Kolejnet Working

28-29 stycznia, Bydgoskie Centrum Targowo-Wystawienniecze

Sprawdź szczegóły
search

Zadzwoń do nas

koszyk
koszyk
search
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Systemy pomiarowe
  4. > Spektrometry
  5. > FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD — uniwersalny spektrometr XRF z detektorem SDD
Nowość

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD — uniwersalny spektrometr XRF z detektorem SDD

  • Uniwersalna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok.
  • Detektor SDD – wysoka precyzja i szybkie czasy pomiaru.
  • Stabilna konstrukcja do pracy laboratoryjnej i kontroli jakości.

Kiedy wybrać:
Gdy potrzebna jest szybka i precyzyjna analiza XRF szerokiego zakresu materiałów i powłok w warunkach laboratoryjnych oraz kontroli jakości.

Dział sprzedaży

Zainteresował Cię ten produkt?

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD — uniwersalny spektrometr XRF z detektorem SDD

Opis

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD to precyzyjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej przeznaczony do pomiaru grubości powłok oraz analizy materiałowej. Wyposażony w detektor SDD o wysokiej czułości, zapewnia stabilne wyniki zarówno przy analizie cienkich powłok, jak i bardziej złożonych systemów. Dzięki automatycznym filtrom i aperturom nadaje się do szerokiego zakresu aplikacji przemysłowych.

Urządzenie poprawia efektywność kontroli jakości i zapewnia powtarzalne pomiary bez konieczności pracochłonnej konfiguracji. To rozwiązanie, które pozwala szybko reagować na odchylenia w procesie produkcyjnym.

Technologia

  • Fluorescencja rentgenowska (XRF – EDXRF)  

    Analiza XRF umożliwia nieniszczący pomiar składu pierwiastkowego oraz grubości powłok. Technologia jest stabilna, powtarzalna i odpowiednia dla szerokiej gamy materiałów.

  • Detektor SDD (Silicon Drift Detector)  

    Detektor SDD oferuje wysoką rozdzielczość energetyczną oraz dużą liczbę zliczeń, co skraca czas pomiarów i zwiększa precyzję w analizie cienkich powłok. Umożliwia również analizę pierwiastków o niskiej energii.

  • Automatyczne filtry i apertury  

    System automatycznej zmiany filtrów i kolimatorów dopasowuje warunki pomiarowe do badanego materiału. Dzięki temu można wykonywać różne typy pomiarów bez ręcznego ustawiania parametrów.

  • Programowalny stolik XY i oś Z  

    Precyzyjny układ pozycjonowania umożliwia automatyczne serie pomiarowe oraz badanie większych powierzchni. Oś Z automatycznie ustala właściwą odległość pomiarową.

Wszechstronność zastosowań

XDV®-SDD sprawdza się zarówno przy analizie powłok ochronnych, galwanicznych, kontaktowych, jak i w badaniu materiałów. Umożliwia pomiary na elementach małych i średnich, w tym komponentach elektronicznych. 
Jedno urządzenie może obsłużyć wiele aplikacji w zakładzie.

Wysoka stabilność pomiarów

Stabilna konstrukcja i nowoczesna optyka gwarantują powtarzalne wyniki nawet w długich cyklach pomiarowych. Dzięki temu urządzenie jest odpowiednie do pracy seryjnej.
Możesz polegać na wynikach, niezależnie od liczby wykonywanych pomiarów.

Intuicyjna obsługa i automatyczne ustawienia

Automatyczne dobieranie filtrów, apertur oraz wysokości ułatwia rozpoczęcie pracy i skraca czas przygotowania do pomiaru. 
Uproszczona praca oznacza krótszy czas szkolenia i mniejsze ryzyko błędów.

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Do jakich zadań przeznaczony jest XDV®-SDD?  

Urządzenie sprawdza się w pomiarach powłok galwanicznych, kontaktowych, ochronnych oraz w analizie stopów i materiałów. Jest używane w branżach takich jak elektronika, motoryzacja, produkcja metalowa i galwanizernie.

Czy pomiary są nieniszczące?  

Tak — metoda XRF pozwala analizować zarówno gotowe produkty, jak i elementy w trakcie procesu bez ich uszkadzania.

Czy urządzenie można zautomatyzować?  

Tak — dzięki programowalnemu stolikowi XY oraz funkcji automatycznych ustawień. Możliwe jest tworzenie sekwencji pomiarowych i skanowania powierzchni.

Jak dokładny jest detektor SDD?  

Detektor SDD zapewnia wysoką czułość i dobrą rozdzielczość energetyczną, co przekłada się na precyzyjne wyniki, nawet przy cienkich powłokach i analizach wielowarstwowych.

Czy urządzenie zgodne jest z normami przemysłowymi?  

Tak — spektrometr spełnia normy takie jak DIN ISO 3497 oraz ASTM B 568, co potwierdza jego przydatność w kontrolach jakości zgodnych ze standardami branżowymi.

Zapytaj o produkt

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać produkt
pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.

Pliki do pobrania

Back to top