FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 to kompaktowy spektrometr rentgenowski do nieniszczącego pomiaru grubości powłok oraz analizy składu materiałowego. Urządzenie przeznaczone jest do pracy laboratoryjnej, gdzie liczy się precyzja, powtarzalność i szybka kontrola jakości.
Użytkownik otrzymuje szybkie i precyzyjne wyniki pomiarów bez konieczności niszczenia próbek, co obniża koszty kontroli jakości i przyspiesza proces produkcyjny.
-
XRF – Rentgenowska spektrometria fluorescencyjna
Technologia XRF umożliwia bezkontaktowy, szybki i nieniszczący pomiar grubości powłok oraz składu chemicznego materiałów. Pomiar odbywa się poprzez analizę promieniowania fluorescencyjnego wzbudzanego przez lampę rentgenowską.
-
Detektor półprzewodnikowy PIN
Zaawansowany detektor półprzewodnikowy PIN zapewnia doskonałą rozdzielczość energetyczną i bardzo niski poziom szumów. Pozwala to na precyzyjne badanie cienkich warstw i skomplikowanych układów wielopowłokowych.
Nieniszczący pomiar
Urządzenie pozwala mierzyć grubość powłok oraz analizować skład chemiczny bez ingerencji w badany element. Dzięki temu próbki nie tracą swojej wartości użytkowej i mogą wrócić do dalszej produkcji.
Oszczędność materiału i brak strat produkcyjnych.
Automatyczna analiza i szybkie wyniki
System oferuje szybkie pomiary, które mogą trwać od kilku do kilkudziesięciu sekund. Oprogramowanie automatycznie przelicza wyniki i generuje raporty.
Skrócenie czasu kontroli jakości.
Uniwersalne zastosowanie
XAN® 215 znajduje zastosowanie w galwanotechnice, przemyśle metalowym, elektronicznym i motoryzacyjnym oraz jubilerstwie. Umożliwia kontrolę powłok niklowych, chromowych, pokryć jubilerskich (złoto, pallad, rod) oraz wielu innych.
Jedno urządzenie do wielu zastosowań.