FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237

Spektrometry serii XDLM są przystosowane do analiz powłok na bardzo małych próbkach w elektronice, przemyśle motoryzacyjnym czy lotniczym. Dzięki zastosowani lampy rentgenowskiej typu micro-focus uzyskuje się bardzo małe przestrzenie pomiarowe, dodatkowo zestaw automatycznie przełączanych kolimatorów oraz filtrów pozwala dobrać optymalne parametry wzbudzenia dla danej aplikacji. Urządzenie występuje w wersji ze stolikiem ręcznym oraz niezwykle funkcjonalnym programowalnym stolikiem pomiarowym.

Cechy produktu:

• urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale
• urządzenie przeznaczone do pomiarów grubości powłok na drobnych przedmiotach (od 0,2 mm)
• cztery automatycznie przełączane kolimatory, odległość pomiarowa 0-80 mm
• analiza głównych składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
• lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie
• przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C dla pomiarów na dużych płaskich próbkach
• cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)