06 października , Gliwice
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry XRF i OES
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry XRF i OES
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Zapytaj o ofertę
XAN 250/252 to wysokiej klasy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF), zaprojektowany do nieniszczących pomiarów grubości powłok oraz składu materiałowego metali i stopów (w tym metali szlachetnych). Sprawdza się również w analizach pierwiastków śladowych i kontroli zgodności z regulacjami, takimi jak RoHS (Restriction of Hazardous Substances).
Dla laboratoriów, firm jubilerskich, producentów elektroniki czy galwanizatorni XAN 250/252 oferuje wszechstronne narzędzie pomiarowe, umożliwiające kompleksową kontrolę jakości.
XAN 250/252 wykorzystuje rentgenowską lampę typu mikrofocus z anodą wolframową oraz detektor półprzewodnikowy (SDD). Pomiar realizowany jest w geometrii od dołu, co stabilizuje pozycjonowanie próbki.
Dostępne są cztery zmienne kolimatory (0,2 mm; 0,6 mm; 1 mm; 2 mm) oraz zestaw filtrów optymalizujących pomiar. Procesor impulsów DPP+ zwiększa szybkość przetwarzania i wydajność pomiarów.
Spektrometry XAN 250/252 umożliwiają pomiary próbek o różnych wysokościach, w zależności od modelu — nawet do ok. 170 mm w modelu XAN 252. Pozwala mierzyć zarówno małe detale, jak i większe komponenty przemysłowe.
Jeden sprzęt zastępuje wiele urządzeń laboratoryjnych.
Wiarygodne wyniki, kluczowe przy analizach krytycznych materiałów i powłok.
Jedno urządzenie dopasowuje się do różnorodnych zastosowań.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania.
Przyjedziemy do Twojej firmy i pokażemy urządzenie w akcji. Sprawdzisz je w praktyce i dostaniesz konkretne odpowiedzi.
Tak, urządzenie pozwala mierzyć powłoki o grubości od kilku nanometrów, co jest szczególnie istotne w elektronice i galwanizacji i branży jubilerskiej.
Tak, XAN pozwala określić skład materiałowy metali i stopów, a także wykrywać pierwiastki w niskich stężeniach, także w kontekście norm RoHS.
Tak, oprogramowanie i prosta konstrukcja pozwalają szybko przeprowadzać pomiary seryjne oraz rutynowe testy jakości.
XAN 250 ma nieruchomy stolik i dopuszcza cięższe próbki (do ok. 13 kg), natomiast XAN 252 posiada ułatwiający pozycjonowanie stolik manualny z zakresem ruchu 30×40 mm wymagając lżejszych próbek (ok. 2 kg).
Tak, XAN 250/252 to w pełnoosłonny spektrometr, zgodny z przepisami ochrony radiologicznej i normami CE.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
