06 października , Gliwice
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry XRF i OES
Spektrometr XRF do pomiarów seryjnych FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 Helmut Fischer
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry XRF i OES
Spektrometr XRF do pomiarów seryjnych FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz wygodnie mierzyć cienkie powłoki na drobnych elementach w dużych ilościach.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 to stacjonarne narzędzie do nieniszczących pomiarów grubości powłok oraz analizy składu materiałowego przy użyciu metody fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Urządzenie umożliwia precyzyjne analizy zarówno powłok pojedynczych, jak i systemów wielowarstwowych oraz oznaczanie pierwiastków w materiałach. Dzięki programowalnemu stolikowi i zaawansowanemu oprogramowaniu pomiary są powtarzalne i możliwe do zautomatyzowania.
Kontrola jakości, która jest szybka, precyzyjna i możliwa do realizacji bez uszkadzania próbek, co podnosi efektywność procesów produkcyjnych i ogranicza ryzyko błędów.
Metoda pomiaru oparta na analizie fluorescencji rentgenowskiej pozwala określić grubość powłok oraz skład materiałowy bez kontaktu z próbką, dzięki pobudzaniu atomów i analizie emitowanego promieniowania. Technologia jest szeroko stosowana w kontroli jakości powłok galwanicznych, warstw stopowych czy materiałów elektronicznych.
Elektroniczny, sterowany komputerowo stolik umożliwia przesuwanie próbki w trzech osiach (X, Y, Z) z dokładnością kilku setnych milimetra. Ułatwia to precyzyjne ustawienie i automatyzację pomiarów różnych elementów.
Urządzenie wyposażone jest w detektor typu PIN, z opcją zastosowania detektora SDD o większej wydajności. Detektory te zbierają widmo fluorescencji rentgenowskiej z wysoką czułością i rozdzielczością.
System posiada zestaw kolimatorów o różnych średnicach i filtry pierwotne (np. Ni, Al, brak filtra), które można dobierać do rodzaju pomiaru i geometrii próbki. Pozwala to optymalizować pomiar dla konkretnej aplikacji, poprawiając precyzję i jakość danych.
Gwarantuje wiarygodne dane potrzebne do podejmowania trafnych decyzji w kontroli jakości i optymalizacji procesów.
Użytkownik otrzymuje szerokie możliwości pomiarowe w jednym narzędziu, redukując potrzebę stosowania wielu urządzeń.
Zwiększa efektywność pracy i powtarzalność pomiarów, co obniża koszty operacyjne.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do pomiarów, analizy i raportowania.
Spektrometr jest zaprojektowany do nieniszczącej analizy grubości powłok i składu materiałów w różnych branżach, m.in. galwanotechnice, elektronice i produkcji precyzyjnej. Może mierzyć zarówno powłoki pojedyncze, jak i złożone systemy wielowarstwowe.
Obsługa urządzenia jest wspierana przez intuicyjne oprogramowanie, a standardowe szkolenie pozwala szybko rozpocząć pracę. Dla bardziej zaawansowanych ustawień możliwe jest wsparcie producenta lub dystrybutora.
Można analizować elementy o różnej geometrii i wielkości mieszczące się w komorze pomiarowej, z maksymalnym ciężarem do ok. 20 kg.
Czas każdego pomiaru zależy od analizowanego materiału i ustawień parametrów, lecz dzięki zaawansowanym detektorom i optymalnym filtrom urządzenie generuje wyniki w krótkim czasie (zwykle od 5-100 sekund). Możliwe jest także programowanie serii pomiarów.
Urządzenie spełnia standardy XRF zgodne z normami DIN ISO 3497 i ASTM B 568 oraz posiada certyfikaty CE.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz niezawodnego systemu do kontroli bardzo cieńkich powłok, kąpieli galwanicznych i złota.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Zapytaj o produkt
