WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
Inspekcja obrabiarek Kamery do obrabiarek Mocowania przedmiotów obrabianych Narzędzia frezarskie Oprawki i systemy mocowania narzędzi frezarskich
Oprawki i systemy mocowania narzędzi tokarskich Ustawiacze narzędziowe Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Wyposażenie warsztatowe
Badania i pomiary tomografem rentgenowskim Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Badania wytrzymałości i pomiaru siły Badanie zawartości ferrytu w stalach Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Pomiary grubości powłok Pomiary momentu obrotowego Pomiary twardości materiałów Skanowanie 3D
Stykowy i optyczny pomiar zarysu kształtu (kontur) Stykowy i optyczny pomiar nierówności topografii powierzchni
search

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 00Pokaż +48 61 222 58 00
tel
koszyk
koszyk
search
tel
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Profilometry i konturografy
  5. > System do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800/W900 Nanoscan
  • Profilometr i konturograf Waveline W900 Nanoscan – stacjonarny system pomiaru chropowatości i konturu

System do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800/W900 Nanoscan

  • Pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu końcówki pomiarowej.
  • Zakres pomiaru do 48mm.
  • Rozdzielczość głowicy pomiarowej 0,3 nm.

Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz najwyższej precyzji w nanoskali.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży

Zainteresował Cię ten produkt?

Zadzwoń +48 61 222 58 11
Strzałka do góry
Zapytaj o ofertę

Waveline W800 / W900 Nanoscan — Ultraprecyzyjny system pomiaru chropowatości i konturu — technologia na poziomie nanometrów.

Opis

Waveline Nanoscan to najdokładniejszy system pomiarowy Hommel-Etamic, łączący funkcje pomiaru chropowatości i konturu. System umożliwia zintegrowany pomiar w jednym przebiegu końcówki pomiarowej z zachowaniem stałej rozdzielczości 0,3 nm.

Głowica Nanoscan to unikalne rozwiązanie, które zapewnia duży zakres pomiarowy (do 48mm) przy zachowaniu rozdzielczości w skali dziesiątych części nanometra. Jest to idealne rozwiązanie dla pomiarów wymagających najwyższej precyzji. System z powodzeniem może być używany w instytucjach badawczych, na uczelniach czy w laboratoriach pomiarowych.

Systemy W800/W900 są modułowe i pozwalają dopasować konfigurację do aplikacji i potrzeb użytkownika końcowego. Poprzez zastosowanie unikalnego rozwiązania przesuwu całej jednostki napędowej, system gwarantuje optymalny dostęp do pozycji pomiarowych niezależnie od pozycji napędu. Magnetyczne mocowania zapewniają wygodę obsługi oraz zabezpieczenie kluczowych podzespołów w przypadku błędów operatora.

System współpracuje z oprogramowaniem Evovis umożliwiając zaawansowaną analizę profilu, raportowanie, porównywanie profili i eksport danych do systemów SPC (format Q-DAS / AQDEF oraz ASCII). Implementacja nowych standardów, w tym zgodność z ISO 21920, zapewnia jakość pomiarów zgodnie z obecnymi wymaganiami przemysłu. Moduł CNC pozwala w łatwy sposób zautomatyzować pomiar, co ogranicza rolę operatora i jego wpływ na uzyskiwane wyniki.

Technologia

  • Głowica Nanoscan 

    Głowica oferująca duży zakres pomiarowy przy zachowaniu najwyższej rozdzielczości. Rozwiązanie najwyższej klasy stworzone do jednoczesnego pomiaru chropowatości i konturu.

  • Plug & Measure – inteligentne rozpoznawanie głowic i ramion pomiarowych

    System automatycznie rozpoznaje podłączoną głowicę i ramie pomiarowe. Natychmiastowo wczytuje parametry pracy oraz zapisane dane kalibracyjne.

  • Modułowość i możliwość rozbudowy

    Systemy W800/W900 są modułowe i umożliwiają rozbudowę oraz dostosowanie do zmieniających się wymogów. W każdym momencie system można wyposażyć w dodatkowe osie zmotoryzowane lub nowe opcje oprogramowania.

Operator wymienia ramię pomiarowe w przyrządzie Nanoscan do pomiaru chropowatości

Magnetyczne mocowanie z identyfikacją RFID

System automatycznie rozpoznaje zamontowaną głowicę lub ramię pomiarowe, co zapewnia wygodę pracy i zapobiega potencjalnym błędom operatora.
Bezbłędna konfiguracja i szybka zmiana akcesoriów bez ryzyka pomyłki.
Głowica pomiarowa systemu Waveline Nanoscan podczas analizy elementu mechanicznego

Zintegrowany pomiar chropowatości i konturu (Nanoscan)

Głowica Naoscan umożliwia analizę chropowatości i konturu w jednym przebiegu pomiarowym, bez konieczności wymiany końcówki pomiarowej. To wszystko przy zachowaniu rozdzielczości 0,3 nm.
Oszczędność czasu i kompletne dane o powierzchni w jednym raporcie.
Zrzut ekranu z programu EVOVIS do analizy chropowatości i konturu powierzchni

Oprogramowanie Evovis

Oprogramowanie umożliwia pełną analizę danych, porównywanie profilów, raportowanie oraz eksport do systemów SPC w formacie Q-DAS i ASCII. Jest zgodne z nową normą ISO 21920 i umożliwia tworzenie automatycznych szablonów pomiarowych.
Pełna zgodność z wymaganiami audytów jakości i łatwe raportowanie wyników.
Automatyczny stolik Waveline Nanoscan

Pomiar topografii 3D oraz parametrów Twist

Zastosowanie stolika CNC oraz jednostki obrotowej umożliwiają automatyczne pozycjonowanie detalu. Dzięki temu system pozwala również mierzyć parametry topografii powierzchni oraz Twist (skręcenie, Drall).
Pełny obraz struktury powierzchni i możliwość wykrywania cech niewidocznych w klasycznym profilu 2D.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Zadzwoń +48 61 222 58 11

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Nanoscan
Model:
W800 Nanoscan
W900 Nanoscan
Głowica:
Nanoscan
Nanoscan, opcjonalnie TKU400
Zakres pomiarowy:
24 lub 48 mm
24 lub 48 mm
Rozdzielczość:
0,3 lub 0,6 nm
0,3 lub 0,6 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa kontur:
węglikowa 20 µm
węglikowa 20 µm
Końcówka pomiarowa chropowatość:
diamentowa 2 µm/90˚
diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pomiarowa:
0,1-3 mm/s
0,1-3 mm/s
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
Rozwiń pełną specyfikację

Oprogramowanie

  •
    Oprogramowanie EVOVIS do pomiaru chropowatości i konturu
    • Oprogramowanie do pomiaru chropowatości i konturu z ujednoliconym interfejsem i interaktywną analizą profilu
    • Ponad 100 parametrów P, R i W zgodnych z DIN/ISO/JIS oraz obsługa nowej normy ISO 21920
    • Praca w środowisku Windows z polskim interfejsem oraz komunikacją z Wordem i Excelem

    Kiedy wybrać:
    Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty zgodne z aktualnymi normami.

    Dowiedz się więcej
  • Oprogramowanie MountainsMap – analiza topografii i tekstury powierzchni 2D/3D
    • Oprogramowanie do analizy topografii powierzchni 2D/3D, uznane za standard w metrologii powierzchni
    • Pełny zestaw narzędzi od korekcji danych, filtracji i obliczania parametrów zgodnie z normami po analizę funkcjonalną, powłok, cząstek, widma i ewolucji powierzchni.
    • Rozszerzalność przez moduły opcjonalne (SPM, shell topography, SEM, colocalization, lead, analiza wieloskalowa)

    Kiedy wybrać:
    Gdy potrzebujesz jednej platformy do analizy danych z profilometrów i mikroskopów, zgodnej z normami.

    Dowiedz się więcej

Wzorcowanie? My się tym zajmiemy

Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.

Zobacz więcej

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Jaką rozdzielczość oferuje system Nanoscan?

0,3 nm w zakresie 24 mm lub 0,6 nm w zakresie 48 mm.

Czy można mierzyć chropowatość i kontur jednocześnie?

Tak, to jedna z głównych funkcji głowicy Nanoscan — pomiar odbywa się w jednym przejściu końcówki pomiarowej.

Jaki jest maksymalny odcinek pomiarowy?

Maksymalny odcinek pomiarowy wynosi 200 mm w osi poziomej.

Czy pomiar można zautomatyzować?

Tak, tryb CNC umożliwia programowanie sekwencji pomiarowych i automatyczne wykonywanie serii pomiarowych. System może też współpracować z zewnętrznymi systemami automatycznego załadunku części.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Pliki do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

pdf • 1.4 MB
Pobierz

Powiązane akcesoria i produkty

Powiązane wpisy

  • Optyczny system Jenoptik Opticline – szybki pomiar wałka i cech geometrycznych.
    Technologia
    10 minut

    Systemy pomiarowe do produkcji podzespołów napędów elektrycznych

    Czytaj
logo-ITA
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
+48 61 222 58 00 Pokaż

Oferta

ITA

Przydatne linki

2025 © Copyright ITA. Wszelkie prawa zastrzeżone