Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Detektor SDD
Detektor półprzewodnikowy SDD zapewnia wysoką rozdzielczość energetyczną oraz bardzo dobrą czułość na cienkie warstwy i analizę składu pierwiastkowego. Umożliwia szybkie pomiary nawet w wymagających aplikacjach.
WYDARZENIE TESTOWE NR 1
28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Popularne
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Spektrometry
-
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 Helmut Fischer
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 Helmut Fischer
- Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
- Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
- Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.
Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży
Zainteresował Cię ten produkt?
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 Helmut Fischer
Opis
FISCHERSCOPE XDAL 600 to nabiurkowy spektrometr XRF do precyzyjnego, nieniszczącego pomiaru bardzo cienkich warstw oraz analizy materiałowej. Urządzenie pracuje w konfiguracji z pomiarem od góry z rentgenowską typu microfocus i detektorem SDD.
Pozwala szybko i pewnie kontrolować procesy produkcyjne, minimalizować odpady i zmniejszać ryzyko błędów jakościowych.
Technologia
-
-
Lampa rentgenowska typ microfocus
Źródło promieniowania o wysokim stopniu skupienia zapewnia wysoką intensywność wiązki i stabilność. Umożliwia analizę cienkich powłok i małych struktur.
-
WinFTM z DPP+
Oprogramowanie współpracujące z cyfrowym procesorem impulsowym DPP+ zwiększa dokładność analizy widma oraz skraca czas potrzebny do uzyskania stabilnego wyniku.
Precyzyjny pomiar bardzo cienkich warstw
XDAL 600 pozwala mierzyć powłoki nawet poniżej 0,1 μm, co jest kluczowe w elektronice, PCB i galwanizacji. Wysoka czułość i rozdzielczość umożliwiają analizę złożonych układów wielowarstowych.
Dokładna kontrola produkcji i oszczędność materiałów.
Szybka i intuicyjna obsługa
Urządzenie posiada dużą komorę, w której umieszczony jest ergonomiczny stolik nożycowy oraz intuicyjny interfejs użytkownika. Pomiar wymaga jedynie kilku kroków i minimalnego szkolenia operatora.
Krótszy czas pracy i mniejsze ryzyko błędów.
Kompaktowa konstrukcja z pomiarem od góry
Układ pomiarowy umożliwiający pomiary od góry ułatwia pozycjonowanie próbek i umożliwia analizę elementów o różnych kształtach. Zmienne kolimatory i filtry pozwalają na idealne dopasowanie parametrów urządzenia do wybranej aplikacji.
Większa elastyczność w kontroli jakości.
Wzorcowanie i utrzymanie dokładności
Najczęściej zadawane pytania
FAQ
Do jakich zastosowań najlepiej sprawdza się XDAL 600?
Urządzenie jest przeznaczone do pomiaru cienkich powłok, analizy materiałowej, kontroli powłok typu ENIG/ENEPIG, elementów elektronicznych oraz galwanizacji.
Czy spektrometr wymaga specjalnych warunków pracy?
Nie, potrzebne jest jedynie stabilne stanowisko oraz standardowe zasilanie. Urządzenie jest pełnoosłonne i spełnia wymagania prawa dotyczącego ochrony radiologicznej.
Jak szybko można uzyskać wynik pomiaru?
Dzięki detektorowi SDD i procesorowi DPP+ stabilne wyniki są dostępne w kilka sekund, zależnie od aplikacji.
Czy XDAL 600 obsługuje automatyczne pomiary?
Nie, urządzenie posiada uproszczony układ pomiarowy gwarantując przy tym najwyższą precyzję pomiaru dla Klientów z mniejszym budżetem.
Jakie są wymagania dotyczące kalibracji?
Kalibracja zależy od badanej aplikacji, jednak oprogramowanie WinFTM umożliwia szybkie tworzenie nowych programów pomiarowych a detektor półprzewodnikowy SDD gwarantuje stabilność pracy urządzenia.
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
