28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Skanery elementów obrotowych Opticline
Skaner elementów obrotowych Opticline C
Kiedy wybrać:
Gdy mierzysz wałki toczone i szlifowane o długości do 1200 mm i średnicy do 230 mm.
Zapytaj o ofertę
Opticline C to optyczny, wysoce precyzyjny system do pomiaru wałów i elementów obrotowych, zbudowany z zespołu kamer i źródła światła poruszających się wzdłuż osi obrotu detalu. W jednej operacji urządzenie zbiera kontur i błyskawicznie oblicza wiele cech pomiarowych – średnice, długości, promienie, kąty czy odchyłki geometryczne. Wiarygodność pomiarów zapewnia autokontrola na wbudowanych wzorcach oraz kompensacja temperaturowa, co eliminuje wpływ zmiennych warunków środowiskowych.
Seria C obejmuje szeroką gamę samodzielnych stanowisk pomiarowych, które mogą pracować zarówno w warunkach laboratoryjnych, jak i bezpośrednio na hali produkcyjnej. Specyfikacja techniczna pozwala na pomiar części także po procesie szlifowania, zapewniając wysoką dokładność i powtarzalność pomiarów. Zakres pomiarowy obejmuje części o długościach do 1200 mm oraz średnicach do 230 mm. Opticline C jest przygotowany do integracji z systemami SPC oraz może być wyposażony w moduł do integracji z automatyką. W przeszłości istniała dedykowana linia CA do pełnej automatyzacji, dziś rolę tę pełnią akcesoria i moduły serii C – podajniki, uchwyty oraz interfejsy PLC. Dzięki temu system łatwo dopasować do potrzeb zakładu i w przyszłości rozbudować go o kolejne elementy automatyzacji.
Technologia zbierania konturu elementu, w której zespół składający się ze źródła światła i kamer rejestruje profil części poruszając się wzdłuż jej osi. Zastosowana metoda pozwala na bardzo szybki i dokładny pomiar cech statycznych (np. średnice, promienie, długości) i dynamicznych (np. odchyłki kształtu i położenia).
System Opticline C może być wyposażony w dodatkową głowicę stykową TSP lub T3D, które umożliwiają pomiar cech niewidocznych dla technologii optycznej, takich jak rowki wpustowe, otwory czy parametry kół zębatych.
Systemy Opticline C wyposażone są w interfejsy do integracji z systemami SPC oraz komunikacji za pomocą modułów PLC. Dane pomiarowe mogą być na bieżąco wysyłane do systemów zarządzania jakością, a pomiar może być realizowany z udziałem zautomatyzowanego systemu załadunku części.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz systemów Opticline i potrzebujesz oprogramowania, które umożliwi szybkie tworzenie planów, powtarzalne pomiary wałków i łatwe powiązanie wyników z produkcją.
Aby urządzenie zachowało deklarowaną dokładność, potrzebuje okresowego wzorcowania. Możesz je wykonać w Laboratorium ITA, akredytowanym wg ISO 17025, które wzorcuje urządzenia serii Opticline. Dzięki temu masz pewność wiarygodnych wyników i zgodności z wymaganiami jakości.
Wały, wałki, osiowe elementy obrotowe o długości do 1200 mm i średnicy do 230 mm.
Długości, średnice, kąty, promienie, odchyłki kształtu i położenia (okrągłość, walcowość, bicie, prostoliniowość, równoległość), gwinty i odchyłki od profilu nominalnego.
Błąd pomiarowy specyfikowany jest zgodnie z normą EN ISO 10360 oraz VDI/VDE 2617 i wynosi: (1,0+D[mm] /200) µm dla pomiarów średnic oraz (2,6+L[mm] /200) µm dla pomiarów długości. Błąd oraz specyfikowana powtarzalność jest każdorazowo potwierdzana podczas wzorcowania systemu.
Tak, system Opticline jest zbudowany do pracy w trudnych warunkach przemysłowych. Posiada systemy kompensujące wpływ warunków środowiskowych na wyniki oraz zawiera systemy bezpieczeństwa pracy operatora.
Tak, Opticline C można doposażyć w akcesoria i moduły do automatyzacji. Seria C ma pełną integrację z systemami SPC, robotami i PLC, a więc w pełni zastępuje wcześniej oferowaną serię CA.
Opticline może być stosowany we wszystkich branżach, gdzie potrzebny jest szybki i wiarygodny pomiar części obrotowo-symetrycznych wykonywanych w procesach toczenia i szlifowania. Typowe branże to automotive, lotnictwo, branża hydrauliczna oraz medyczna.
Broszura informacyjna linii produktów OpticLine
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania do pomiaru wałków toczonych o mniejszych wymiarach.
Kiedy wybrać:
Gdy kontrolujesz duże i ciężkie wałki wymagające precyzyjnej metrologii w środowisku produkcyjnym.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania do pomiaru wałków toczonych o mniejszych wymiarach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz zwiększyć funkcjonalność systemów serii C i rozszerzyć zakres mierzonych cech.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
