Nanotomograf CT - Phoenix Nanotom M

Nanotomograf rentgenowski Phoenix Nanotom M jest unikatowym systemem nano CT pozwalającym na wykrywanie szczegółów poniżej 200 nm. Baza granitowa oraz stabilizacja temperaturowa lampy, detektora i całej komory roboczej zapewniają idealne warunki do wykonywania badań wymagających najwyższej rozdzielczości. Detektor jest umieszczony na osi przesuwnej w celu możliwości skanowania większych elementów do 240 mm (średnica), a także celem eliminacji artefaktów pierścieniowych. Dzięki lampie nanofocus 180 kV możliwe jest badanie szerokiego spektrum materiałów: od próbek biologicznych i miękkich tkanek począwszy, poprzez tworzywa sztuczne, ceramikę, układy krzemowe aż po metale. Po zeskanowaniu, dane objętościowe mogą być analizowane na wiele sposobów w oprogramowaniu Volume Graphics, np. analiza defektów, analiza grubości ścianek, analiza układu włókien czy zjawisk przepływu. Inspekcja może się zakończyć wygenerowaniem raportu zawierającym zdjęcia, filmy oraz wyniki wykonanych analiz.

Dostępna jest również wersja Nanotom HR, która wykorzystuje źródło od firmy Excillum pracujące w technologii MetalJet. Zastosowana technologia oferuje znacznie wyższą jasność i rozdzielczość niż jakiekolwiek inne dostępne źródło promieniowania rentgenowskiego z mikroogniskowaniem. MetalJet generuje bardzo jasne i małe wiązki, umożliwiając uzyskanie parametrów zbliżonych do rozwiązań synchrotronowych, dzięki czemu możliwa jest detekcja szczegółów od 50 nm.

Najwyższa rozdzielczość danych

Nanotom M wyposażony jest w lampę typu nanofocus (plamka w ognisku poniżej 1 µm), co umożliwia wykrywalność szczegółów od 200 nm. Dzięki temu idealnie nadaje się do analiz materiałowych, elektroniki oraz próbek biologicznych (np. kości, zęby, tkanki).

Zapewnia najwyższą dokładność w analizie nawet najbardziej skomplikowanych próbek.

Zoptymalizowany proces skanowania

Nanotom M oferuje pełną optymalizację procesu skanowania. Funkcja zmiennej odległości detektora od lampy w połączeniu z różnorodnością dostępnych modułów oprogramowania Datos|x pozwalają na ustawienie optymalnych parametrów procesu skanowania próbki.

Skraca czas pracy i przyspiesza procesy.

Wszechstronność zastosowań

System obsługuje szeroką aplikacji – od próbek o wielkości 0,25 mm, po elementy o średnicy 240 mm i masie do 3 kg. Zastosowania obejmują kontrolę jakości, badania naukowe i wiele innych dziedzin, w których liczy się najwyższa jakość danych.

Umożliwia nieniszczącą inspekcję w wielu branżach jednocześnie.