Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ Helmut Fischer

• Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
• Badanie składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.

• Bezdotykowy i nieniszczący pomiar grubości powłok metodą fototermiczną, zgodny z normą EN 15042-2.
• Pomiarach grubości organicznych powłok na różnych materiałach.
• Pomiar powłok na mokro i proszkowych przed utwardzeniem.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na sucho i na mokro.

• Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i materiału podłoża.
• Solidna aluminiowa obudowa z ochroną przed upadkami oraz wyświetlacz chroniony przez Gorilla Glass.
• Interfejs USB do przesyłania danych do komputera oraz współpraca z oprogramowaniem FISCHER TactileSuite.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na powtarzalnych seriach wyrobów.

• Nieniszcząca analiza złota i metali szlachetnych.
• Precyzyjny pomiar powłok złota i rodu.
• Szybkie wyniki (20–100 s) i intuicyjna obsługa.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej i pewnej analizy stopów złota w jubilerstwie lub obrocie metalami szlachetnymi.

• Pomiary grubości powłok jedno i wielowarstwowych od kilku nm.
• Analiza kąpieli galwanicznych (od 0,2 g/l).
• Pomiar od góry - większa czułość dla pierwiastków lekkich.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz ekonomicznego rozwiązania z pomiarem od góry dla bardzo cieńkich powłok.

• Ciągły pomiar składu kąpieli galwanicznych.
• Możliwość jednoczesnej analizy składu w czterech różnych wannach.
• Inteligentny system auto-diagnostyki - długi czas pracy bez przestojów.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz regularnej kontroli kąpieli galwanicznej bez angażowania załogi.

• Precyzyjna analiza cienkich i bardzo cienkich powłok (nawet < 0,1 µm).
• Dwie wersje detektorów SDD — stabilne wyniki i krótki czas pomiaru.
• Programowalny stolik XY — wygodne i powtarzalne serie pomiarów.

Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.

• Bardzo wysoka dokładność przy pomiarze ultracienkich powłok i metali szlachetnych.
• Detektor SDD 50 mm² — szybka analiza nawet wymagających zastosowań.
• Duży kolimator — duża powtarzalność i szybka praca seryjna.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz dokładnego pomiaru cienkich powłok.

• Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
• Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
• Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.