28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Tomografy rentgenowskie CT
Mikrotomograf CT- Phoenix V|tome|x M NEO
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu najwyższej klasy oferującego niespotykaną jakość danych dla wymagających aplikacji.
Zapytaj o ofertę
Phoenix V|tome|x M Neo to najnowocześniejszy, dwulampowy przemysłowy skaner CT (tomograf komputerowy) przeznaczony do metrologii 3D i zaawansowanej analizy nieniszczącej. Dzięki zastosowaniu lampy rentgenowskiej microfocus 300 kV oraz opcjonalnej nanofocus 180 kV, urządzenie osiąga możliwość skanowania z bardzo wysoką rozdzielczością przy zachowaniu możliwości skanowania gęstych materiałów, ustanawiając nowy standard w przemysłowej tomografii komputerowej.
Zaprojektowany do pracy z elementami o maksymalnych wymiarach ø500 mm x 700 mm i masie do 75 kg, system oferuje wyjątkową elastyczność, szybkość i jakość detekcji. Dzięki autorskim technologiom firmy Waygate (np. Scatter|correct) artefakty są automatycznie eliminowane sprzętowo, co pozwala uzyskać dane najwyższej jakości bez konieczności ingerencji w dane za pomocą oprogramowania.
Podwójny układ lamp – microfocus 300 kV oferujący zapewniający możliwość skanowania gęstych materiałów oraz opcjonalny nanofocus 180 kV, który pozwala na skanowanie z najwyższą rozdzielczością. Lampy zamontowane są w orientacji poziomej, która zapewnia optymalne możliwości ich wykorzystania bez konieczności przestojów.
Temperaturowo stabilizowane detektory serii Dynamic41 oferują wysoką jakość danych z zachowaniem szybkości akwizycji obrazów. Występują w dwóch wariantach wielkości piksela: 100 oraz 200 µm. Duża powierzchnia detektora 410 x 410 mm (16”x16”) oraz wysoki zakres dynamiki pozwalają skrócić czas skanowania do minimum.
Technologia umożliwiająca dwukrotnie szybsze skanowanie lub uzyskanie dwukrotnie lepszej rozdzielczości przy skanowaniu tej samej próbki. Wyższe parametry mocy na tej samej rozdzielczości pozwalają na uzyskanie jakości danych nawet przy wymagających materiałach.
Opatentowana technologia redukcji artefaktów rozpraszania się promieniowania podczas procesu skanowania, która zapewnia najwyższą jakość danych dla elementów o skompilowanej geometrii oraz wykonanych z gęstych materiałów. Cały proces oparty jest na rozwiązaniu sprzętowym, co zapewnia brak ingerencji w dane na poziomie oprogramowania.
Dlaczego warto?
Gdy dane z tomografii komputerowej są kluczowym źródłem informacji o jakości i niezawodności Twoich części.
Pozioma orientacja lamp, większa przestrzeń skanowania (do 500 × 700 mm), większa nośność stolika (75 kg), zmienna odległość lampa-detektor oraz przeprojektowana obudowa pod kątem ergonomii i serwisowania.
W zależności od źródła: dla lampy microfocus wykrywalność szczegółów wynosi <1 µm, a dla lampy nanofocus <0,2 µm.
Tak. Zastosowane rozwiązania konstrukcyjne oraz dostępne moduły oprogramowania zapewniają stabilną kontrolę jakości w liniach produkcyjnych i w laboratoriach.
Standardowy Dynamic 41|200 (4 MP, 200 μm) oraz opcjonalny Dynamic 41|100 (16 MP, 100 μm) dla podwojonej rozdzielczości CT.
Tak- High-flux|target pozwala skrócić czas skanowania dwukrotnie, a Helix|CT i Offset|CT pozwalają skanować większe/bardziej masywne elementy z mniejszą liczbą artefaktów.
Tak, system oferuję pełną ochronę radiacyjną. Każdy system podczas uruchomienia jest weryfikowany zgodnie z obowiązującymi regulacjami prawnymi.
Broszura produktowa
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
