Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
Fluorescencja rentgenowska (XRF)
Nieniszcząca metoda badania grubości powłok oraz składu pierwiastkowego na podstawie promieniowania emitowanego przez chwilowo wzbudzone atomy.
WYDARZENIE TESTOWE NR 1
28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Popularne
- Start
-
Oferta
-
Systemy pomiarowe
-
Spektrometry
-
Przenośny spektrometr XRF XAN 500 Helmut Fischer
Przenośny spektrometr XRF XAN 500 Helmut Fischer
- Mobilny pomiar powłok i stopów w terenie.
- Badanie składu kąpieli galwanicznych.
- Możliwość precyzyjnej analizy grubości powłok na dużych elementach.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz mierzyć grubości powłok galwanicznych na bardzo dużych elementach.
Zapytaj o ofertę
Dział sprzedaży
Zainteresował Cię ten produkt?
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 – Mobilny spektrometr rentgenowski do kontroli powłok i analizy składu materiałów.
Opis
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 to ręczny spektrometr rentgenowski do nieniszczących pomiarów grubości powłok oraz analizy składu materiałowego. Urządzenie łączy mobilność z dokładnością systemów laboratoryjnych i umożliwia szybkie pomiary bezpośrednio na produkcji lub w terenie.
Możesz kontrolować jakość powłok i materiałów bez przerywania produkcji oraz bez konieczności transportu lub dzielenia na części dużych elementów.
Technologia
-
-
Detektor SDD
Najnowocześniejszy detektor o wysokiej rozdzielczości pozwalający na precyzyjne pomiary cienkich warstw i złożonych układów wielowarstwowych.
-
Oprogramowanie WinFTM
Oprogramowanie umożliwiające pomiary bez konieczności stosowania wzorców kalibracyjnych.
Mobilność i kompaktowe rozmiary
Urządzenie waży tylko 1,9 kg i pracuje do 8 godzin na jednym ładowaniu. Może być używane bezpośrednio na dużych elementach, takich jak rury, turbiny czy konstrukcje lotnicze oferując możliwie najwyższą możliwą precyzję pomiaru grubości powłoki.
Pomiary na elementach i w miejscach niedostępnych dla spektrometrów stacjonarnych.
Pomiar powłok i składu w jednym cyklu
Jedno przyłożenie urządzenia umożliwia jednoczesny pomiar grubości powłoki oraz jej składu.
Możliwa jest pełna kontrola procesu nakładania oraz udział procentowy poszczególnych składników.
Możliwość pracy jako urządzenie stacjonarne
XAN 500 może być używany również jako klasyczne urządzenie laboratoryjne zamontowany w specjalistycznej obudowie.
Jedno urządzenie zastępuje sprzęt mobilny i stacjonarny.
Wzorcowanie i utrzymanie dokładności
Najczęściej zadawane pytania
FAQ
Czy urządzenie wymaga specjalnego przygotowania próbek?
Nie. Pomiary są wykonywane bezpośrednio na gotowych elementach, bez dodatkowej obróbki.
Czy można wykonywać pomiary w terenie?
Tak. Urządzenie zostało zaprojektowane do pracy mobilnej i posiada stopień ochrony IP54.
Jakie powłoki można mierzyć?
Urządzenie nadaje się do pomiarów powłok metalicznych, wielowarstwowych oraz do analizy powłok stopowych.
Czy konieczna jest częsta kalibracja?
Dzięki zastosowaniu analizy fundamentalnej możliwe są pomiary bez stosowania wzorców, jednak okresowa kontrola dokładności jest zalecana.
Zapytaj o produkt
Zadzwoń do nas
+48 61 222 58 11pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Pliki do pobrania
Broszura informacyjna XAN500
pdf • 1.33 MB
Powiązane akcesoria i produkty
-
- Precyzyjne pomiary grubości powłok metodami elektromagnetycznymi.
- Automatyczne rozpoznawanie wymiennych sond i wykrywanie materiału podłoża.
- Intuicyjny dotykowy wyświetlacz i menu znane z systemu Windows.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na różnych kształtach i materiałach. -
- Bezdotykowy i nieniszczący pomiar grubości powłok metodą fototermiczną, zgodny z normą EN 15042-2.
- Pomiarach grubości organicznych powłok na różnych materiałach.
- Pomiar powłok na mokro i proszkowych przed utwardzeniem.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz precyzyjnych pomiarów grubości powłok na sucho i na mokro.
