28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Profilometr przenośny Waveline W15 Hommel-Etamic
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz przenośnego systemu spełniającego najnowsze normy jakości.
Zapytaj o ofertę
Waveline W15 firmy Hommel-Etamic to kompaktowe, bezprzewodowe urządzenie do pomiaru chropowatości powierzchni, stworzone z myślą o maksymalnej mobilności i szybkim pomiarze bezpośrednio przy stanowisku produkcyjnym. Dzięki zintegrowanej baterii, komunikacji Bluetooth oraz lekkiej konstrukcji, przyrząd idealnie sprawdza się zarówno w pomiarach warsztatowych, jak i w laboratorium kontroli jakości.
Ergonomiczna jednostka pomiarowa umożliwia pomiar w pionie, poziomie i pozycji odwróconej. Możliwość obrotu głowicy o 90˚dodatkowo ułatwia pomiar w miejscach trudno dostępnych, np. w rowkach czy zagłębieniach. Urządzenie współpracuje z oprogramowaniem Evovis Mobile Standard, które oferuje analizę danych, raportowanie wyników i eksport pomiarów w formacie ACSII lub opcjonalnie Q-DAS / AQDEF, zapewniając pełną integrację z systemami jakości SPC. Waveline W15 obsługuje wszystkie kluczowe normy, w tym nową DIN EN ISO 21920, która zastępuje wcześniejszy standard ISO 4287.
Waveline W10 wykorzystuje klasyczną metodę profilometrii stykowej – głowica z diamentową końcówką przesuwa się po powierzchni badanego detalu, rejestrując odchylenia profilu. Dane są następnie analizowane i przeliczane na parametry chropowatości.
System komunikuje się z komputerem poprzez Bluetooth lub USB, umożliwiając bezprzewodowy transfer danych i natychmiastowy dostęp do wyników w oprogramowaniu Evovis Mobile.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz przenośnych przyrządów Waveline i chcesz wygodnie sterować pomiarem oraz analizować profile na komputerze, zgodnie z aktualnymi normami.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Maksymalna długość przesuwu to 17,5 mm.
Dostępne prędkości przesuwu: 0,15, 0,5 i 1 mm/s.
Tak – Bluetooth i USB.
DIN EN ISO 21920, ISO 4287, ISO 13565, JIS B601 i ISO 12085.
Do mobilnych pomiarów chropowatości na produkcji, do kontroli seryjnej, pomiarów serwisowych oraz w laboratoriach, gdy wymagana jest elastyczność zastosowania.
Nie, W15 nie wymaga adjustacji przez operatora.
Urządzenie umożliwia wykonanie do 800 pomiarów na jednym naładowaniu baterii.
Dla modelu W15 głowica T1E oferuje zakres ±100 µm, a przy wymianie głowicy na T3E można uzyskać większy zakres (do ±300 µm).
Tak. W15 wspiera wymienne głowice typu T1x (6-pin). Głowice różnią się od siebie konstrukcją i docelowym zastosowaniem.
Tak — W15 pozwala na tworzenie własnych programów pomiarowych w nieograniczonej liczbie za pomocą oprogramowania Evovis Mobile.
Broszura informacyjna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W15
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mobilnego urządzenia do szybkiej kontroli powierzchni.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego profilometru do codziennej kontroli.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz najwyższej precyzji w nanoskali.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz stacjonarny system do seryjnych pomiarów z automatyzacją.
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Czytaj
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Czytaj
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Czytaj
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
