06 października , Gliwice
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Konturograf CNC Waveline W800C W900C
Oferta
Systemy pomiarowe
Profilometry i konturografy
Konturograf CNC Waveline W800C W900C
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnej kontroli konturu elementów.
Zapytaj o ofertę
Waveline W800C/W900C firmy Hommel-Etamic to stacjonarne konturografy CNC do precyzyjnego pomiaru profilu i takich cech, jak: promienie, kąty, odległości, gwinty i inne. Budowa urządzeń jest modułowa — konfigurację można dobrać do zadania pomiarowego, a później rozbudować (np. o funkcje chropowatości) bez konieczności zakupu nowego urządzenia.
Dzięki napędowi CNC w osi X i Z, system samodzielnie wykonuje sekwencje pomiarowe — od ustawienia ramienia w odpowiedniej pozycji, przez pomiar, aż po analizę wyników. To rozwiązanie szczególnie cenne w zakładach, gdzie kontrola konturu produkowanych elementów jest częścią cyklu produkcyjnego. System umożliwia analizę w zakresie do 90 mm przy zachowaniu rozdzielczości w skali nano.
Model W900C oferuje osie o zwiększonej rozdzielczości i wyższej prędkości pozycjonowania, co zwiększa powtarzalność pomiarów i skraca czas pracy kontrolera jakości.
System współpracuje z oprogramowaniem Evovis umożliwiając zaawansowaną analizę profilu, raportowanie, porównywanie profili i eksport danych do systemów SPC (format Q-DAS / AQDEF oraz ASCII). Implementacja nowych standardów, w tym zgodność z ISO 21920, zapewnia jakość pomiarów zgodnie z obecnymi wymaganiami przemysłu. Moduł CNC pozwala w łatwy sposób zautomatyzować pomiar, co ogranicza rolę operatora i jego wpływ na uzyskiwane wyniki.
Głowica Digiscan umożliwia pomiar konturu w dużym zakresie przy zachowaniu rozdzielczości rzędu nanometrów, co pozwala na dokładną analizę w warunkach produkcyjnych.
Systemy W800/W900 są modułowe i umożliwiają rozbudowę oraz dostosowanie do zmieniających się wymogów. W każdym momencie system można wyposażyć w dodatkowe osie zmotoryzowane lub nowe opcje oprogramowania.
System automatycznie rozpoznaje podłączoną głowicę i ramie pomiarowe. Natychmiastowo wczytuje parametry pracy oraz zapisane dane kalibracyjne.
Minimalny udział operatora, maksymalna powtarzalność i krótszy czas kontroli.
Dokładna kontrola detali o wysokich wymaganiach geometrycznych, np. komponentów silników i przekładni.
Pełna zgodność z dokumentacją ISO, łatwe raportowanie i integracja z systemami SPC.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Zapraszamy do firmy ITA. Pokażemy urządzenie w akcji. Sprawdzisz je w praktyce i dostaniesz konkretne odpowiedzi.
Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900
W900C ma lepszą prostoliniowość i rozdzielczość osi X (0,01 µm) , co zapewnia jeszcze wyższą precyzję pomiaru.
Tak, napęd CNC wykonuje sekwencje pomiarowe bez interwencji operatora.
EVOVIS – platforma do sterowania system, analizy wyników i raportowania pomiarów.
Tak – dzięki ramionom pomiarowym o różnej geometrii. Możliwy jest również pomiar średnic i gwintów za pomocą końcówek dwustronnych.
Tak — oprogramowanie umożliwia eksport pomiarów w formacie Q-DAS / AQDEF oraz ASCII.
Dodatkowe ramiona pomiarowe, dodatkowe osie zmotoryzowane (np. stoliki pozycjonujące część mierzoną), mocowania części, opcje oprogramowania.
Kiedy wybrać:
Gdy kontrolujesz większe elementy wymagające dokładnej analizy chropowatości i konturu.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz mierzyć jednocześnie chropowatość i kontur.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz pomiarów chropowatości i konturu 3D z integracją produkcyjną.
Kiedy wybrać:
Gdy wymagasz najwyższej precyzji w nanoskali.
Topografia powierzchni pozwala lepiej zrozumieć procesy zachodzące w wielu aplikacjach. Dotyczy to nie tylko budowy maszyn. Również w zastosowaniach biomedycznych można wygodnie monitorować zachodzące zmiany i na przykład projektować elementy protez. Krąg dziedzin stosowania analizy stereometrycznej ciągle się poszerza, a wiedza specjalistów w zakresie pomiarów powierzchni jest cenna w wielu pracach o charakterze interdyscyplinarnym.
Podstawową informacją o wyrobie są wymiary, takie jak: długość, średnica czy kąt. Jednak dzisiejsze wymagania rynku powodują konieczność podania tolerancji wykonania tych wymiarów oraz wzbogacenie ich o dane dotyczące chropowatości powierzchni oraz dopuszczalnych wartości odchyłek kształtu i położenia.
Profilometry przenośne stanowią grupę przyrządów do pomiaru nierówności powierzchni najprostszych w użyciu. Jednocześnie można je spotkać zarówno w małych zakładach przemysłowych, jak i w dużych fabrykach. Dzięki miniaturyzacji elementów mikroprocesorowych możliwości obliczeniowe takich przyrządów stale rosną i w niektórych aplikacjach są najzupełniej wystarczające.
Artykuł poruszający tematykę wykorzystania mikroskopii różnicowania ogniskowego do pomiaru nierówności i kształtu powierzchni.
Podstawowe bezstykowe (optyczne) metody stosowane w pomiarach nierówności powierzchni to mikroskopia różnicowania ogniskowego, skaningowa mikroskopia koherencyjna i mikroskopia bądź profilometria konfokalna. Najszerzej stosowaną z nich w inżynierii mechanicznej jest mikroskopia różnicowania ogniskowego, która polega na wykorzystaniu ostrości obrazu powierzchni w mikroskopie optycznym do oceny wysokości nierówności powierzchni.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
