FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222

Spektrometr

Producent: HELMUT FISCHER

Spektrometr XAN 220 został zoptymalizowany do szybkich i nieniszczących analiz biżuterii, metali szlachetnych, stopów dentystycznych, białego i żółtego złota, platyny, srebra, rodu i wszystkich stopów i powłok jubilerskich. Prawidłowe stosowanie spektrometru daje wyniki porównywalne z metodą kupelacyjną bez niszczenia próbki. Spektrometr wyposażony jest w nowy wysokorozdzielczy detektor SDD. W efekcie zapewnia najwyższą precyzję i bardzo niskie progi detekcji. W czasie rzędu sekund zostaje określona koncentracja poszczególnych pierwiastków w próbce.

Masz pytania? Chcesz zamówić? Skontaktuj się z nami!

Dowiedz się więcej

Spektrometr FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222

+ 03

Opis produktu

Usługa pomiarowa

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja zdalna

Spektrometr XAN 220 / 222 został zoptymalizowany do szybkich i nieniszczących analiz biżuterii, metali szlachetnych, stopów dentystycznych, białego i żółtego złota, platyny, srebra, rodu i wszystkich stopów i powłok jubilerskich. Prawidłowe stosowanie spektrometru daje wyniki porównywalne z metodą kupelacyjną bez niszczenia próbki. Spektrometr wyposażony jest w nowy wysokorozdzielczy detektor SDD. W efekcie zapewnia najwyższą precyzję i bardzo niskie progi detekcji. W czasie rzędu sekund zostaje określona koncentracja poszczególnych pierwiastków w próbce.

Cechy produktu:

urządzenie przeznaczone do badania składu złota i metali szlachetnych
badanie grubości powłok w przemyśle jubilerskim i złotniczym
zoptymalizowany pod kątem analizy stopów złotniczych
dzięki zastosowaniu detektora SDD pozwala na zaawansowane analizy składu

Zastosowanie:

analizy złota i metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i zegarmistrzowskim
analizy stopów dentystycznych

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XAN 220/222

Kierunek pomiaru:

od dołu do góry

Typ detektora:

detektor półprzewodnikowy SDD

Stolik pomiarowy:

XAN 222 – ręczny

Stolik pomiarowy:

XAN 220 – nieruchomy

Zakres ruchu stolika:

XAN 222 - 30x40 mm

Zakres ruchu stolika:

XAN 220 - nie dotyczy

Maksymalna masa próbki:

XAN 222 – 2 kg

Maksymalna masa próbki:

XAN 220 – 13 kg

Filtry:

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimator:

ø1 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

XAN 222 - 310x320x174 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Masa:

45 kg

Wymiary:

XAN 220 - 310x320x90 mm

Wymiary:

XAN 222 - 444x588x365

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Do pobrania

Broszura informacyjna FISCHERSCOPE X-ray XAN 220 Pobierz

Kadm i ołów w biżuterii Pobierz

Badanie składu stopów srebra Pobierz

Analiza składu wybielanych srebrnych przedmiotów Pobierz

Spektrometry XRF w skupach złota i metali szlachetnych Pobierz

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Główny kucharz • 2025-04-12

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Jan Kowalski

Specjalista ds. Rozwoju • 2025-04-23

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Joanna Doe

Apple • 2025-04-14

Torquem detraxit hosti et quidem faciunt, ut aut fugiat aliquid, praeter voluptatem accusantium doloremque laudantium, totam rem aperiam eaque ipsa, quae sine causa? quae fuerit causa ab…

Martyna Mniszek

Google • 2025-04-29