Helmut Fischer

Bestseller

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237

Spektrometr

· Nieniszczące pomiary grubości powłok na bardzo małych próbkach (od 0,2 mm).

· Lampa microfocus efektywnie wzbudzająca pierwiastki lekkie, zapewniająca wysoką precyzję pomiaru.

· Programowalny stolik pomiarowy, umożliwiający wygodne i dokładne pomiary.

Jesteś zainteresowany produktem?

Joanna Kowalska

Konsultant

Zapytaj o produkt

Zadzwoń +48 61 222 58 00 +48 61 222 58 00

Opis produktu

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 to wysokoprecyzyjny spektrometr rentgenowski (XRF) przeznaczony do nieniszczącego pomiaru grubości powłok jedno- i wielowarstwowych, w tym także stopowych i zawierających metale lekkie. Dzięki lampie rentgenowskiej microfocus i zaawansowanej technologii kolimatorów, urządzenie zapewnia dokładne pomiary nawet na bardzo małych próbkach od 0,2 mm, co czyni go idealnym rozwiązaniem dla branży elektronicznej, motoryzacyjnej i lotniczej.

Najważniejsze cechy spektrometru XDLM 237:

Nieniszczący pomiar grubości powłok na elementach o rozmiarach od 0,2 mm
Lampa microfocus umożliwiająca efektywne wzbudzenie pierwiastków lekkich i wysoką precyzję analizy
Cztery automatycznie przełączane kolimatory – dopasowanie przestrzeni pomiarowej do rodzaju aplikacji
Zakres pomiarowy od 0 do 80 mm
Przestrzenna komora z wcięciem w kształcie litery C – komfortowy pomiar dużych, płaskich próbek
Programowalny stolik pomiarowy lub wersja z ręcznym stolikiem – wybór w zależności od potrzeb aplikacyjnych
Możliwość analizy składu kąpieli galwanicznych – wspomaganie kontroli procesów galwanicznych
Współpraca z oprogramowaniem FISCHER – precyzyjne raportowanie i analiza danych

Zastosowanie FISCHERSCOPE XDLM 237:

Elektronika – pomiar powłok na mikroelementach, komponentach SMT, złączach
Przemysł galwaniczny – analiza grubości i składu powłok metalicznych
Motoryzacja i lotnictwo – kontrola jakości detali technicznych i ochronnych warstw powierzchniowych
Laboratoria badawcze i produkcyjne – wsparcie w badaniach i optymalizacji procesów powlekania

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 to profesjonalny spektrometr XRF, który dzięki innowacyjnej technologii, wysokiej rozdzielczości pomiarowej oraz automatyzacji procesu analizy, gwarantuje niezrównaną dokładność pomiaru nawet w najbardziej wymagających warunkach przemysłowych.

Skorzystaj z usługi

Skanowanie 3D

Ponad 15 lat doświadczenia w skanowaniu 3D
Niespotykana nigdzie indziej mobilność urządzeń pomiarowych
Pomiary obiektów o wymiarach od kilku milimetrów do kilkunastu metrów

Dowiedz się więcej

Profesjonalne skanowanie 3D

Zobacz ofertę usługową

Zapytaj o produkt

Dlaczego warto

Usługa pomiarowa

Serwis gwarancyjny i pogwarancyjny

Profesjonalne doradztwo

Szkolenie produktowe

Szybkie ofertowanie

Oprogramowanie w języku polskim

Prezentacja zdalna

Specyfikacja

Specyfikacja techniczna spektrometru FISCHERSCOPE® XDLM 237

Model:

Kierunek pomiaru:

z góry na dół

Typ detektora:

licznik proporcjonalny

Stolik pomiarowy:

zmotoryzowany

Zakres ruchu stolika:

255x235 mm

Maksymalna masa próbki:

20 kg

Filtry:

Ni, Al, bez filtra

Lampa rentgenowska:

microfocus

Kolimatory przełączane:

ø0,1 I 0,2 I 0,05x0,05 I 0,05x0,3 mm

Wymiary wewnętrzne komory:

460x495x140 mm

Zasilanie:

AC 115V lub AC 230V 50/60 Hz

Wymiary:

570x650x760 mm

Masa:

120 kg

Oprogramowanie:

Standard: Fischer WinFTM® BASIC łącznie z PDM®
Opcja: Fischer WinFTM® SUPER

Certyfikaty:

EN 61010

Certyfikaty:

DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568
Urządzenie nie wymaga nadzoru PAA (Państwowej Agencji Atomistyki)

Oprogramowanie

Oprogramowanie WinFTM®

Zaawansowane oprogramowanie spektrometrów XRF firmy FISCHER. Umożliwia pomiary grubości powłok, badanie składu, zarówno kalibracyjne jak i z wykorzystaniem jedynie metody parametrów fundamentalnych. Intuicyjna obsługa i szereg udogodnień zapewniają sprawną pracę w warunkach przemysłowych.

Szczegóły

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11

Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.