28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Profilometr przenośny Waveline W10
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego profilometru do codziennej kontroli.
Zapytaj o ofertę
Waveline W10 firmy Hommel-Etamic to nowoczesne urządzenie do szybkiej i precyzyjnej kontroli parametrów chropowatości powierzchni. System został zaprojektowany do pracy zarówno bezpośrednio na linii produkcyjnej, jak i w laboratoriach kontroli jakości.
Kolorowy, dotykowy wyświetlacz prezentuje w przejrzysty sposób mierzone parametry wraz z oceną tolerancji, a szeroka gama głowic pomiarowych pozwala dopasować urządzenie do wielu zastosowań w różnych branżach. Bezprzewodowa komunikacja pomiędzy jednostką pomiarową i obliczeniową pozwalają na swobodne wykonywanie pomiarów. Funkcja obrotu głowicy o 90o umożliwia wykonywanie pomiarów na powierzchniach trudno dostępnych.
W10 jest naturalnym następcą znanego profilometru T1000, oferując jeszcze większą funkcjonalność i wyższą wygodę obsługi.
Waveline W5 wykorzystuje klasyczną metodę profilometrii stykowej – głowica z diamentową końcówką przesuwa się po powierzchni badanego detalu, rejestrując odchylenia profilu. Dane są następnie analizowane i przeliczane na parametry chropowatości.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz przenośnych przyrządów Waveline i chcesz wygodnie sterować pomiarem oraz analizować profile na komputerze, zgodnie z aktualnymi normami.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz jednej platformy do analizy danych z profilometrów i mikroskopów, zgodnej z normami.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Pomiar parametrów według norm: Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rc, Rp, Rv, Rsk, Rku, Rdc, Rdq, RzISO, Rmr, Rmr(c), C(Rmr), Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rpk*, Rvk*, Vo0.001, R, AR, Rx, CR, CF, CL, Nr, Rp, Rpm, Rz-JIS, RPc, R3z
Dzięki wbudowanemu wzorcowi chropowatości, który jest standardowym wyposażeniem W10.
Tak – obracana pod kątem 90° sonda umożliwia pomiary w miejscach trudno dostępnych.
Na kolorowym, dotykowym ekranie wraz z oceną tolerancji, możliwy jest także wydruk przy użyciu zintegrowanej drukarki.
Mobilna głowica pomiarowa, jednostka oceny parametrów, stacja dokująca oraz opcjonalne głowice pomiarowe dopasowane do różnych aplikacji.
Dla modelu W10 głowica T1E oferuje zakres ±100 µm, a przy wymianie głowicy na T3E można uzyskać większy zakres (do ±300 µm)
Urządzenie umożliwia wykonanie do 800 pomiarów na jednym naładowaniu baterii.
Tak, pomiary wykonywane są zgodnie z obecnie obowiązującymi normami.
Tak — urządzenie pozwala na wybór odcinków pomiarowych zgodnych z normami oraz wybór dowolnej ilości odcinków elementarnych.
W10 posiada 7 programów pomiarowych + 1 program dedykowany dla wzorca (czyli w sumie 8 wbudowanych).
Wybór programu pomiarowego, ustawienia parametrów (filtry, odcinki pomiarowe i elementarne), wybór jednostek (µm / µinch), granice tolerancji (dla każdego parametru), parametry wyników chropowatości i raporty, statystyki pomiarów, , profilogram, komunikacja (USB, Bluetooth), wydruk (termodrukarka wbudowana), funkcja światła (doświetlenie pozycji pomiarowej).
Takie urządzenia można wzorcować w laboratoriach akredytowanych (np. PCA w Polsce) oferujących usługi metrologiczne dla profilometrów i urządzeń pomiarowych. W Polsce jednym z takich laboratoriów jest Laboratorium Wzorcujące ITA, które wykonuje wzorcowanie urządzeń pomiarowych, w tym profilometrów i konturografów.
Broszura informacyjna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W10
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mobilnego urządzenia do szybkiej kontroli powierzchni.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz najwyższej precyzji w nanoskali.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mobilnego urządzenia do szybkiej kontroli powierzchni.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz przenośnego systemu spełniającego najnowsze normy jakości.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz stacjonarny system do seryjnych pomiarów z automatyzacją.
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Czytaj
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Czytaj
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Czytaj
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
