wilgoci i cząstek, które mogłyby zaburzać odbiór fal terahercowych. Pewne, powtarzalne wyniki w środowisku produkcyjnym.
-
FISIQ® Z – oprogramowanie analityczne
FISIQ® Z przetwarza sygnał terahercowy w czasie rzeczywistym, wizualizując grubości warstw i kluczowe parametry materiałowe. Zapewnia i integrację z PLC przez TCP/IP lub PROFINET. Łatwe monitorowanie procesu i szybkie wykrywanie odchyleń jakościowych.
-
3D Scanner
Zintegrowany skaner 3D umożliwia precyzyjne pozycjonowanie głowicy względem krzywizn i złożonych kształtów. System na bieżąco analizuje geometrię elementu i koryguje ustawienie podczas pomiaru. Korzyść: Wiarygodne wyniki również na elementach zakrzywionych i nieregularnych.
Pomiar wielowarstwowych powłok
TERASCOPE® umożliwia pomiar do 7 warstw o grubościach od 10 μm do kilku milimetrów, niezależnie od rodzaju podłoża. Sprawdza się przy farbach, lakierach, tworzywach, kompozytach, ceramice czy materiałach o specjalnych właściwościach. Dzięki terahercowemu widmu częstotliwości precyzyjnie rozróżnia poszczególne warstwy.
Jeden system obsługuje zarówno proste, jak i bardzo złożone systemy powłokowe.
Wysoka prędkość i odporność na drgania
Dzięki próbkowaniu 1.6 kHz system rejestruje sygnał szybciej niż jakiekolwiek wibracje, co przekłada się na stabilność pomiarów w środowisku produkcyjnym. Przy czasie pomiaru około 1 sekundy możliwe jest wykonywanie kontroli inline bez spowalniania procesu.
Dokładne wyniki nawet w dynamicznych liniach produkcyjnych.
Łatwa integracja z automatyką
System komunikuje się przez TCP/IP lub PROFINET, a głowica może być montowana na robotach, belkach lub systemach mapowania. Dostępne moduły takie jak skaner 3D pozwalają dopasować instalację do specyficznych wymagań procesu.
Szybka adaptacja systemu do istniejącej infrastruktury bez kosztownej przebudowy.