28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Zapytaj o ofertę
XAN 220 to kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF) zoptymalizowany do szybkiej, precyzyjnej i całkowicie nieniszczącej analizy składu stopów metali szlachetnych, ich powłok oraz bardzo cienkich powłok galwanicznych. Umożliwia jednoczesny pomiar do 24 pierwiastków w zakresie od chloru (17) do uranu (92).
Dzięki wysokiej precyzji i stabilności, znacząco skraca czas potrzebny na weryfikację próbek, eliminując potrzebę przeprowadzania kosztownych i niszczących testów.
Możliwość pomiaru niezależnego od odległości głowicy pomiarowej od przedmiotu. Ułatwia to precyzyjny pomiar próbek o nieregularnych kształtach. Redukuje potrzebę częstej ponownej kalibracji urządzenia, oszczędzając czas i pieniądze.
Zintegrowany system optyczny z powiększeniem cyfrowym (do 4x) oraz laserowym wskaźnikiem pozycji plamki pomiarowej. Pozwala na bardzo dokładne pozycjonowanie nawet najmniejszych elementów.
Detektor o zoptymalizowanej czułości, idealny do aplikacji metali szlachetnych oraz cienkich powłok galwanicznych. Zapewnia doskonałą rozdzielczość energetyczną dla pierwiastków w zakresie analizowanym przez XAN 220.
Nie, urządzenie jest zoptymalizowane dla metali szlachetnych, ale jego zakres pomiarowy obejmuje pierwiastki od chloru (Cl, numer 17) do uranu (U, numer 92). Może być stosowany do analizy stopów dentystycznych, platyny, rodu oraz innych metali i ich powłok a także węglików spiekanych i bardzo cienkich powłok.
Spektrometr wykorzystuje fluorescencję rentgenowską (XRF). Wiązka promieniowania wzbudza atomy w próbce, które następnie emitują charakterystyczne promieniowanie wtórne. Analiza tego promieniowania pozwala określić skład bez dotykania czy niszczenia materiału.
Urządzenia FISCHER X-RAY są zaprojektowane z myślą o maksymalnym bezpieczeństwie. Posiadają w pełni osłoniętą komorę pomiarową, co eliminuje ekspozycję operatora na promieniowanie. W większości krajów nie są wymagane specjalne uprawnienia radiologiczne do jego obsługi.
Analiza XRF jest bardzo szybka. Typowy pomiar trwa zazwyczaj od kilku do kilkudziesięciu sekund. Całkowity czas od umieszczenia próbki do uzyskania ostatecznego raportu jest znacznie krótszy niż w przypadku tradycyjnych, niszczących metod.
Tak, XAN 220 jest przystosowany do analizy grubości powłok, w tym powłok wielowarstwowych. Jest to kluczowe zastosowanie w branży biżuteryjnej i galwanotechnicznej, umożliwiające kontrolę jakości osadzanych warstw.
Broszura informacyjna FISCHERSCOPE X-ray XAN 220
Kadm i ołów w biżuterii
Badanie składu stopów srebra
Analiza składu wybielanych srebrnych przedmiotów
Spektrometry XRF w skupach złota i metali szlachetnych
Spektrometry XRF w skupach złota i metali szlachetnych
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na sucho i na mokro.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz jednoczesnego pomiaru z wielu sond.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz w jednym pomiarze mieć grubość cynku oraz farby.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
