Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Fluorescencja rentgenowska (EDXRF)
XAN 250/252 wykorzystuje rentgenowską lampę typu mikrofocus z anodą wolframową oraz detektor półprzewodnikowy (SDD). Pomiar realizowany jest w geometrii od dołu, co stabilizuje pozycjonowanie próbki.
WYDARZENIE TESTOWE NR 1
28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Popularne
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Spektrometry
-
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252 Helmut Fischer
- Pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów.
- Cztery automatycznie przełączane rozmiary powierzchni pomiarowych.
- Badanie składu metali szlachetnych i kąpieli galwanicznych.
Kiedy wybrać:
Gry potrzebujesz uniwersalnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży
Zainteresował Cię ten produkt?
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250/252 — uniwersalny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF) do analizy metali, stopów i powłok
Opis
XAN 250/252 to wysokiej klasy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF), zaprojektowany do nieniszczących pomiarów grubości powłok oraz składu materiałowego metali i stopów (w tym metali szlachetnych). Sprawdza się również w analizach pierwiastków śladowych i kontroli zgodności z regulacjami, takimi jak RoHS (Restriction of Hazardous Substances).
Dla laboratoriów, firm jubilerskich, producentów elektroniki czy galwanizatorni XAN 250/252 oferuje wszechstronne narzędzie pomiarowe, umożliwiające kompleksową kontrolę jakości.
Technologia
-
-
Kolimatory i filtry + cyfrowy procesor impulsów DPP+
Dostępne są cztery zmienne kolimatory (0,2 mm; 0,6 mm; 1 mm; 2 mm) oraz zestaw filtrów optymalizujących pomiar. Procesor impulsów DPP+ zwiększa szybkość przetwarzania i wydajność pomiarów.
-
Komora pomiarowa
Spektrometry XAN 250/252 umożliwiają pomiary próbek o różnych wysokościach, w zależności od modelu — nawet do ok. 170 mm w modelu XAN 252. Pozwala mierzyć zarówno małe detale, jak i większe komponenty przemysłowe.
Szeroki zakres zastosowań
XAN 250/252 umożliwia pomiary grubości powłok od kilku nanometrów, analizę składu stopów oraz wykrywanie pierwiastków szkodliwych zgodnie z normami RoHS. Jest narzędziem uniwersalnym dla wielu branż.
Jeden sprzęt zastępuje wiele urządzeń laboratoryjnych.
Wysoka czułość i precyzja
Detektory SDD oraz technologia DPP+ zapewniają wysoką rozdzielczość, czułość i niski poziom szumów. Pomiary są stabilne i powtarzalne zarówno przy krótkich, jak i dłuższych czasach wzbudzenia.
Wiarygodne wyniki, kluczowe przy analizach krytycznych materiałów i powłok.
Elastyczna konfiguracja i obsługa różnych typów próbek
Dzięki wymiennym kolimatorom, filtrom, stolikowi pomiarowemu (XAN 252) oraz dużej komorze możliwe jest badanie szerokiej gamy próbek: od biżuterii, przez elementy elektroniczne, po próbki przemysłowe.
Jedno urządzenie dopasowuje się do różnorodnych zastosowań.
Oprogramowanie
-
Oprogramowanie WinFTM do spektrometrów XRF FISCHER
- Oprogramowanie do sterowania spektrometrami FISCHERSCOPE X-RAY i analizy wyników pomiarów XRF
- Automatyzacja pomiarów seryjnych, regulacja parametrów XRF, pomiar DCM i rozbudowana statystyka SPC z Cp/Cpk
- Konfigurowalne raporty, dokumentacja kalibracji i obsługa metod kalibracyjnych oraz parametrów fundamentalnych
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do seryjnych pomiarów, analizy statystycznej i profesjonalnego raportowania.
Wzorcowanie i utrzymanie dokładności
Najczęściej zadawane pytania
FAQ
Czy XAN 250/252 umożliwia pomiary bardzo cienkich powłok?
Tak, urządzenie pozwala mierzyć powłoki o grubości od kilku nanometrów, co jest szczególnie istotne w elektronice i galwanizacji i branży jubilerskiej.
Czy możliwa jest analiza stopów oraz pierwiastków śladowych?
Tak, XAN pozwala określić skład materiałowy metali i stopów, a także wykrywać pierwiastki w niskich stężeniach, także w kontekście norm RoHS.
Czy urządzenie jest szybkie i łatwe w obsłudze?
Tak, oprogramowanie i prosta konstrukcja pozwalają szybko przeprowadzać pomiary seryjne oraz rutynowe testy jakości.
Czym różnią się modele XAN 250 i XAN 252?
XAN 250 ma nieruchomy stolik i dopuszcza cięższe próbki (do ok. 13 kg), natomiast XAN 252 posiada ułatwiający pozycjonowanie stolik manualny z zakresem ruchu 30×40 mm wymagając lżejszych próbek (ok. 2 kg).
Czy urządzenie spełnia wymagania bezpieczeństwa?
Tak, XAN 250/252 to w pełnoosłonny spektrometr, zgodny z przepisami ochrony radiologicznej i normami CE.
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Powiązane akcesoria i produkty
-
- Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
- Badanie składu kąpieli galwanicznych.
- Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach. -
Bestseller
- Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
- Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami i wyświetlaczem chronionym przez Gorilla Glass.
- Mierniki posiadają komunikację USB, Bluetooth, pamięć 2500 kalibracji oraz sygnalizację wibracyjną i świetlną.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach.
Obserwuj nas
