Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline W800/W900 Surfscan

+ 03

Hommel-Etamic

Waveline W800/W900 Surfscan

Stacjonarny przyrząd do pomiaru chropowatości i konturu Waveline

Stacjonarny przyrząd Waveline W800/W900 Surfscan firmy Jenoptik (Hommel-Etamic) umożliwia pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu. Duży zakres pracy głowicy umożliwia pomiar na powierzchniach zakrzywionych i pochyłych. Uniwersalna stacja pomiarowa może być stosowana do szerokiego zakresu zadań i stanowi atrakcyjną alternatywę dla tradycyjnych profilometrów wyposażonych w oddzielny system pomiaru konturu i chropowatości.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

Jesteś zainteresowany produktem?

Joanna Kowalska

Konsultant

Zapytaj o produkt

Zadzwoń +48 61 222 58 00 +48 61 222 58 00

Opis produktu

Cechy produktu:

pomiar metodą stykową
możliwość pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu
intuicyjne oprogramowanie sterujące i raportujące EVOVIS, dostępne w języku polskim
wysoka rozdzielczość 3 nm w zakresie pomiarowym 8 mm lub 6 nm w zakresie 16 mm
możliwość wykonywania pomiarów topografii powierzchni (opcja)
magnetyczne mocowanie końcówek pomiarowych
oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC
Waveline W900 wyposażony jest w dodatkowy adapter dla głowicy TKU400

Skorzystaj z usługi

Skanowanie 3D

Lorem ipsum dolor sit amet, consectetur
Consectetur adipiscing elit
Sit amet, consectetur adipiscing

Dowiedz się więcej

Nie stać Cię na produkt?

Skorzystaj z usługi {nazwa usługi}

Zapytaj o produkt

Cechy produktu

waveline-surfscan-nanoscan-wcn-probe-arms-with-background

Końcówki pomiarowe dedykowane do głowicy Surfscan

Głowica Surfscan do pomiaru chropowatości i konturu

Waveline W900 z dodatkową głowicą TKU400 do pomiarów chropowatości

Dlaczego warto

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Usługa wzorcowania

Prezentacja w ITA

Specyfikacja i oprogramowanie

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Surfscan

Model:

Głowica:

Surfscan

Surfscan, opcjonalnie TKU400

Zakres pomiarowy:

8 lub 16 mm

Rozdzielczość:

3 lub 6 nm

Nacisk pomiarowy:

0-20 mN

Identyfikacja ramienia pomiarowego:

tak

Regulacja nacisku pomiarowego:

tak

Końcówka pomiarowa kontur:

węglikowa 20 µm

Końcówka pomiarowa chropowatość:

diamentowa 2 µm/90˚

Mocowanie końcówki pomiarowej:

magnetyczne

Zakres pomiarowy w osi X:

120/200 mm

Rozdzielczość w osi X:

0,1 µm

0,01 µm

Prędkość pomiarowa:

0,1-3 mm/s

Prędkość pozycjonowania w osi X:

do 20 mm/s

do 200 mm/s

Prostoliniowość jednostki napędowej:

≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm

≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm

Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:

500 lub 800 mm

Funkcja automatycznego zerowania:

tak

Prędkość pozycjonowania w osi Z:

do 20 mm/s

do 80 mm/s

Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:

≤50 µm

≤10 µm

Wymiary płyty granitowej:

700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm

Opcje:

stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria

Oprogramowanie

Oprogramowanie EVOVIS

Oprogramowanie EVOVIS pozwala na ocenę chropowatości i konturu w zależności od konfiguracji urządzenia. W przypadku obsługi urządzeń Surfscan i Nanoscan daje możliwość wyznaczenia chropowatości i konturu w dowolnym miejscu na zebranym zarysie.

Szczegóły

Oprogramowanie WAVELINE MAP

Oprogramowanie WAVELINE MAP działające w standardzie Mountains służy do oceny parametrów chropowatości 2D i 3D na podstawie danych uzyskanych z systemów T8000 oraz Nanoscan

Szczegóły

MountainsMap

Używany przez tysiące inżynierów, naukowców i metrologów na całym świecie, oprogramowanie MountainsMap® jest standardem w analizie tekstury powierzchni 2D i 3D oraz metrologii do użytku z profilometrami i innymi przyrządami do pomiaru powierzchni.

Szczegóły

Pliki do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

pdf • 1.4 MB

Pobierz

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Główny kucharz • 2025-04-12

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Specjalista ds. Rozwoju • 2025-04-23

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Joanna Doe

Apple • 2025-04-14

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Martyna Mniszek

Google • 2025-04-29

Zaufali nam

Zobacz również

Stykowe i optyczne pomiary nierówności i topografii powierzchni

Bardzo szeroki zakres pomiarów parametrów mikronierówności (chropowatości) na urządzeniach laboratoryjnych bądź przenośnych oraz wyznaczanie topografii powierzchni.

Szczegóły

Waveline W800/W900 Surfscan