FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD

Bardzo wydajny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z programowalnym stolikiem XY i osią Z dla zautomatyzowanych pomiarów bardzo cienkich powłok i analiz szczątkowych ilości pierwiastków. Spektrometr XDV-SDD wyposażony został w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej powierzchni i rozdzielczości w efekcie spektrometr zapewnia bardzo niskie progi detekcji. Urządzenie jest w doskonale przystosowane do badania grubości najcieńszych powłok i analiz śladowych ilości pierwiastków. Zmienne filtry, napięcia lampy i rozmiary kolimatorów pozwalają uzyskać optymalne parametry wzbudzenia wielu aplikacji. Dzięki dużej komorze pomiarowej i zmotoryzowanemu stolikowi pomiary są bardzo wygodne i szybkie.

Cechy produktu:

•  zaawansowane urządzenie przeznaczone do nieniszczących pomiarów grubości powłok jedno i wielowarstwowych w tym stopowych i innych zawierających metale oraz analiz składu
• pomiary grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów
• badania składu stopów złotniczych, pyłów, past
• analiza składników kąpieli w przemyśle galwanicznym
• badanie zgodności z dyrektywą RoHS
• cztery automatycznie przełączane kolimatory (przesłony)
• duża i przestrzenna komora pomiarowa

Zastosowanie:

• kontrola bardzo cienkich powłok, przemysł elektroniczny i komputerowy
• analiza szczątkowa np. pod kątem niebezpiecznych substancji zgodnie z RoHS, standardami zabawek, standardami opakowań
• analiza złota i metali szlachetnych z zachowaniem najwyższej precyzji
• przemysł fotowoltaiczny
• pomiar grubości i składu powłok NiP