28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wykonywać precyzyjne pomiary powłok galwanicznych na małych i dużych próbkach.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE X‑RAY XDL 230 to stacjonarny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF), przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok metalicznych — jedno‑ i wielowarstwowych. Dzięki temu możliwe jest szybkie i dokładne sprawdzenie powłok ochronnych, dekoracyjnych lub funkcjonalnych na elementach produkowanych seryjnie.
Dla działów kontroli jakości i produkcji oznacza to możliwość realnej kontroli powłok bez uszkadzania detali, przy dużej wydajności — nawet przy częstych pomiarach seryjnych.
XDL 230 wykorzystuje metodę EDXRF (fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii) z wolframową lampą rentgenowską detektorem w typie licznika proporcjonalnego. Podczas pomiaru wiązka promieniowania skierowana jest w dół, a próbka umieszczana jest na stoliku pomiarowym.
Model XDL 230 wyposażony jest w ręczny stolik XY o zakresie ruchu 95×150 mm oraz poruszaną automatycznie głowicą (góra i dół) z zakresem do 140 mm.
Urządzenie oferuje w standardzie kolimator 0,3 mm lub też opcjonalną zamianę na 0,1 mm, 0,2 mm lub kolimator szczelinowy 0,3×0,05 mm, co umożliwia dopasowanie powierzchni pomiarowej do konkretnych zadań.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do seryjnych pomiarów, analizy statystycznej i profesjonalnego raportowania.
Nie, urządzenie działa metodą XRF, która nie narusza struktury elementu. Detal po badaniu nadaje się do dalszego wykorzystania.
Tak, dzięki kolimatorowi 0,3 mm możliwy jest pomiar powierzchni niewielkich detali i elementów.
Tak, dzięki krótkiemu czasowi pomiaru i prostej obsłudze XDL 230 sprawdza się w kontroli jakości w dużych zakładach produkcyjnych.
Tak, przy zastosowaniu odpowiednich akcesoriów możliwa jest analiza stężenia metali w roztworach, co wspiera stabilność procesu.
Tak, system umożliwia analizę wielowarstwowych struktur metalicznych stosowanych m.in. w galwanizacji, elektronice i PVD.
Broszura informacyjna analiza kąpieli galwanicznych
Broszura informacyjna narzędzia pokryte powłokami PVD
Broszura informacyjna rozpoznawanie elementów na płytkach PCB
Broszura informacyjna elementy złączne w środowiskach korozyjnych
Kiedy wybrać:
Gdy dopuszczasz możliwość uszkodzenia próbki podczas grubości powłoki.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
