Zadzwoń do nas

koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Spektrometry
  5. > FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230
Bestseller

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230

Spektrometr

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo.Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS.

Jesteś zainteresowany produktem?

Joanna Kowalska
Konsultant

Opis produktu


Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do ręcznych pomiarów grubości powłok antykorozyjnych, także na detalach produkowanych masowo. Pomiary na spektrometrze wykonywane są od góry poprzez umieszczenie próbki na stoliku pomiarowym. Umożliwia szybkie pomiary (od 5 do 30s) grubości powłok w tym układów wielowarstwowych jak np. Zn/Fe, NiZn/Fe (tzw. cynko-nikle), Ag/Cu, Cr/Ni/Cu/ABS.

Cechy produktu:

  • urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
  • stosowane także dla dużych odległości pomiarowych (przesuw 0-80 mm)
  • analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • odpowiedni dla pomiarów na powierzchniach od 0,5 mm średnicy
  • przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach

 

Zastosowanie:

  • pomiary masowo produkowanych, pokrytych galwanicznie detali
  • zabezpieczenia antykorozyjne, chrom na niklu/miedzi
  • analiza kąpieli w przemyśle galwanicznym
  • złoto, przemysł jubilerski i zegarmistrzowski

Skorzystaj z usługi

Skanowanie 3D
  • Ponad 15 lat doświadczenia w skanowaniu 3D
  • Niespotykana nigdzie indziej mobilność urządzeń pomiarowych
  • Pomiary obiektów o wymiarach od kilku milimetrów do kilkunastu metrów
Profesjonalne skanowanie 3D
Zobacz ofertę usługową

Dlaczego warto

piktogram
Usługa pomiarowa
piktogram
Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny
piktogram
Profesjonalne doradztwo
piktogram
Szkolenie produktowe
piktogram
Szybkie ofertowanie
piktogram
Oprogramowanie w języku polskim
piktogram
Prezentacja zdalna

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 230
Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:
ręczny
Zakres ruchu stolika:
95x150 mm
Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

jeden, stały

Lampa rentgenowska:

standardowa

Kolimator:

ø0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Pliki do pobrania

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Sprawdź podobne produkty

logo-ITA
ul. Poznańska 104, Skórzewo,  60-185 Poznań