Popularne
Profilometry i konturografy Urządzenia do badania odchyłek kształtu Optyczne systemy oceny stanu powierzchni Skanery elementów obrotowych Pneumatyczne systemy do pomiaru geometrii Urządzenia do pomiar nierówności i kształtu Skanery 3D Optyczne maszyny pomiarowe 3D Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Projektory pomiarowe
Mikroskopy
Tomografy rentgenowskie
Rentgenowskie systemy inspekcyjne
Średnicówki Diatest
Systemy mocowania przedmiotów
Wzorce długości i kąta
Płyty i wzorce granitowe
Klasyczne przyrządy pomiarowe
Mierniki grubości powłok
Przyrządy do badania właściwości materiałowych
Spektrometry
Spektrometry XRF do badania składu złota i metali
Dyfraktometry rentgenowskie
Twardościomierze
Przyrządy do badania gęstości
Systemy pomiaru siły i momentu
Maszyny wytrzymałościowe
Urządzenie do badania żywności
Urządzenie do badania tekstyliów
Endoskopy
Urządzenia do pomiaru wałów i osi
Akcesoria
Popularne
Narzędzia frezarskie Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Oprawki i systemy mocowania narzędzi
Oprawki do gratowania, fazowania i grawerowania
Ustawiacze narzędziowe
Systemy monitorowania procesów produkcyjnych
System mocowania przedmiotów obrabianych
Wyposażenie warsztatowe
Inspekcja obrabiarek
Narzędzia i elementy z węglików spiekany
Systemy narzędziowe EWS
Popularne
Laboratorium wzorcujące ITA Usługi skanowania 3D Badanie i pomiary metodą tomografii komputerowej Pomiary wytrzymałości materiałów Pomiary momentu obrotowego
Stykowe i optyczne pomiary nierówności i
Pomiary siły
Pomiary twardości materiałów
Optyczne pomiary wielkości geometrycznych
Stykowe i optyczne pomiary zarysu kształtu konturu
Pomiary fotogrametryczne
Pomiary grubości powłok
Badanie zawartości ferrytu w stalach
Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria)
Usługi szkoleniowe
Usługi serwisowe
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Profilometry i konturografy
-
Waveline W15
Nowość
Waveline W15
Przenośny przyrząd do pomiaru chropowatości- Ergonomiczna jednostka pomiarowa LV17
- Pomiary w każdej pozycji, również pionowej i odwróconej
- Wszystkie aktualne normy, w tym nowa seria norm ISO 21920
Jesteś zainteresowany produktem?
Joanna Kowalska
Konsultant Opis produktu
Waveline W15 to kompaktowe i bezprzewodowe urządzenie do pomiaru chropowatości, zaprojektowane z myślą o maksymalnej mobilności i elastycznym zastosowaniu zarówno w środowiskach produkcyjnych, jak i kontrolnych. Możliwość obracania sondy względem głowicy pomiarowej pod kątem 90° umożliwia pomiar w miejscach trudno dostępnych. Urządzenie zapewnia możliwość użycia szerokiej gamy głowic pomiarowych oraz dodatkowych akcesoriów. Oprogramowanie Evovis Mobile Standard umożliwia pomiar parametrów według norm ISO21920, ISO 4287, ISO 13565 oraz JIS B601(Rz-JIS, Ry, tp). Dodatkowo oferuje rozbudowaną analizę wyników oraz funkcje raportowania i eksportu danych.
CECHY PRODUKTU
- Ergonomiczna jednostka pomiarowa LV17
- Zintegrowany przycisk start na jednostce pomiarowej
- Obsługuje głowice ze ślizgaczem
- Pomiary w każdej pozycji, również pionowej i odwróconej
- Różne prędkości pomiaru
- Ocena wyników na komputerze PC za pomocą Evovis Mobile Standard
- Wszystkie aktualne normy, w tym nowa seria norm ISO 21920
- Eksport parametrów i profili, opcjonalne interfejsy statystyczne
- Opcjonalnie: statyw HS300 lub MS300 tworzący kompaktowe stanowisko pomiarowe
ELEMENTY ZESTAWU STANDARDOWEGO
- Mobilna jednostka pomiarowa LV17
- Głowica T1E KE2/90D
- Oprogramowanie Evovis Mobile Standard
- Kabel zasilający
- Kabel USB
- Certyfikat kalibracji
- Walizka
- Instrukcja obsługi
Skorzystaj z usługi
Skanowanie 3D- Ponad 15 lat doświadczenia w skanowaniu 3D
- Niespotykana nigdzie indziej mobilność urządzeń pomiarowych
- Pomiary obiektów o wymiarach od kilku milimetrów do kilkunastu metrów
Profesjonalne skanowanie 3D
Zobacz ofertę usługową Dlaczego warto
Baza wiedzy
-
13.04.2019Trójwymiarowa analiza nierówności powierzchni
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Szczegóły -
30.03.2020Przenośne przyrządy do pomiaru nierówności powierzchni
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Szczegóły -
14.04.2019Bezstykowe pomiary nierówności powierzchni
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Szczegóły
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Obserwuj nas
