28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Spektrometry
Spektrometr XRF do badania cienkich i złożonych powłok FISCHERSCOPE® XDAL® Helmut Fischer
Kiedy wybrać:
Idealnie nadaje się do zastosowań w zakresie cienkich i bardzo cienkich powłok < 0,05 µm oraz do analizy materiałowej w zakresie ppm.
Zapytaj o ofertę
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® to nowoczesne urządzenie XRF, zaprojektowane do analizy powłok i materiałów z najwyższą precyzją — także tych bardzo cienkich lub wielowarstwowych. Dzięki solidnej konstrukcji, automatycznemu pozycjonowaniu i zaawansowanemu detektorowi, zapewnia powtarzalne pomiary w wymagających aplikacjach. Sprzęt łączy niezawodność laboratoryjnego pomiaru z praktycznością użytkowania w kontroli produkcji.
XDAL® to narzędzie, które zwiększa efektywność i pewność pomiarów — niezależnie, czy analizujesz drobne elementy w elektronice, czy większe detale przemysłowe. Dzięki temu masz stabilną kontrolę jakości i minimalizujesz ryzyko błędów.
XDAL® wykorzystuje dyspersyjną energię promieniowania XRF do analizy składu pierwiastkowego oraz grubości bardzo cienkich powłok — nawet poniżej 0,1 µm. Metoda jest nieniszcząca i pozwala badać także wieloskładnikowe systemy powłokowe.
Urządzenie jest wyposażone w detektor półprzewodnikowy SDD o dużej czułości, zapewniający wysoką liczbę zliczeń oraz precyzyjną analizę cienkich warstw i pierwiastków śladowych. W modelu XDAL® 650 detektor zastosowano detektor o powierzchni az 50 mm², co dodatkowo zwiększa wydajność pomiarową.
Precyzyjny układ pozycjonowania umożliwia automatyczne serie pomiarów oraz skanowanie dużych próbek. Szybki autofocus zmniejsza liczbę błędów i przyspiesza ustawienie próbki.
Kamera przeglądowa i kamera szczegółowa umożliwiają szybkie odnajdywanie punktu pomiarowego. Wskaźnik laserowy i oświetlenia LED ułatwia precyzyjne ustawienie nawet refleksyjnych powierzchni. Korzyść: Łatwy wybór miejsca pomiaru nawet na dużych detalach
System automatycznej zmiany kolimatorów i filtrów zapewnia optymalne warunki wzbudzenia dla różnych aplikacji — od wielowarstwowych układów na konektorach do zwykłych powłok cynkowych na dużych częściach. Możesz wykonywać różne typy pomiarów bez ręcznej zmiany parametrów.
XDAL® idealnie nadaje się do pomiarów bardzo cienkich powłok, powłok galwanicznych, powłok ochronnych, warstw na elementach elektronicznych, a także do analizy składu pierwiastkowego i powłok wielowarstwowych.
Tak — metoda XRF nie uszkadza próbki, co pozwala na kontrolę zarówno gotowych produktów, jak i półproduktów bez ryzyka ich zniszczenia.
Tak — dzięki automatycznemu stolikowi XY i osi Z możliwe są seryjne pomiary z minimalnym udziałem operatora, co sprawdza się w produkcji lub kontroli linii.
Tak — urządzenie łączy precyzję laboratoryjną z możliwościami automatyzacji i powtarzalności, co czyni je odpowiednim do pracy w środowisku produkcyjnym.
XDAL® pozwala mierzyć powłoki od wartości bardzo niskich — nanometrowych — aż po grube warstwy, a także analizować układy wielowarstwowe.
Broszura serii produktów Fischer
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
