WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
Inspekcja obrabiarek Kamery do obrabiarek Mocowania przedmiotów obrabianych Narzędzia frezarskie Oprawki i systemy mocowania narzędzi frezarskich
Oprawki i systemy mocowania narzędzi tokarskich Ustawiacze narzędziowe Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Wyposażenie warsztatowe
Badania i pomiary tomografem rentgenowskim Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Badania wytrzymałości i pomiaru siły Badanie zawartości ferrytu w stalach Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Pomiary grubości powłok Pomiary momentu obrotowego Pomiary twardości materiałów Skanowanie 3D
Stykowy i optyczny pomiar zarysu kształtu (kontur) Stykowy i optyczny pomiar nierówności topografii powierzchni
search

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 00Pokaż +48 61 222 58 00
tel
koszyk
koszyk
search
tel
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Profilometry i konturografy
  5. > System do pomiar chropowatości i konturu Waveline W800 W900 Surfscan
  • Stacjonarny przyrząd Waveline W800 / W900 z oprogramowaniem pomiarowym
  • Głowica Surfscan systemu Waveline w trakcie pomiaru powierzchni detalu

System do pomiar chropowatości i konturu Waveline W800 W900 Surfscan

  • Pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu końcówki pomiarowej.
  • Długość odcinka pomiarowego do 200 mm.
  • Rozdzielczość głowicy pomiarowej 3 nm.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz pomiarów chropowatości i konturu 3D z integracją produkcyjną.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży

Zainteresował Cię ten produkt?

Zadzwoń +48 61 222 58 11
Strzałka do góry
Zapytaj o ofertę

Waveline W800 / W900 Surfscan – Zintegrowany system do pomiaru chropowatości i konturu

Opis

Waveline W800/W900 z głowicą Surfscan to zaawansowany stacjonarny system pomiarowy łączący funkcje profilometru i konturografu w jednym urządzeniu. Zaprojektowany jako alternatywa dla zestawów dwóch oddzielnych przyrządów, Surfscan pozwala oszczędzić czas i eliminować konieczność przełączania głowic. Oba pomiary mogą być zrealizowane w jednym przejściu końcówki pomiarowej.

Dzięki głowicy Surfscan możliwy jest równoczesny pomiar chropowatości i konturu w jednym przejściu, bez konieczności wymiany ramienia pomiarowego. Zakres pracy wynosi do 16 mm, co pozwala mierzyć powierzchnie zakrzywione, pochyłe i mikrogeometrię. System jest modułowy i pozwala dopasować konfigurację do aplikacji i potrzeb użytkownika końcowego. Poprzez zastosowanie unikalnego rozwiązania przesuwu całej jednostki napędowej, system gwarantuje optymalny dostęp do pozycji pomiarowych niezależnie od pozycji napędu. Magnetyczne mocowania zapewniają wygodę obsługi oraz zabezpieczenie kluczowych podzespołów w przypadku błędów operatora.

System współpracuje z oprogramowaniem Evovis umożliwiając zaawansowaną analizę profilu, raportowanie, porównywanie profili i eksport danych do systemów SPC (format Q-DAS / AQDEF oraz ASCII). Implementacja nowych standardów, w tym zgodność z ISO 21920, zapewnia jakość pomiarów zgodnie z obecnymi wymaganiami przemysłu. Moduł CNC pozwala w łatwy sposób zautomatyzować pomiar, co ogranicza rolę operatora i jego wpływ na uzyskiwane wyniki.

Technologia

  • Głowica Surfscan

    Zaprojektowana do pomiaru chropowatości i konturu w jednym przejściu końcówki pomiarowej. Eliminuje to konieczność przezbrojenia systemu i znacząco skraca czas inspekcji.

  • Plug & Measure – inteligentne rozpoznawanie głowic i ramion pomiarowych

    System automatycznie rozpoznaje podłączoną głowicę i ramie pomiarowe. Natychmiastowo wczytuje parametry pracy oraz zapisane dane kalibracyjne.

  • Modułowość i możliwość rozbudowy

    Systemy W800/W900 są modułowe i umożliwiają rozbudowę oraz dostosowanie do zmieniających się wymogów. W każdym momencie system można wyposażyć w dodatkowe osie zmotoryzowane lub nowe opcje oprogramowania.

Pomiar konturu elementu cylindrycznego za pomocą głowicy Surfscan TKU400

Zintegrowany pomiar chropowatości i konturu

Nowa głowica Surfscan II umożliwia analizę chropowatości i konturu w jednym przebiegu pomiarowym, bez konieczności wymiany końcówki pomiarowej.
Oszczędność czasu i kompletne dane o powierzchni w jednym raporcie.
Użytkownik wymienia ramię pomiarowe w przyrządzie Waveline Nanoscan

Magnetyczne mocowanie z identyfikacją RFID

System automatycznie rozpoznaje zamontowaną głowicę lub ramię pomiarowe, co zapewnia wygodę pracy i zapobiega potencjalnym błędom operatora.
Bezbłędna konfiguracja i szybka zmiana akcesoriów bez ryzyka pomyłki.
Wykresy analizy profilu powierzchni w oprogramowaniu Evovis dla pomiaru chropowatości

Oprogramowanie Evovis

Oprogramowanie umożliwia pełną analizę danych, porównywanie profilów, raportowanie oraz eksport do systemów SPC w formacie Q-DAS i ASCII. Jest zgodne z nową normą ISO 21920 i umożliwia tworzenie automatycznych szablonów pomiarowych.
Pełna zgodność z wymaganiami audytów jakości i łatwe raportowanie wyników
Stolik pozycjonujący PT120 do profilometrów Waveline – precyzyjne ustawienie detalu

Pomiar topografii 3D oraz parametrów Twist

Zastosowanie stolika CNC oraz jednostki obrotowej umożliwiają automatyczne pozycjonowanie detalu. Dzięki temu system pozwala również mierzyć parametry topografii powierzchni oraz Twist (skręcenie, Drall).
Pełny obraz struktury powierzchni i możliwość wykrywania cech niewidocznych w klasycznym profilu 2D.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Zadzwoń +48 61 222 58 11

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800/W900 Surfscan
Model:
W800 Surfscan
W900 Surfscan
Głowica:
Surfscan
Surfscan, opcjonalnie TKU400
Zakres pomiarowy:
8 lub 16 mm
8 lub 16 mm
Rozdzielczość:
3 lub 6 nm
3 lub 6 nm
Nacisk pomiarowy:
0-20 mN
0-20 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa kontur:
węglikowa 20 µm
węglikowa 20 µm
Końcówka pomiarowa chropowatość:
diamentowa 2 µm/90˚
diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pomiarowa:
0,1-3 mm/s
0,1-3 mm/s
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
Rozwiń pełną specyfikację

Oprogramowanie

  •
    Oprogramowanie EVOVIS do pomiaru chropowatości i konturu
    • Oprogramowanie do pomiaru chropowatości i konturu z ujednoliconym interfejsem i interaktywną analizą profilu
    • Ponad 100 parametrów P, R i W zgodnych z DIN/ISO/JIS oraz obsługa nowej normy ISO 21920
    • Praca w środowisku Windows z polskim interfejsem oraz komunikacją z Wordem i Excelem

    Kiedy wybrać:
    Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty zgodne z aktualnymi normami.

    Dowiedz się więcej
  • Oprogramowanie MountainsMap – analiza topografii i tekstury powierzchni 2D/3D
    • Oprogramowanie do analizy topografii powierzchni 2D/3D, uznane za standard w metrologii powierzchni
    • Pełny zestaw narzędzi od korekcji danych, filtracji i obliczania parametrów zgodnie z normami po analizę funkcjonalną, powłok, cząstek, widma i ewolucji powierzchni.
    • Rozszerzalność przez moduły opcjonalne (SPM, shell topography, SEM, colocalization, lead, analiza wieloskalowa)

    Kiedy wybrać:
    Gdy potrzebujesz jednej platformy do analizy danych z profilometrów i mikroskopów, zgodnej z normami.

    Dowiedz się więcej

Wzorcowanie? My się tym zajmiemy

Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.

Zobacz więcej

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Co mierzy system Surfscan?

Chropowatość i kontur powierzchni w jednym przejściu pomiarowym.

Czym różnią się modele Surfscan W800 i W900?

W900 posiada dodatkowe mocowanie głowicy (tylko TKU400) od czoła jednostki napędowej. Oferuje również wyższą rozdzielczość napędu oraz kolumny i wyższe prędkości pozycjonowania.

Czy pomiar jest wykonywany jedną głowicą?

Tak – zintegrowana głowica Surfscan rejestruje dane dla chropowatości i konturu jednocześnie.

Czy można mierzyć powierzchnie zakrzywione lub pochyłe?

Tak, zakres pionowy głowicy pozwala na analizę nieregularnych kształtów i pomiar geometrii.

Jakie akcesoria można zastosować?

Dodatkowe ramiona pomiarowe, dodatkowe osie zmotoryzowane (np. stoliki pozycjonujące część mierzoną), mocowania części, opcje oprogramowania.

Jakie oprogramowanie obsługuje system?

Evovis– umożliwia analizę chropowatości i konturu, raportowanie, i eksport do systemów SPC.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Pliki do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

pdf • 1.4 MB
Pobierz

Powiązane akcesoria i produkty

logo-ITA
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
+48 61 222 58 00 Pokaż

Oferta

ITA

Przydatne linki

2025 © Copyright ITA. Wszelkie prawa zastrzeżone