28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Rentgenowskie systemy inspekcyjne do elektroniki
Rentgenowski system inspekcyjny do elektroniki Phoenix Nanome|x Neo
Zapytaj o ofertę
Phoenix Nanome|x Neo to najbardziej precyzyjny system rentgenowski w serii urządzeń dedykowanych dla branży elektronicznej, stworzony z myślą o kontroli jakości w najbardziej wymagających obszarach elektroniki i półprzewodników. Dzięki lampie nanofocus 180 kV i detektorom o wysokiej rozdzielczości urządzenie pozwala wykrywać defekty o wielkości od 0,2 µm. System oferuje stabilność i powtarzalność inspekcji, dzięki czemu nadaje się zarówno do zaawansowanego R&D, jak i kontroli procesów produkcyjnych.
Dedykowany jest do inspekcji mikrostruktur i połączeń, takich jak PTH, BGA czy QFN, gdzie każdy szczegół ma znaczenie. Nanome|x Neo zapewnia nie tylko najwyższą jakość obrazu, ale również ergonomię obsługi i szybkie przygotowanie inspekcji. To inwestycja, która znacząco poprawia proces kontroli jakości i obniża ryzyko wad produkcyjnych.
Technologia umożliwiająca pozyskanie danych objętościowych elementu badanego przy zachowaniu bardzo wysokiej rozdzielczości. Bardzo przydatna dla elementów wielowarstwowych, gdzie wiarygodna ocena wymaga wykonania przekroju w konkretnym miejscu.
Autorska technologia Waygate Technologies, której zadaniem jest automatyczne dopasowanie kontrastu obrazu, co ułatwia rozpoznawanie szczegółów i przyspiesza proces oceny.
Oprogramowanie do parametryzacji i programowania procesu inspekcji (na podstawie mapy optycznej lub danych CAD), a także do oceny obrazów w czasie rzeczywistym przy zastosowaniu dedykowanych modułów do oceny połączeń lutowanych (np. BGA, PTH, QNF).
Technologia redukująca niepotrzebną dawkę promieniowania w czasie rzeczywistym. Chroni wrażliwe próbki przed degradacją i wydłuża ich żywotność przy powtarzalnych inspekcjach.
Zsynchronizowany ruch osi stolika i detektora, co umożliwia ocenę próbki pod różnymi kątami. Ułatwia to wykrywanie defektów i ich położenia w objętości próbki.
Kiedy wybrać:
Gdy potrzebujesz szybkiej, powtarzalnej inspekcji rentgenowskiej 2D połączeń lutowanych i PCB z możliwością pełnej automatyzacji na wielu systemach.
Nanome|x Neo wykorzystuje źródło nanofocus 180 kV z wykrywalnością do 0,2 µm, dzięki czemu nadaje się do inspekcji wymagających najwyższej rodzielczości. Microme|x Neo z kolei jest bardziej uniwersalny i oferuje szersze spektrum aplikacji.
System dedykowany jest do półprzewodników, układów scalonych, mikrostruktur PTH, BGA i QFN. Stosowany jest w R&D, kontroli prototypów i weryfikacji defektów.
System obsługuje próbki o wymiarach do 680 × 635 mm i masie do 10 kg, co pozwala na wszechstronne zastosowania w elektronice.
Broszura do produktów Phoenix Microme|x Neo and Nanome|x Neo
Broszura do Flash!Electronics
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
