Spektrometry XRF, iskrowe (OES) i optyczne – analiza składu stopów metali i złota

• Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
• Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
• Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.

• Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
• Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
• Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.

Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.

• Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
• Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.

• Wyposażony w matrycę CMOS o wysokiej czułości, aby zapewnić najlepszą jasność, wraz z długością fali od 119 nm do 850 nm.
• Nadaje się do wymagających zastosowań.
• Kontrola jakości w metalu- analiza z wykorzystaniem OES/RDE.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i bardzo precyzyjnej analizy składu metali i stopów w laboratorium.

• Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
• Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
• Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.

• Nieniszcząca analiza złota i metali szlachetnych.
• Precyzyjny pomiar powłok złota i rodu.
• Szybkie wyniki (20–100 s) i intuicyjna obsługa.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.

• Kompaktowy i niezawodny spektrometr do analizy m.in stali, stopów aluminium i miedzi.
• Wysoka jakość pomiarów przy niewielkich rozmiarach urządzenia.
• Progi detekcji dla większości pierwiastków już od 50 ppm (0,005%).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego spektrometru do codziennych analiz składu pierwiastkowego.

• Kompaktowy i niezawodny spektrometr do analizy m.in stali, stopów aluminium i miedzi.
• Możliwość analizy azotu w stalach oraz litu i sodu w aluminium.
• Progi detekcji dla większości pierwiastków już od 10 ppm (0,001%).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz kompaktowego spektrometru do zaawansowanych analiz składu pierwiastkowego.

• Dokładne pomiary powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).
• Pomiary powłok galwanicznych w tym wielowarstwowych.
• Programowalny stolik XY – wygoda i powtarzalność pomiarów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.

• Szybkie i precyzyjne analizy składu stali oraz stopów miedzi, aluminium, niklu, tytanu czy kobaltu.
• Solidna, mobilna konstrukcja dedykowana do pracy w terenie.
• Oprogramowanie umożliwiające określenie typu stopu oraz tworzenie raportów z analiz.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnie badać skład bez wycinania próbki materiału.

• Nieniszczące pomiary powłok jedno i wielowarstwowych.
• Szybkie pomiary również na dużych próbkach (5–30 s).
• Ręczny stolik XY – precyzyjny wybór miejsca pomiaru.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.

• Rozbudowane stanowisko do analiz składu stali, aluminium i innych stopów.
• Możliwość analizy zawartości azotu w stalach oraz litu i sodu w aluminium.
• Komora optyczna o dużej ogniskowej 500 mm.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wszechstronnego laboratoryjnego spektrometru.

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Stały kolimator i nieruchomy stolik pomiarowy.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Analiza metali pochodzących ze zużycia części mechanicznych w olejach.
• Wczesne wykrywanie awarii maszyn.
• Zgodność z normami ASTM i D6595-00.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz monitorować obecność metali zużyciowych w oleju silnikowym.

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.

Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
• Badanie składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.

• Bardzo szybkie pomiary grubości powłok na małych detalach w elektronice.
• Możliwość analizowania struktur o wielkości od 20 μm.
• Zautomatyzowane pomiary dzięki programowalnemu stolikowi XY, zwiększona precyzja i efektywność.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.

• Precyzyjne analizy śladowych ilości pierwiastków.
• Analiza ciekłych próbek środowiskowych, żywnościowych, biologicznych oraz przemysłowych.
• Niewielka ilość materiału potrzebnego do analizy (5μl).

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz analizy śladowych ilości pierwiastków z wykorzystaniem technologii TXRF.

• Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
• Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
• Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Precyzyjne analizy śladowych ilości pierwiastków w ciekłych próbkach.
• Jednoczesna analiza wielu pierwiastków od Na do Pu.
• Zautomatyzowany stolik dla 12 próbek oraz możliwość pracy w atmosferze helu.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć śladowe ilości pierwiastków z wykorzystaniem technologii TXRF.

• Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
• Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
• Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.

• Fotopowielacze i matryce CMOS dla niskich progów detekcji i elastyczności systemu.
• Próżniowa komora optyczna o dużej ogniskowej, umożliwiająca analizę śladowych ilości pierwiastków.
• Szeroki zakres analiz stopów metali kolorowych i stali, w tym stali nierdzewnych, aluminium, miedzi i tytanu.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć śladowe ilości pierwiastków w stopach metali.