Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Confocal White Light Technology
System wykorzystuje głowicę konfokalną, która analizuje odbicie światła białego, tworząc trójwymiarową mapę powierzchni o wysokiej rozdzielczości.
WYDARZENIE TESTOWE NR 1
28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Popularne
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Optyczna inspekcja powierzchni Visionline Hommel-Etamic
-
Pomiar mikrostruktur i profili Visionline CF650 CF1250
Pomiar mikrostruktur i profili Visionline CF650 CF1250
- Optyczna ocena mikrostruktury bezpośrednio w procesie produkcyjnym.
- Możliwość wykonywania pomiarów topografii powierzchni.
- Wysoka rozdzielczość głowicy pomiarowej.
Kiedy wybrać:
Do ultra-precyzyjnych pomiarów profili lub nierówności w całości produkcji.
Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży
Jesteś zainteresowany produktem?
Visionline CF650 / CF1250 – optyczna analiza struktury powierzchni cylindrów
Opis
Systemy Visionline CF650 i CF1250 to rozwiązania firmy Hommel-Etamic (Jenoptik) do automatycznej oceny mikrostruktury powierzchni cylindrów. Dzięki zastosowaniu głowicy konfokalnej światła białego umożliwiają precyzyjne pomiary profilu i topografii powierzchni z wysoką dokładnością.
System w pełni eliminuje potrzebę ręcznej obsługi i subiektywnej oceny przez operatora. Zapewnia szybkie, powtarzalne pomiary i pełną dokumentację wyników, co przekłada się na wyższą jakość i spójność procesu produkcji.
Technologia
-
-
3D Surface Topography
Zaawansowane algorytmy przetwarzają dane optyczne w trójwymiarowy model powierzchni, pozwalając na ocenę mikrodefektów i jakości obróbki.
Pomiar topografii i mikrostruktury powierzchni
Konfokalna głowica optyczna tworzy dokładny model powierzchni, umożliwiając analizę profilu, topografii oraz mikrodefektów.
Precyzyjna kontrola i możliwość wczesnej detekcji problemów technologicznych.
Modułowa konstrukcja i integracja z linią produkcyjną
Visionline CF pozwala na pracę inline, czyli bezpośrednio w procesie produkcyjnym. Dzięki temu rozwiązaniu możliwa jest kontrola 100% produkowanych części bez udziału operatora. System może działać jako niezależna stacja offline lub zostać włączony w proces produkcyjny.
Łatwe dopasowanie do istniejącego środowiska produkcyjnego i wymagań procesu.
Automatyczna inspekcja i analiza bez udziału operatora
System samodzielnie dokonuje inspekcji i oceny struktury powierzchni. Oprogramowanie automatycznie identyfikuje obszary do analizy i rejestruje wyniki.
Brak wpływu operatora i pełna powtarzalność wyników.
Oprogramowanie
-
Oprogramowanie do optycznej kontroli powierzchni – Evovis Vision
- Oprogramowanie do optycznej kontroli powierzchni dla wszystkich systemów IPS, z jednolitym interfejsem
- Pełna analiza powierzchni i wad z wykorzystaniem zaawansowanych algorytmów i stref kontrolnych
- Zastosowanie w systemach manualnych i automatycznych oraz integracja z systemem kontroli procesu
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz zautomatyzować kontrolę powierzchni w systemach IPS i oceniać wady z jednego, spójnego środowiska.
Najczęściej zadawane pytania
FAQ
Jakie powierzchnie można mierzyć systemem Visionline CF650/CF1250?
System przeznaczony jest do analizy powierzchni cylindrów, tulei i otworów – szczególnie tam, gdzie wymagana jest ocena mikrostruktury i topografii.
Czy urządzenie wymaga operatora?
Nie. System jest w pełni automatyczny – wykonuje pomiar, analizę i ocenę bez udziału użytkownika.
Czy można go zintegrować z linią produkcyjną?
Tak. Dzięki modułowej konstrukcji Visionline CF może działać jako samodzielne stanowisko lub część zautomatyzowanej linii pomiarowej.
Jakiego rodzaju dane generuje system?
Trójwymiarowe mapy powierzchni, profile chropowatości, pomiary głębokości oraz raporty z wykonanej inspekcji.
Jakie są główne korzyści biznesowe z wdrożenia systemu?
Skrócenie czasu kontroli, redukcja błędów ludzkich, kontrola procesu i pełna dokumentacja jakości w jednym systemie.
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Powiązane akcesoria i produkty
-
Bestseller
- Głowica 360° o wysokiej rozdzielczości z panoramiczną optyką.
- Wykrywanie defektów (pory, rysy) powierzchni od 100 µm.
- Automatyzacja, ochrona przed kolizją, szybka inspekcja.
Kiedy wybrać:
Gdy liczy się precyzja pomiaru otworów przy dużej wydajności linii. -
- Pełny skan powierzchni bez konieczności zatrzymania części.
- Detekcja wad od 100 µm z wykrywaniem krawędzi.
- Gotowość do automatyzacji i krótki czas cyklu.
Kiedy wybrać:
Przy wymagającej analizie 3D złożonych powierzchni w systemach produkcji. -
Nowość
- Stacja do oceny stanu powierzchni otworów wyposażona w sensory IPS B5/B20.
- Obsługa różnych elementów za pomocą jednej stacji.
- System stacjonarny z ręcznym załadunkiem.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka kontrola dużych elementów w środowisku produkcyjnym.
Powiązane wpisy
Obserwuj nas
