28-16 grudnia, WYDARZENIE TESTOWE NR 1 PEŁNE
Sprawdź szczegóły
Oferta
Systemy pomiarowe
Tomografy rentgenowskie CT
Mikrotomograf CT - Phoenix V|tome|x S240
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz uniwersalnego systemu do skanowania lekkich metali oraz tworzyw sztucznych.
Zapytaj o ofertę
Phoenix V|tome|x S240 to zaawansowany mikrotomograf rentgenowski, łączący wysoką rozdzielczość z wyjątkową wszechstronnością. Umożliwia wykonywanie szybkiej i precyzyjnej inspekcji 2D oraz tomografię komputerową CT, wspierając kontrolę jakości, badania R&D oraz inspekcję przemysłową.
Dwulampowy mikrotomograf rentgenowski V|tome|x S240 to wysokiej rozdzielczości system tomografii komputerowej CT. Możliwość zastosowań radiologicznych dla detali do 500 mm średnicy i wykrywalność szczegółów poniżej 1µm, świadczą o wysokiej uniwersalności systemu. Komponenty zostały dobrane w celu osiągnięcia wysokiej jakości danych i długotrwałej stabilności pracy. System doskonale sprawdza się przy inspekcji tworzyw sztucznych, próbek biologicznych, elementów wykonanych metodą addytywną, a także odlewów wykonanych ze stopów różnych metali.
Podwójny układ lamp – microfocus 240 kV zapewniający wysokie właściwości penetracyjne oraz opcjonalny nanofocus 180 kV, który pozwala na skanowanie z najwyższą rozdzielczością. Lampy zamontowane są w orientacji pionowej, która zapewnia szybkie automatyczne przezbrojenie i optymalne możliwości ich wykorzystania bez konieczności przestojów.
Detektory serii DXR gwarantują szybką akwizycję obrazów oraz wysoki kontrast. Dzięki temu proces skanowania możliwy jest do zrealizowanie w optymalnym czasie przy zachowaniu wysokiej jakości danych.
Technologia umożliwiająca dwukrotnie szybsze skanowanie lub uzyskanie dwukrotnie lepszej rozdzielczości przy skanowaniu tej samej próbki. Wyższe parametry mocy na tej samej rozdzielczości pozwalają na uzyskanie jakości danych nawet przy wymagających materiałach.
Kiedy wybrać:
Gdy chcesz wykorzystać przemysłowy CT zarówno do seryjnej, zautomatyzowanej kontroli produkcji, jak i do precyzyjnych pomiarów 3D zgodnych z VDI 2630.
Dlaczego warto?
Gdy dane z tomografii komputerowej są kluczowym źródłem informacji o jakości i niezawodności Twoich części.
System jest przeznaczony zarówno do badań naukowych (R&D), jak i kontroli produkcji. Idealnie nadaje się do inspekcji odlewów, tworzyw sztucznych, elektroniki, baterii czy komponentów wytwarzanych addytywnie.
Dzięki opcji Dual|tube i lampie nanofocus możliwe jest wykrywanie szczegółów o wielkości od 0,2 µm, co pozwala na analizę mikrostruktur w najmniejszych detalach.
Tak, dzięki funkcji Offset|CT i dużej komorze można umieścić w środku elementy o średnicy do 500 mm i wysokości do 700 mm, zachowując wysoką jakość obrazu.
Jest to skanowanie spiralne, które umożliwia obrazowanie długich części bez łączenia fragmentów skanu. Dzięki temu obrazy są wolne od artefaktów i cechują się lepszą jakością.
Tak, funkcja Click&measure|CT pozwala na pełną automatyzację procesu- od akwizycji danych po analizę wyników, co znacząco redukuje czas pracy i wpływ operatora.
Tak, system jest wyposażony w pełną ochronę radiologiczną i spełnia wymagania międzynarodowych standardów (m.in. ASTM, CFR, NFC).
Broszura informacyjna dwulampowego mikrotomografu rentgenowskiego phoenix v|tome|x s
Innowacje w dziedzinie CT
Kiedy wybrać:
Gdy szukasz systemu do skanowania małych próbek z najwyższą możliwą rozdzielczością.
Technika CT odgrywa coraz ważniejszą rolę w metrologii. Do niedawna kontrola jakości ograniczała się do pomiarów stykowych i optycznych, jednak w przypadku analizy niewidocznych geometrii czy struktury materiału konstruktorzy pozostawali bezradni. Dzięki wykorzystaniu tomografii komputerowej tego typu pomiary stały się możliwe. Wykonując nieniszczące badanie na jednym urządzeniu CT, można przeprowadzić kompleksowo szereg analiz metrologicznych, a tym samym zaoszczędzić czas oraz podnieść efektywność i jakość produkcji.
Czytaj
Zapytaj o produkt 
Zadzwoń 
