Kolejnet Working

28-29 stycznia, Bydgoskie Centrum Targowo-Wystawienniecze

Sprawdź szczegóły
search

Zadzwoń do nas

koszyk
koszyk
search
koszyk
koszyk
  1. Start
  2. > Oferta
  3. > Usługi pomiarowe
  4. > Pomiary grubości powłok
Laboratorium badania składu materiałowego i powłok

Pomiary grubości powłok

  • Pomiary powłok galwanicznych i lakierniczych od kilku nm do kilkudziesięciu µm.
  • Metody: spektrometr XRF, elektromagnetyczna i fototermiczna.
  • Analiza powłok jedno- i wielowarstwowych.

Dlaczego my?
Szesnaście urządzeń pomiarowych, szybki pomiar i realizacja w laboratorium lub u klienta.

Dział sprzedaży

Zainteresowała Cię ta usługa?

Zakres usług

Badanie grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej (XRF)

Badanie grubości powłok galwanicznych wykonujemy na spektrometrze FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD. Spektrometr umożliwia wykonywanie pomiarów grubości powłok galwanicznych już od kilku nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów w bardzo krótkim czasie.

Badanie grubości powłok miernikami przenośnymi

Nasze zaplecze sprzętowe umożliwia pomiary zarówno powłok jednowarstwowych jak i dwuwarstwowych (Farba/Cynk/Stal). Dzięki zastosowaniu metody optycznej – fototermicznej mamy możliwość badania powłok na tworzywach sztucznych i gumie oraz powłok klejowych i w stanie mokrym.

Analiza powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej

Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej wykorzystywana jest do badania grubości powłok, w szczególności jedno- i wielowarstwowych i bardzo cienkich. Pozwala na określenie grubości powłok na materiałach ferromagnetycznych i nieferromagnetycznych.
>25
Lat doświadczenia w badaniach materiałowych
0,1 µm
Najwyższa rozdzielczość pomiarowa dla cienkich powłok
100%
Nieniszczący charakter badania
2
Wykwalifikowanych pracowników działu

Masz pytania? Potrzebujesz pomocy?

Zobacz przykładowy raport pomiarowy

Pobierz przykładowy raport

Laboratorium badania składu materiałowego i powłok

Badanie grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej (XRF)

Badanie grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej (XRF)

Badania grubości powłok galwanicznych – aparatura i wydajność

Badanie grubości powłok galwanicznych wykonujemy na spektrometrze FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD. Urządzenie jest wyposażone w zmotoryzowany stolik pomiarowy, który umożliwia realizację dużej liczby pomiarów w krótkim czasie.

Zakres pomiarowy i możliwości analityczne

Badanie grubości powłok miernikami przenośnymi

Badanie grubości powłok miernikami przenośnymi

Badanie grubości powłok – mierniki ręczne

Oferujemy profesjonalne usługi pomiaru grubości powłok na podłożach metalowych, realizowane za pomocą zaawansowanych mierników ręcznych serii DMP firmy Fischer. Nasze rozwiązania pozwalają na precyzyjną, nieniszczącą kontrolę warstw ochronnych i dekoracyjnych bezpośrednio na gotowych detalach, konstrukcjach oraz elementach o skomplikowanych kształtach.

Dzięki zastosowaniu nowoczesnych, dedykowanych sond pomiarowych, zapewniamy najwyższą dokładność i powtarzalność wyników.

Zakres i realizacja

Zaawansowane metody pomiarowe – optyka i fototermia

Kontrola jakości i precyzja pomiaru

<span>Analiza powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej</span>

Analiza powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej

Zastosowanie spektrometrii fluorescencji rentgenowskiej

Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej (XRF) wykorzystywana jest do badania grubości powłok, w szczególności jedno- i wielowarstwowych oraz bardzo cienkich. Metoda umożliwia określanie grubości powłok nanoszonych zarówno na materiały ferromagnetyczne, jak i nieferromagnetyczne.

Zakres badanych powłok i układów warstwowych

Precyzja, nieniszczący charakter i realizacja badań w terenie

Dlaczego my?

Zaufanie
Doświadczenie
Najwyższa jakość
Indywidualne podejście
Mobilność

Najczęściej zadawane pytania

FAQ

Jakie metody stosujecie do badania grubości powłok?

Stosujemy kilka komplementarnych metod pomiarowych: mierniki ręczne (indukcja magnetyczna i prądy wirowe), metodę optyczno-fototermiczną oraz spektrometrię fluorescencji rentgenowskiej (XRF). Dobór metody zależy od rodzaju podłoża, typu powłoki oraz wymaganej dokładności.

Czy pomiary grubości powłok mogą być wykonywane u klienta?

Tak. Dysponujemy mobilnym zapleczem sprzętowym, które umożliwia wykonywanie pomiarów bezpośrednio u klienta, w warunkach produkcyjnych lub montażowych, bez konieczności transportu detali do laboratorium.

Jakie rodzaje powłok i podłoży można badać?

Badamy powłoki jedno-, dwu- i wielowarstwowe na podłożach ferromagnetycznych i nieferromagnetycznych, takich jak stal, żeliwo, aluminium, tytan, tworzywa sztuczne, guma czy ABS. Zakres obejmuje m.in. powłoki lakiernicze, cynkowe, anodowe, galwaniczne, klejowe oraz stopowe.

Czy możliwe są pomiary bardzo cienkich powłok oraz układów wielowarstwowych?

Tak. Spektrometr XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD umożliwia pomiary grubości powłok już od kilku nanometrów do kilkudziesięciu mikrometrów, a także jednoczesną analizę kilku warstw w układach wielowarstwowych bez niszczenia badanego obiektu.

Czy badania są nieniszczące i bezpieczne dla detalu?

Tak. Wszystkie stosowane przez nas metody są w pełni nieniszczące. Nawet w przypadku skomplikowanych układów wielowarstwowych możliwe jest określenie grubości każdej warstwy bez konieczności przecięcia lub uszkodzenia elementu.

Jakie dodatkowe informacje otrzymuje klient po wykonaniu pomiarów?

Wyniki pomiarów przekazujemy w formie czytelnych raportów zawierających pełną dokumentację pomiarową, w tym analizę statystyczną (wartości średnie, odchylenia standardowe). Raporty są zgodne z wymaganiami systemów kontroli jakości oraz norm ISO/ASTM.

Zapytaj o usługę

Zadzwoń do nas

+48 61 222 58 11
Skontaktuj się z nami, nasi eksperci pomogą dobrać usługę pod Twoje indywidualne potrzeby i przygotują ofertę.
Back to top