28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz efektywnie mierzyć grubość powłok na konektorach i płytkach PCB.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ to zaawansowany spektrometr rentgenowski do precyzyjnego pomiaru grubości powłok i analizy składu materiałowego w mikroskali. Dzięki plamce pomiarowej o średnicy kilkunastu mikrometrów, wysokowydajnym detektorom SDD i cyfrowemu procesorowi DPP+ urządzenie umożliwia badanie nawet najmniejszych elementów o złożonej geometrii. Sprawdza się w branżach, w których wymagana jest najwyższa powtarzalność i zgodność z normami.
Urządzenie znacząco skraca czas kontroli i zwiększa wiarygodność wyników, także w pomiarach wymagających dużej rozdzielczości. Umożliwia kontrolę jakości nawet tam, gdzie tradycyjne metody zawodzą — na bardzo małych strefach funkcjonalnych.
Najnowszy procesor DPP+ jest w stanie obsłużyć dużą ilość sygnału, co pozwala w pełni wykorzystać możliwości optyki poli-kapilarnej i zwiększyć precyzję pomiarów. Poprawia stosunek sygnału do szumu i skraca czas pomiaru.
Duża powierzchnia detektora umożliwia rejestrowanie większej liczby fotonów w krótszym czasie. Zapewnia stabilne wyniki także przy pomiarach cienkich powłok i niskich stężeń pierwiastków.
Specjalna optyka ogniskuje wiązkę rentgenowską do bardzo małej plamki (nawet kilkadziesiąt mikrometrów). Umożliwia to wykonywanie pomiarów na bardzo małych elementach.
Precyzyjny układ pozycjonowania wraz z kamerą wizyjną pozwala na dokładne ustawienie punktu pomiarowego oraz automatyzowanie serii pomiarowych. Korzyść: Ułatwia powtarzalne pomiary i zmniejsza wpływ operatora na wynik.
Kiedy wybrać:
Gdy używasz spektrometrów XRF FISCHER i potrzebujesz jednego środowiska do seryjnych pomiarów, analizy statystycznej i profesjonalnego raportowania.
XDV-µ sprawdza się w analizie bardzo małych obszarów, takich jak piny press-fit, styki, ścieżki PCB, mikropowłoki i elementy o skomplikowanej geometrii. Jest idealny tam, gdzie wymagane są mikro-powierzchnie pomiarowe i najwyższa dokładność.
Tak. Ze względu na wysoką powtarzalność i precyzję urządzenie spełnia wymagania pomiarowe stosowane w analizie warstw AgSn, SnPb i innych systemów powłok wymaganych w przemyśle motoryzacyjnym.
W zależności od konfiguracji optyki możliwe są plamki o średnicy rzędu kilkunastu mikrometrów, co pozwala na analizę bardzo małych stref funkcyjnych bez ryzyka pomiaru obszarów sąsiednich.
Tak. Zintegrowany stolik XYZ umożliwia pomiary seryjne i automatyczne skanowanie wybranych obszarów. Ułatwia to kontrolę produkcji i zmniejsza obciążenie operatora.
Urządzenie nie wymaga skomplikowanej obsługi serwisowej. Regularna kalibracja i okresowe przeglądy zapewniają utrzymanie wysokiej precyzji, a oprogramowanie pomaga monitorować stabilność wyników.
Broszura informacyjna FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ-SDD
NiP na konektorach, pomiar grubości i składu
Badanie kulek lutowniczych
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na sucho i na mokro.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na powtarzalnych seriach wyrobów.
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
