System Visionline V205/V220 firmy Hommel-Etamic umożliwia szybkie i w pełni automatyczne wykrywanie wad powierzchni otworów o średnicy od 5 do 50 mm. Wykorzystując optykę o wysokiej rozdzielczości i technologię 360°, system rejestruje obraz powierzchni w ciągu kilku sekund z zachowaniem wysokiej precyzji.
Automatyczna inspekcja pozwala wykryć nawet najmniejsze defekty (od 0,1 mm) i eliminuje wpływ operatora, gwarantując powtarzalne wyniki oraz pełną kontrolę jakości w linii produkcyjnej. Systemy serii V pozwalają na uniwersalne zastosowanie i szybką zmianę planu pomiarowego.
Po uzyskaniu obrazu kontrolowanej powierzchni wykonywana jest ocena pod kątem defektów. Oprogramowanie Evovis Vision pozwala wykorzystywać zaimplementowane algorytmy, a także posiada funkcję „nauki”, dzięki czemu możliwe jest stworzenie algorytmu pod własne potrzeby.
-
Optyka o wysokiej rozdzielczości
Systemy Visionline są wyposażone w kamery o wysokiej rozdzielczości oraz specjalne układy oświetleniowe, które umożliwiają detekcję nawet najmniejszych defektów powierzchni, takich jak pory, rysy czy odpryski.
-
Evovis Vision Software
Zaawansowane oprogramowanie analityczne z trybem „live” umożliwia pełną kontrolę procesu inspekcji. Automatycznie rozpoznaje i klasyfikuje defekty, rejestrując dane z dokładnością mikrometryczną.
-
Inspekcja 360°
Technologia pozyskiwania obrazu z polem widzenia 360o zapewnia kompletny obraz wnętrza otworu w jednym krótkim przebiegu inspekcyjnym.
-
Inteligentna ocena
Algorytm adaptacyjny pozwala odróżnić rzeczywiste uszkodzenia od zanieczyszczeń, odbić czy śladów obróbki.
-
Collision Protection & Auto Positioning
Zintegrowany system ochrony i opcjonalny stolik XY zapewniają precyzyjne pozycjonowanie próbki i bezpieczeństwo sensora w przypadku błędnego ułożenia elementu.
Kompaktowe stacje offline do inspekcji otworów
Visionline V205 i V220 zajmują niewiele miejsca, a mimo to oferują pełną funkcjonalność systemów IPS i zapewniają wiarygodną inspekcję powierzchni.
Łatwa integracja z istniejącą przestrzenią produkcyjną bez kosztownych zmian infrastruktury.
Wysoka dokładność i powtarzalność wyników
System wykorzystuje sensory IPS B5 i B20, które szybko rejestrują obraz i pozwalają na wykrywanie wad o wielkości od 100 mikrometrów.
Pewność detekcji defektów i pełna dokumentacja jakości.
Szybkie przezbrojenie i brak wpływu operatora
System można błyskawicznie dostosować do nowego typu detalu bez konieczności długotrwałej konfiguracji.
Oszczędność czasu i pełna obiektywność pomiarów.