28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Profilometr Waveline W40
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz stacjonarny system do seryjnych pomiarów z automatyzacją.
Zapytaj o ofertę
Waveline W40 to przenośne urządzenie nowej generacji firmy Hommel-Etamic do pomiaru parametrów chropowatości, falistości i profilu pierwotnego. Stanowi następcę popularnego modelu W20 i łączy mobilność z funkcjonalnością stacjonarnego profilometru.
Jednostka pomiarowa Waveline W40 rejestruje dane profilu, a oprogramowanie Evovis Mobile Standard analizuje i raportuje wyniki zgodnie z najnowszymi normami DIN EN ISO 21920 (dostępna jest również norma ISO 4287). Przyrząd wyposażony jest w głowicę bez ślizgacza TKU300, która umożliwia stosowanie wymiennych ramion pomiarowych. Dzięki funkcji automatycznego opuszczania głowicy, urządzenie zapewnia bezpieczne i powtarzalne pomiary nawet przy delikatnych detalach. Pomiar można wykonać w dowolnej orientacji – poziomej, pionowej lub odwróconej – co czyni W40 idealnym rozwiązaniem dla kontroli jakości w warunkach produkcyjnych. Urządzenie może pracować samodzielnie lub w połączeniu ze statywami HS300 oraz MS300 zapewniającymi większą stabilność i tworząc stacjonarne stanowisko pomiarowe.
Waveline W40 wykorzystuje klasyczną metodę profilometrii stykowej – głowica z diamentową końcówką przesuwa się po powierzchni badanego detalu, rejestrując odchylenia profilu. Dane są następnie analizowane i przeliczane na wybrane parametry.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz przenośnych przyrządów Waveline i chcesz wygodnie sterować pomiarem oraz analizować profile na komputerze, zgodnie z aktualnymi normami.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Chropowatość, falistość i profil pierwotny powierzchni.
Tak, głowica może być zarówno opuszczana automatycznie na powierzchnię, jak również podnoszona po zakończeniu pomiaru.
Tak – W40 umożliwia pomiar w pozycji pionowej i odwróconej.
Tak, oprogramowanie Evovis Mobile analizuje dane według aktualnych norm.
Jednostka traverse Xmove 20 oferuje maksymalny przesuw wynoszący 20 mm.
Dane trafiają do oprogramowania Evovis Mobile Standard, które wykonuje ich analizę, archiwizację i pozwala generować raporty pomiarowe.
Tak — W40 wyposażone jest w głowicę bez ślizgacza i wykonuje pomiary zarówno chropowatości, jak i falistości oraz profilów pierwotnych.
Statywy/stacje HS300 i MS300, głowice i ramiona pomiarowe dopasowane do różnych zadań pomiarowych TKU300, akcesoria do mocowania próbek.
Tak, W40 może być położone bezpośrednio na mierzonej powierzchni lub może mierzyć w pozycji odwróconej. Urządzenie jest wyposażone w prowadnice ułatwiające pozycjonowanie na mierzonej części.
Tak — urządzenie wspiera głowice typu TK (6-pin) i oferuje duży wybór głowic oraz ramion pomiarowych. Standardowa głowica TKU300 oferuje możliwość szybkiej zmiany ramienia.
Tak — wybór odcinka elementarnego oraz pomiarowego odbywa się w oprogramowaniu Evovis Mobile. Ilość odcinków elementarnych może być dowolnie zdefiniowana przez operatora, a ich długość jest zgodna z obowiązującymi normami.
Tak — W40 pozwala na tworzenie własnych programów pomiarowych w nieograniczonej liczbie za pomocą oprogramowania Evovis Mobile.
Broszura informacyjna przenośnego przyrządu do pomiaru chropowatości Waveline W40
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego profilometru do codziennej kontroli.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mobilnego urządzenia do szybkiej kontroli powierzchni.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz przenośnego systemu spełniającego najnowsze normy jakości.
Kiedy wybrać:
Gdy zależy Ci na wszechstronnym systemie chropowatości w trybie automatycznym.
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Czytaj
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Czytaj
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Czytaj
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
