28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF do pomiarów seryjnych FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE X‑RAY XDLM 237 to uniwersalne urządzenie do nieniszczących pomiarów grubości powłok i składu materiałowego — zaprojektowane z myślą o drobnych częściach, cienkich powłokach i precyzyjnych zastosowaniach. Umożliwia szybkie i powtarzalne pomiary dzięki zastosowaniu lampy rentgenowskiej typu microfocus, zmiennych automatycznych kolimatorów i zaawansowanego detektora.
Dzięki XDLM 237 możliwe są pomiary grubości powłok pojedynczych, układów wielowarstwowych oraz powłok stopowych (np. NiZn) - bez niszczenia próbek, z wysoką precyzją i powtarzalnością. To oznacza kontrolę jakości, która daje realne dane i oszczędności — co zwiększa pewność procesu produkcyjnego, pozwala unikać reklamacji a w dłuższej perspektywie może pomóc ograniczyć koszty materiałowe i energetyczne.
Urządzenie wykorzystuje lampę rentgenowską typu microfocus z anodą wolframową — co pozwala na generowanie wiązki promieniowania rentgenowskiego o wysokiej energii przy bardzo małym punkcie padania. Pozwala na pomiar bardzo cienkich powłok oraz drobnych elementów z dużą dokładnością.
XDLM wyposażony jest w detektor typu licznik proporcjonalny z dużym oknem pomiarowym, co zwiększa szybkość detekcji i skraca czas pomiaru. Dodatkowo licznik proporcjonalny cechuje się wyjątkowo dużą trwałością w trudnym korozyjnym środowisku produkcyjnym. Krótszy czas oczekiwania na wynik — większa wydajność pracy.
Cztery wymienne kolimatory i zestaw filtrów pozwala dostosować parametry pomiarowe do geometrii próbki i rodzaju powłoki. Elastyczność ustawień — możliwość dopasowania urządzenia do wielu różnych aplikacji.
Układ pomiarowy działa od góry, co ułatwia badanie drobnych lub nieregularnych próbek. Stolik automatyczny umożliwia pomiary seryjne w tym programowanie operacji bez późniejszego udziału operatora. Wygoda obsługi i możliwość automatyzacji procesu.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do seryjnych pomiarów, analizy statystycznej i profesjonalnego raportowania.
Tak — w zależności od typu dzięki lampie typu microfocus urządzenie, w niektórych przypadkach radzi sobie z powłokami o grubości mniejszej niż 1 mikrometr, zapewniając wysoką precyzję.
Tak — programowalny stolik XY umożliwia pełną automatyzację pomiarów wielu elementów, co znacząco zwiększa wydajność kontroli jakości.
Tak — urządzenie zaprojektowano specjalnie do próbek o małych powierzchniach i drobnych geometrach, co umożliwia analizę elementów złącznych, komponentów elektronicznych i precyzyjnych części.
Nie — urządzenie dostarczane jest skalibrowane, a obsługa sprowadza się do kilku prostych kroków. Oprogramowanie prowadzi użytkownika przez proces pomiaru.
Tak — dzięki dużej komorze pomiarowej oraz szczelinie obudowy w kształcie litery C możliwe jest badanie elementów o płaskiej i większej powierzchni.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
