WYDARZENIE TESTOWE NR 1

28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE

Sprawdź szczegóły
search
koszyk
koszyk
search
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Spektrometry
  5. > Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 Helmut Fischer

Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 Helmut Fischer

  • Przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych.
  • Badanie grubości powłok i kąpieli galwanicznych.
  • Ekonomiczny wybór dla branży jubilerskiej.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.

Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży

Zainteresował Cię ten produkt?

Spektrometr rentgenowski FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215

Opis

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 to kompaktowy spektrometr rentgenowski do nieniszczącego pomiaru grubości powłok oraz analizy składu materiałowego. Urządzenie przeznaczone jest do pracy laboratoryjnej, gdzie liczy się precyzja, powtarzalność i szybka kontrola jakości.

Użytkownik otrzymuje szybkie i precyzyjne wyniki pomiarów bez konieczności niszczenia próbek, co obniża koszty kontroli jakości i przyspiesza proces produkcyjny.

Technologia

  • XRF – Rentgenowska spektrometria fluorescencyjna

    Technologia XRF umożliwia bezkontaktowy, szybki i nieniszczący pomiar grubości powłok oraz składu chemicznego materiałów. Pomiar odbywa się poprzez analizę promieniowania fluorescencyjnego wzbudzanego przez lampę rentgenowską.

  • Detektor półprzewodnikowy PIN

    Zaawansowany detektor półprzewodnikowy PIN zapewnia doskonałą rozdzielczość energetyczną i bardzo niski poziom szumów. Pozwala to na precyzyjne badanie cienkich warstw i skomplikowanych układów wielopowłokowych.

Nieniszczące badanie pierścionka ze złota w spektrometrze XRF XAN 215

Nieniszczący pomiar

Urządzenie pozwala mierzyć grubość powłok oraz analizować skład chemiczny bez ingerencji w badany element. Dzięki temu próbki nie tracą swojej wartości użytkowej i mogą wrócić do dalszej produkcji.
Oszczędność materiału i brak strat produkcyjnych.
Obsługa spektrometru FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215 i analiza wyników na komputerze

Automatyczna analiza i szybkie wyniki

System oferuje szybkie pomiary, które mogą trwać od kilku do kilkudziesięciu sekund. Oprogramowanie automatycznie przelicza wyniki i generuje raporty.
Skrócenie czasu kontroli jakości.
Badanie składu metali szlachetnych w spektrometrze XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215

Uniwersalne zastosowanie

XAN® 215 znajduje zastosowanie w galwanotechnice, przemyśle metalowym, elektronicznym i motoryzacyjnym oraz jubilerstwie. Umożliwia kontrolę powłok niklowych, chromowych, pokryć jubilerskich (złoto, pallad, rod) oraz wielu innych.
Jedno urządzenie do wielu zastosowań.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215
Model:
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 215
Kierunek pomiaru:

z dołu do góry

Typ detektora:

PIN

Stolik pomiarowy:

nieruchomy

Zakres ruchów stolika:

310x320mm

Maksymalna masa próbki:

13 kg

Filtry:

brak

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,1 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

310x320x90 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

403x588x365 mm

Masa:

45 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568

Certyfikaty:

Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Rozwiń pełną specyfikację

Oprogramowanie

Wzorcowanie i utrzymanie dokładności

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Czy urządzenie niszczy próbkę podczas pomiaru?

Nie, pomiar odbywa się w pełni nieniszcząco. Próbka po badaniu może wrócić do dalszego użytkowania lub produkcji.

Jakie powłoki można mierzyć?

Urządzenie mierzy m.in. powłoki chromowe, niklowe, bardzo cienkie powłoki w elektronice oraz wiele innych warstw metalicznych już od kilkudziesięciu nanometrów. Zakres zależy od konfiguracji.

Czy urządzenie nadaje się do pracy ciągłej?

Tak, FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 przystosowany jest do intensywnej pracy laboratoryjnej i kontroli seryjnej.

Czy pomiary wymagają skomplikowanej kalibracji?

Nie, system oferuje gotowe procedury kalibracyjne, a obsługa jest intuicyjna. Dodatkowo wraz z producentem oferujemy wsparcie serwisowe.

Czy urządzenie wspiera raportowanie danych?

Tak, oprogramowanie umożliwia zapis wyników, eksport danych oraz generowanie raportów jakościowych.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.