WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
Inspekcja obrabiarek Kamery do obrabiarek Mocowania przedmiotów obrabianych Narzędzia frezarskie Oprawki i systemy mocowania narzędzi frezarskich
Oprawki i systemy mocowania narzędzi tokarskich Ustawiacze narzędziowe Wiertła i narzędzia do obróbki gwintu Wyposażenie warsztatowe
Badania i pomiary tomografem rentgenowskim Badanie składu pierwiastkowego (spektrometria) Badania wytrzymałości i pomiaru siły Badanie zawartości ferrytu w stalach Optyczne pomiary wielkości geometrycznych Pomiary grubości powłok Pomiary momentu obrotowego Pomiary twardości materiałów Skanowanie 3D
Stykowy i optyczny pomiar zarysu kształtu (kontur) Stykowy i optyczny pomiar nierówności topografii powierzchni
search

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 00Pokaż +48 61 222 58 00
tel
koszyk
koszyk
search
tel
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Profilometry i konturografy
  5. > Stacjonarny system do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R
  • Przyrząd do pomiaru chropowatości Waveline W820R na stole granitowym
  • System szybkiej wymiany sond pomiarowych w Waveline W800
  • Zestaw sond profilometru Waveline W800 do pomiarów powierzchni
  • Panel sterujący profilometru Hommel Etamic Waveline W800
  • Precyzyjny stolik do mocowania elementów w systemie Waveline W800

Stacjonarny system do pomiaru chropowatości Waveline W800R/W900R

  • Kompletny pomiar chropowatości zgodnie z międzynarodowymi normami (w tym ISO 21920).
  • Duży zakres pomiarów chropowatości do 1600 µm.
  • Oszczędność czasu dzięki automatyzacji pomiarów w trybie CNC.

Kiedy wybrać:
Gdy zależy Ci na wszechstronnym systemie chropowatości w trybie automatycznym.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży

Zainteresował Cię ten produkt?

Zadzwoń +48 61 222 58 11
Strzałka do góry
Zapytaj o ofertę

Stacjonarny system do pomiaru chropowatości Waveline W800R / W900R Hommel-Etamic - Chropowatościomierz CNC nowej generacji

Opis

System Waveline W800R / W900R firmy Hommel-Etamic to precyzyjne, modułowe urządzenia do pomiaru chropowatości i falistości powierzchni z funkcją automatyzacji pomiaru w trybie CNC. Dzięki precyzyjnym napędom, stabilnej konstrukcji i zoptymalizowanemu układowi tłumienia drgań system zapewnia dokładność laboratoryjną w warunkach produkcyjnych.

Urządzenie pracuje z nową generacją głowic TKU400, które umożliwiają pomiar parametrów chropowatości, falistości i profilu pierwotnego w zakresie do 1600 µm przy zachowaniu stałej rozdzielczości. Poprzez zastosowanie unikalnego rozwiązania przesuwu całej jednostki napędowej, system gwarantuje optymalny dostęp do pozycji pomiarowych niezależnie od pozycji napędu. Magnetyczne mocowania zapewniają wygodę obsługi oraz zabezpieczenie kluczowych podzespołów w przypadku błędów operatora.

System współpracuje  z oprogramowaniem Evovis, które obsługuje pełen zestaw aktualnie obowiązujących norm ( w tym ISO 21920, ISO 4287 i ISO 13565) oraz umożliwia pełne raportowanie i komunikację z systemami SPC. Moduł CNC pozwala w łatwy sposób zautomatyzować pomiar, co ogranicza rolę operatora i jego wpływ na uzyskiwane wyniki.

Technologia

  • Modułowość i możliwość rozbudowy

    Systemy W800/W900 są modułowe i umożliwiają rozbudowę oraz dostosowanie do zmieniających się wymogów. W każdym momencie system można wyposażyć w dodatkowe osie zmotoryzowane lub nowe opcje oprogramowania.

  • Profilometria stykowa

    System W800R/W900R wykorzystuje stykową metodę pomiaru profilu powierzchni, w której diamentowa końcówka głowicy przesuwa się po badnym detalu, rejestrując nierówności w skali nano.

  • Plug & Measure

    System automatycznie rozpoznaje podłączoną głowicę pomiarową i natychmiast ładuje jej właściwe parametry kalibracyjne oraz zakres pracy.

Plug & Measure – automatyczna identyfikacja głowic

System samoczynnie rozpoznaje podłączone głowice i wczytuje ich parametry pracy. Dzięki temu pomiar można rozpocząć natychmiast po zamocowaniu głowicy, bez dodatkowej kalibracji.
Użytkownik nie musi ręcznie konfigurować ustawień ani wprowadzać korekt.

Pomiar topografii 3D oraz parametrów Twist

Zastosowanie stolika CNC oraz jednostki obrotowej umożliwiają automatyczne pozycjonowanie detalu. Dzięki temu system pozwala mierzyć parametry topografii powierzchni oraz Twist (skręcenie, Drall).
Pełny obraz struktury powierzchni i możliwość wykrywania cech niewidocznych w klasycznym profilu 2D.
Oprogramowanie Evovis chropowatość

Oprogramowanie Evovis

Oprogramowanie umożliwia pełną analizę danych, porównywanie profilów, raportowanie oraz eksport do systemów SPC w formacie Q-DAS i ASCII. Jest zgodne z nową normą ISO 21920 i umożliwia tworzenie automatycznych szablonów pomiarowych.
Pełna zgodność z wymaganiami audytów jakości i łatwe raportowanie wyników

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Zadzwoń +48 61 222 58 11

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna stacjonarnego przyrządu do pomiaru konturu i chropowatości Waveline W800R/W900R
Model:
W800R
W900R
Głowica:
TKU400
TKU400
Zakres pomiarowy:
do 1600 µm
do 1600 µm
Rozdzielczość:
od 1 nm
od 1 nm
Nacisk pomiarowy:
0,8 mN
0,8 mN
Identyfikacja ramienia pomiarowego:
tak
tak
Regulacja nacisku pomiarowego:
tak
tak
Końcówka pomiarowa:
diamentowa 2 µm/90˚
diamentowa 2 µm/90˚
Mocowanie końcówki pomiarowej:
magnetyczne
magnetyczne
Zakres pomiarowy w osi X:
120/200 mm
120/200 mm
Rozdzielczość w osi X:
0,1 µm
0,01 µm
Prędkość pomiarowa:
0,1-3 mm/s
0,1-3 mm/s
Prędkość pozycjonowania w osi X:
do 20 mm/s
do 200 mm/s
Prostoliniowość jednostki napędowej:
≤0,4 µm/120 mm
≤0,6 µm/200 mm
≤0,2 µm/120 mm
≤0,4 µm/200 mm
Zakres pionowy przesuwu kolumny pomiarowej:
500 lub 800 mm
500 lub 800 mm
Funkcja automatycznego zerowania:
tak
tak
Prędkość pozycjonowania w osi Z:
do 20 mm/s
do 80 mm/s
Powtarzalność pozycjonowania w osi Z:
≤50 µm
≤10 µm
Wymiary płyty granitowej:
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
700x520x100 mm lub 1000x520x140 mm
Opcje:
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
stolik X Y, aktywny system tłumienia drgań, akcesoria
Rozwiń pełną specyfikację

Oprogramowanie

  •
    Oprogramowanie EVOVIS do pomiaru chropowatości i konturu
    • Oprogramowanie do pomiaru chropowatości i konturu z ujednoliconym interfejsem i interaktywną analizą profilu
    • Ponad 100 parametrów P, R i W zgodnych z DIN/ISO/JIS oraz obsługa nowej normy ISO 21920
    • Praca w środowisku Windows z polskim interfejsem oraz komunikacją z Wordem i Excelem

    Kiedy wybrać:
    Gdy chcesz w jednym programie oceniać chropowatość i kontur oraz generować kompletne raporty zgodne z aktualnymi normami.

    Dowiedz się więcej
  • Oprogramowanie MountainsMap – analiza topografii i tekstury powierzchni 2D/3D
    • Oprogramowanie do analizy topografii powierzchni 2D/3D, uznane za standard w metrologii powierzchni
    • Pełny zestaw narzędzi od korekcji danych, filtracji i obliczania parametrów zgodnie z normami po analizę funkcjonalną, powłok, cząstek, widma i ewolucji powierzchni.
    • Rozszerzalność przez moduły opcjonalne (SPM, shell topography, SEM, colocalization, lead, analiza wieloskalowa)

    Kiedy wybrać:
    Gdy potrzebujesz jednej platformy do analizy danych z profilometrów i mikroskopów, zgodnej z normami.

    Dowiedz się więcej

Wzorcowanie? My się tym zajmiemy

Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje profilometry stykowe . Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.

Zobacz więcej

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Jakie parametry można mierzyć systemem W800R/W900R?

Wszystkie znormalizowane parametry chropowatości, falistości oraz i profilu pierwotnego. Możliwa jest również rozbudowa systemu o pomiary topografii powierzchni oraz parametrów TWIST.

Czym różnią się modele W800R i W900R?

W900 posiada dodatkowe mocowanie głowicy od czoła jednostki napędowej. Oferuje również wyższą rozdzielczość napędu oraz kolumny i wyższe prędkości pozycjonowania.

Czy można wykonywać pomiary 3D?

Tak, po dodaniu stolika CNC pracującego w osi Y możliwy jest pomiar topografii powierzchni. System można również rozbudować o jednostkę obrotową celem pomiaru parametrów TWIST.

Czy system można rozbudować o pomiar konturu?

Tak, seria Waveline W800/900 jest modułowa – można dodać funkcje konturografu z wykorzystaniem głowicy Digiscan, Surfscan lub Nanoscan.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Pliki do pobrania

Broszura informacyjna urządzeń Waveline W800/W900

pdf • 1.4 MB
Pobierz

Powiązane akcesoria i produkty

Powiązane wpisy

  • Robot z głowicą skanującą w komórce CUBE-R; podgląd trajektorii skanowania na ekranach
    Artykuł naukowy
    15 minut

    Wyzwania metrologii w kontekście przemysłu przyszłości

    Czytaj
logo-ITA
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań
+48 61 222 58 00 Pokaż

Oferta

ITA

Przydatne linki

2025 © Copyright ITA. Wszelkie prawa zastrzeżone