Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 Helmut Fischer

• Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
• Stały kolimator i nieruchomy stolik pomiarowy.
• Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
  
  

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

• Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
• Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
• Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.

• Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
• Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.

• Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
• Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
• Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.

Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.

• Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
• Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
• Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.

• Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
• Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
• Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.