Fluorescencja rentgenowska (XRF – EDXRF)
Analiza XRF umożliwia nieniszczący pomiar składu pierwiastkowego oraz grubości powłok. Technologia jest stabilna, powtarzalna i odpowiednia dla szerokiej gamy materiałów.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.
Urządzenie sprawdza się w pomiarach powłok galwanicznych, kontaktowych, ochronnych oraz w analizie stopów i materiałów. Jest używane w branżach takich jak elektronika, motoryzacja, produkcja metalowa i galwanizernie.
Tak — metoda XRF pozwala analizować zarówno gotowe produkty, jak i elementy w trakcie procesu bez ich uszkadzania.
Tak — dzięki programowalnemu stolikowi XY oraz funkcji automatycznych ustawień. Możliwe jest tworzenie sekwencji pomiarowych i skanowania powierzchni.
Detektor SDD zapewnia wysoką czułość i dobrą rozdzielczość energetyczną, co przekłada się na precyzyjne wyniki, nawet przy cienkich powłokach i analizach wielowarstwowych.
Tak — spektrometr spełnia normy takie jak DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568, co potwierdza jego przydatność w kontrolach jakości zgodnych ze standardami branżowymi.